技术特征：
技术总结
本发明公开了一种新颖的XRF分析仪，其能够通过调制/改变不同物体上的激发射束的强度并测量其二次辐射来同时识别多个物体中是否存在标记成分。该XRF分析仪包括：辐射发射器组件，其被配置成发射用于同时照射所述多个物体的具有空间强度分布的至少一个X射线或Gamma射线激发辐射束；辐射检测器，其用于检测响应于通过X射线或Gamma射线辐射照射多个物体而来自所述物体的二次辐射X射线信号，并提供表示所检测到的数据X射线信号在所述多个物体上的空间强度分布的数据；以及与检测器通信的信号读取处理器，该处理器被配置成接收并处理所检测到的响应X射线信号，以检验所述多个物体中的每一个物体的至少一个表面上是否存在所述标记成分。
技术研发人员：Y·格罗夫;T·吉斯列夫;N·佑兰;H·阿龙;M·卡普林斯基
受保护的技术使用者：索雷克核研究中心;安全事业有限公司
技术研发日：2017.06.21
技术公布日：2019.06.04