技术总结
本实用新型公开了一种PCB板外观检测系统的光学检查设备，包括上料平台机构、上料抓取移送机构、扫描机构、下料抓取移送机构以及下料平台机构，上料平台机构用于放置PCB板，上料抓取移送机构用于自上料平台机构抓取PCB板并移送至扫描机构的扫描平台上，扫描机构的相机用于获取其扫描平台上的PCB板图像并获取PCB板瑕疵位置，下料抓取移送机构用于自扫描机构的扫描平台抓取PCB板并移送至下料平台机构上，下料平台机构用于放置PCB板。本实用新型公开的PCB板外观检测系统的光学检查设备，通过光学检查的方法获得PCB板的瑕疵位置并上传到图像处理分析主机，使得后续的激光刻印得以实现。
技术研发人员：付满仓;沈乐
受保护的技术使用者：苏州信立盛电子有限公司
技术研发日：2017.12.22
技术公布日：2018.10.19