一种LED芯片测试机构的制作方法

技术特征：

1.一种LED芯片测试机构，包括支撑板(1)、转盘(2)、电源、驱动装置及2个探针(3)，所述的支撑板(1)上设有贯穿其上、下表面的通孔(11)，2个探针(3)分别电连接电源的正、负端并分别设置在通孔(11)内，驱动装置分别连接探针(3)并带动探针(3)在支撑板(1)的上、下表面做升降运动；转盘(2)上设置有用于容置LED灯珠(8)的容置孔(21)；其特征是，所述转盘(2)的底部设置有连接座(51)，连接座(51)上穿设有转轴(52)，转轴(52)固定连接有摆杆(53)，并套设有扭簧；所述支撑板(1)上安装有滑座(61)，所述滑座(61)水平穿设有刮板(62)，所述刮板(62)的一端朝向摆杆(53)，另一端朝向探针(3)；所述滑座(61)内设置有给予刮板(62)朝向摆杆(53)一个推力的驱动件；当探针(3)下降到极限位置时，所述探针(3)的上端面与刮板(62)的边缘齐平。

2.如权利要求1所述的一种LED芯片测试机构，其特征是，所述滑座(61)朝向摆杆(53)的一侧呈倾斜设置，所述刮板(62)朝向摆杆(53)的一侧同样设置有斜面(622)。

3.如权利要求1所述的一种LED芯片测试机构，其特征是，所述滑座(61)内设置有供刮板(62)穿过的通槽(611)，所述通槽(611)的侧壁上设置有第一限位座(612)，所述刮板(62)的侧壁上设置有第二限位座(621)；所述驱动件为弹簧(63)，所述弹簧(63)的两端分别与第一限位座(612)、第二限位座(621)抵触。

4.如权利要求3所述的一种LED芯片测试机构，其特征是，所述通孔(11)的开口处设置有用于防止第二限位座(621)脱离通孔(11)的锁环(7)，所述锁环(7)与通孔(11)螺纹连接。

5.如权利要求1所述的一种LED芯片测试机构，其特征是，2个探针(3)通过连接板( 4)固定在一起。