电路板测试装置及系统的制作方法

本公开涉及电路板检测领域，尤其涉及电路板测试装置及系统。

背景技术：

电路板在现今的工业控制方面、军事领域或家用电器产品上应用都十分广泛。然而随着电路板上元器件的微型化和高密度化，其呈现的故障也就越复杂化。为了提升电路板的可靠性，电路板的检测装置以及系统逐渐成为研究的热点领域，而如何高效、安全的测试电路板也成为了热点研究方向。

技术实现要素：

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供了一种电路板测试装置及系统，以延长测试件的使用寿命并提升电路板检测效率。

根据本公开的第一方面，提出一种电路板测试装置，用于测试待测电路板，包括固定架、测试件、驱动组件以及抵压组件；其中，所述测试件固定的组装在所述固定架上；所述抵压组件与所述固定架活动连接，所述驱动组件驱动所述抵压组件的至少一部分运动至与所述测试件对应的位置，并驱动所述抵压组件的至少一部分朝向所述测试件下压。

进一步地，所述驱动组件包括第一驱动件；所述抵压组件包括至少一侧板以及活动连接至所述侧板的压板，所述第一驱动件与所述压板配合，驱动所述压板朝向所述测试件下压。

进一步地，所述驱动组件包括第二驱动件；所述第二驱动件与所述侧板配合以驱动所述抵压组件运动至与所述测试件对应的位置。

进一步地，所述测试件与所述固定架之间为可拆连接。

进一步地，所述固定架上设有定位柱，所述测试件上设有定位孔，所述定位柱组装在所述定位孔中以固定所述测试件。

进一步地，所述测试件上设有测试针和安装部，所述安装部用以安装所述待测电路板，所述待测电路板能够相对于所述测试件移动以与所述测试针接触或分离。

进一步地，所述电路板测试装置还包括转接模组，所述转接模组与所述测试件连通以传输测试信号。

根据本公开的第二方面，提出一种电路板测试系统，待测电路板以及上述电路板测试装置。

进一步地，该电路板测试系统还包括插拔端子模组，所述插拔端子模组设有第一接口，所述待测电路板设有第二接口，所述第一接口能够与所述第二接口插接配合以导通。

进一步地，所述固定架包括至少一个组装件，所述插拔端子模组与所述组装件滑动配合，以使所述第一接口匹配不同尺寸待测电路板的第二接口。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开通过为电路板测试装置设置抵压组件及驱动组件，以使抵压组件可以通过驱动组件朝向固定的测试件运动并实施抵压。上述结构设置避免了测试件因往复运动而产生的寿命损耗且提升了电路板测试装置的工作效率。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1为相关技术中一种电路板测试装置的结构示意图；

图2是本公开一示例性实施例中一种电路板测试装置的结构示意图；

图3是本公开一示例性实施例中一种电路板测试系统的结构示意图。

附图标记：

A：电路板测试装置；A1：压板组件；A2：机架；A3：测试盒；

1：电路板测试装置；

11：固定架；111：定位柱；

12：测试件；121：定位孔；122：测试针；123：安装部；

13：驱动组件；131：第一驱动件；132：第二驱动件；

14：抵压组件：141：压板；142：侧板；

15：转接模组；

2：电路板测试系统；

21：插拔端子模组；211：第一接口；

22：待测电路板；221：第二接口；

23：组装件；

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

如图1为相关技术中一种电路板测试装置A的结构示意图。如图1所示，该电路板测试装置A包括压板组件A1、机架A2以及测试盒A3。其中测试盒A3与机架A2滑动连接，测试盒A3滑动至于所述压板组件A1对应的位置，压板组件A1下压以使位于测试盒A3上的电路板的测试点与测试盒A3上的金针配合，进而完成测试。测试盒A3在往复运动以与压板组件A1的位置对应的过程中会降低测试的使用寿命。

为解决上述技术问题，本公开对电路板测试装置的结构进行改进，现描述如下：

图2是本公开一示例性实施例中一种电路板测试装置的结构示意图。如图2所示，该电路板测试装置1用于测试待测电路板，包括固定架11、测试件12、驱动组件13以及抵压组件14。其中，所述测试件12固定的组装在所述固定架11上。所述抵压组件14与所述固定架11活动连接，所述驱动组件13驱动所述抵压组件14的至少一部分运动至与所述测试件12对应的位置，并驱动所述抵压组件14的至少一部分朝向所述测试件12下压。

本公开通过为电路板测试装置1设置抵压组件14及驱动组件13，以使抵压组件可以通过驱动组件13朝向固定的测试件12运动并实施抵压。上述结构设置避免了测试件12因往复运动而产生的寿命损耗且提升了电路板测试装置1的工作效率。

在上述实施例中，所述驱动组件13可以包括第一驱动件131和第二驱动件132。所述抵压组件14包括至少一侧板142以及活动连接至所述侧板142的压板141，所述第一驱动件131与所述压板141配合，驱动所述压板141朝向所述测试件12下压。所述第二驱动件132与所述侧板142配合以驱动所述抵压组件14运动至与所述测试件12对应的位置。需要说明的是，所述第一驱动件131可以包括下压气缸，所述第二驱动件132可以包括无杆气缸，采用气缸为电路板测试装置1提供驱动力可以降低成本。或者，第一驱动件131、第二驱动件132也可以包括驱动电机，本公开并不对驱动机构的种类进行限制。

在图2所示实施例中，所述电路板测试装置1还包括转接模组15，所述转接模组15与所述测试件12连通以传输测试信号。外部信号发生器等设备通过上述转接模组15的连接即可进行测试，解决了多个测试连接端带来的操作复杂的问题，同样可以提高电路板测试装置1的工作效率。

在一实施例中，所述测试件12可拆的组装在所述固定架11上。测试件12与所述固定架11可分离，因此便于固定架11适配不同类型的测试件12，提升了电路板测试装置1的兼容性，同时也避免了以固定架11的更换来适配不同电路板带来的成本支出和空间占用。

在上述实施例中，所述固定架11上可以设有定位柱111，所述测试件12上设有定位孔121，所述定位柱111组装在所述定位孔121中以固定所述测试件12。所述测试件12上设有测试针122和安装部123，所述安装部123用以安装所述待测电路板，所述待测电路板能够相对于所述测试件12移动以与所述测试针122接触或分离。

本公开还提出一种电路板测试系统，如图3所示，该电路板测试系统2包括待测电路板22、插拔端子模组21以及上述电路板测试装置1。所述插拔端子模组21设有第一接口211，所述待测电路板22设有第二接口221，所述第一接口211能够与所述第二接口221插接配合以导通。上述结构设置可以用于检测待测电路板22对应插拔端子模组21的对应功能。

在上述实施例中，所述电路板测试装置1的固定架包括至少一个组装件23，所述插拔端子模组21与所述组装件23滑动配合，以使所述第一接口211匹配不同尺寸待测电路板22的第二接口221。插拔端子模组21可以相对于所述组装件23滑动，因此可以兼容不同电路板的不同测试项，组装方便且增强了电路板检测装置的兼容性和设备互换性。需要说明的是，所述组装件23可以包括两个，分布在待测电路板22的横纵两个方向，以匹配于待测电路板22不同位置的第二接口221。此外，可以采用一个气缸为一个方向的插拔端子模组21提供插拔动力，以降低测试架的制作成本。

在图3所示实施例中，所述电路板测试系统2还可以包括用于取放待测电路板22的机械手(未标注)，以实现自动放板、取板。机械手配合上述电路板测试装置1可以进一步提升电路板测试系统2的自动化程度以及工作效率，同时减少了人工成本和安全隐患。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的技术方案后，将容易想到本公开的其它实施方案。本公开旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开中未公开的本技术领域的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。