技术总结
本实用新型涉及一种NE555芯片故障检测装置，属于故障检测技术领域。本实用新型包括多谐振荡器、基准电压、比较器Ⅰ、比较器Ⅱ、绿灯、红灯；比较器Ⅰ正输入端与多谐振荡器连接，比较器Ⅰ负输入端与基准电压连接，比较器Ⅰ输出端与绿灯连接，比较器Ⅱ正输入端与基准电压连接，比较器Ⅱ负输入端与多谐振荡器连接，比较器Ⅱ输出端与红灯连接，多谐振荡器与所检测NE555芯片连接。本实用新型检测装置高效直观，只需要看灯的颜色；检测装置结构简单，易于生产；检测装置成本低廉，易于推广应用。
技术研发人员：邱革非;白春涛;肖妮;龚泽威一
受保护的技术使用者：昆明理工大学
技术研发日：2017.11.28
技术公布日：2018.07.06