1.一种测试电路,其特征在于,包括供电芯片及时序控制电路,其中
所述供电芯片,输出测试所需电压;
所述时序控制电路,对所述供电芯片输出的电压进行检测,并按照预设时序对待测试的芯片输出测试所需电压。
2.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述时序控制电路包括模数转换电路、控制电路及输出电路;其中,
所述模数转换电路,将供电芯片输出的模拟电压转换为数字电压;
所述控制电路对数字电压进行处理,控制所述输出电路按照预设时序输出测试所需电压。
3.如权利要求2所述的测试电路,其特征在于,所述控制电路包括控制芯片、锁存器及晶振;所述锁存器及晶振均与所述控制芯片连接;所述控制芯片分别与所述数据转换电路及输出电路连接。
4.如权利要求3所述的测试电路,其特征在于,所述控制芯片采用的型号为8051单片机。
5.如权利要求3所述的测试电路,其特征在于,所述锁存器采用的型号为74LS372。
6.如权利要求2所述的测试电路,其特征在于,所述模数转换电路包括模数转换芯片及电平转换单元;所述模数转换芯片经所述电平转换单元与所述控制电路连接。
7.如权利要求2所述的测试电路,其特征在于,所述电平转换单元包括第一与非门、第二与非门及非门;
所述模数转换芯片包括转换结束端、正电压参考端、负电压参考端、电源端、使能端及启动端;
所述正电压参考端、电源端均与电源连接;所述负电压参考端接地;
所述第一与非门的第一输入端及第二端输入端均与控制电路连接,第一与非门的第二端与所述模数转换芯片转换结束端连接;
所述第二与非门的第一输入端及第二端输入端均与控制电路连接,第二与非门的的输出端与所述模数转换芯片的使能端连接;
所述非门的输入端与所述控制电路连接,所述非门的输出端与模数转换芯片的启动端连接。
8.一种测试电源,其特征在于,所述电源包括测试电路;所述测试电路包括供电芯片及时序控制电路,其中
所述供电芯片,输出测试所需电压;
所述时序控制电路,对所述供电芯片输出的电压进行检测,并按照预设时序对待测试的芯片输出测试所需电压。
9.如权利要求8所述的测试电源,其特征在于,所述时序控制电路包括模数转换电路、控制电路及输出电路;其中,
所述模数转换电路,将供电芯片输出的模拟电压转换为数字电压;
所述控制电路对数字电压进行处理,控制所述输出电路按照预设时序输出测试所需电压。
10.如权利要求9所述的测试电源,其特征在于,所述控制电路包括控制芯片、锁存器及晶振;所述锁存器及晶振均与所述控制芯片连接。