本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试电路。
背景技术：
在工厂中，某一电子产品生产完之后，需要对电子产品的性能参数进行测试，以减少残次品，提高出厂电子产品的质量。电子产品需要测试的性能参数一般包括输入电压、工作电流等。在测试的过程中，当待测的电子产品输入测试电压后，该电子产品有可能会产生过流的情况，如果长时间过流会对电子产品造成损坏。
技术实现要素：
本发明旨在解决上述问题/之一。
本发明的主要目的在于提供一种测试电路
为达到上述目的，本发明的技术方案具体是这样实现的：
本发明一方面提供了一种测试电路，包括第一电源模块、压降模块、参考电压调节模块、电压比较模块、第二稳压模块、控制模块和通断模块，其中，第一电源模块，用于提供电源；压降模块，包括第一端和第二端，其中，第一端与第一电源模块电连接；参考电压调节模块，用于通过参考电压输出端输出可调节的参考电压；第二稳压模块，包括电压输入端和稳压输出端，其中，所述电压输入端与所述压降模块的第二端电连接；电压比较模块，包括第一输入端、第二输入端和比对结果输出端，其中，第一输入端与压降模块的第二端电连接，第二输入端与参考电压输出端电连接；控制模块，包括触发信号输入端和第一控制信号输出端，其中，触发信号输入端与比较结果输出端电连接；控制模块，用于通过第一控制信号输出端向通断模块发送导通控制信号，还用于在触发信号输入端接收到触发信号后，通过第一控制信号输出端向通断模块发送断开控制信号；通断模块，包括第一连接端、第二连接端和信号接收端，其中，信号接收端与控制模块的第一控制信号输出端电连接，第一连接端与第二稳压模块的稳压输出端电连接，第二连接端与待测电子设备电连接；在信号接收端接收到导通控制信号后，第一连接端与第二连接端导通；在信号接收端接收到断开控制信号后，第一连接端与第二连接端的通路断开。
另外，参考电压调节模块，包括第二电源模块、第一基准电压模块、第一稳压模块和第一可变电阻模块，其中，第一基准电压模块，包括第一电源输入端和第一基准电压输出端，其中，第一电源输入端与第二电源模块电连接，第一基准电压输出端输出电压值固定的第一基准电压；第一稳压模块，包括第一参考电位端、可调端和参考电压输出端，其中，第一参考电位端与第一基准电压输出端电连接，用于接收第一基准电压，可调端与第一参考电位端之间的电压差为一固定值；第一可变电阻模块，包括第一固定端、第二固定端和第一滑动端，其中，第一固定端与参考电压输出端电连接，第二固定端与第一参考电位端电连接，第一滑动端与可调端电连接；第一滑动端与第一固定端之间的电阻可调。
另外，参考电压调节模块还包括第一电阻和第二电阻，其中，第一固定端与参考电压输出端电连接，包括：第一固定端与第一电阻的一端电连接，第一电阻的另一端与参考电压输出端电连接；第二固定端与第一参考电位端电连接，包括：第二固定端与第二电阻的一端电连接，第二电阻的另一端与第一基准电压输入端电连接。
另外，测试电路还包括第一电压调节模块，其中，第一电压调节模块包括可调电压输出端，可调电压输出端与第二参考电位端电连接。
另外，第一电压调节模块还包括第三电源模块、第四电源模块、第二基准电压模块、第三基准电压模块、第二可变电阻模块和第三稳压模块；其中，第二基准电压模块，包括第二电源输入端和第二基准电压输出端，其中，第二电源输入端与第三电源模块电连接，第二基准电压输出端输出电压值固定的第二基准电压；第三基准电压模块，包括第三电源输入端和第三基准电压输出端，其中，第三电源输入端与第四电源模块电连接，第三基准电压输出端输出电压值固定的第三基准电压；第二可变电阻模块，包括第三固定端、第四固定端和第二滑动端，其中，第三固定端与第二基准电压输出端电连接，第四固定端与第三基准电压输出端电连接，第二滑动端与第四固定端之间的电阻可调；第三稳压模块，包括第三参考电位端和可调电压输出端，其中，第三参考电位端与第二滑动端电连接。
另外，第一电压调节模块还包括第三电阻和第四电阻；第三固定端与第二基准电压输出端电连接，包括：第三固定端与第三电阻的一端电连接，第三电阻的另一端与第二基准电压输出端电连接；第四固定端与第三基准电压输出端电连接，包括：第四固定端与第四电阻的一端电连接，第四电阻的另一端与第三基准电压输出端电连接。
另外，控制模块还包括第二控制信号输出端；电路还包括放电模块，其中，放电模块包括放电控制信号输入端、待放电信号输入端和接地端，放电控制信号输入端与第二控制信号输出端电连接，待放电信号输入端与第二连接端电连接，接地端接地；待放电信号输入端，用于在放电控制信号输入端接收到放电控制信号后，与接地端导通。
由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明提供了一种测试电路，通过该测试电路对待测电子设备进行测试时，一方面可以在待测电子设备的输入电流大于标称的最大输入电流时断开对待测电子设备的供电通路，防止待测电子设备发生过流现象，造成待测电子设备的损坏；另一方面由于参考电压调节模块输出的参考电压是可调节的，因此可以对标称不同最大输入电流的待测电子设备进行测试，扩大了该测试电路的应用范围；另外，由于第一电压调节模块的输出电压可以调节，则输入第二稳压模块的参考电位端的电压是可以调节的，即第二稳压模块可以为待测电子设备提供不同的供电电压，以便测试待测电子设备在不同供电电压下是否可以正常工作。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。
图1为本发明实施例1提供的测试电路的结构示意图；
图2为本发明实施例1提供的测试电路的另一种结构示意图；
图3为本发明实施例1提供的参考电压调节模块的一种结构示意图；
图4为本发明实施例1提供的参考电压调节模块的另一种结构示意图；
图5为本发明实施例1提供的第一电压调节模块的一种结构示意图；
图6为本发明实施例1提供的第一电压调节模块的另一种结构示意图。
具体实施方式
下面结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或数量或位置。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面将结合附图对本发明实施例作进一步地详细描述。
实施例1
本实施例提供一种测试电路，如图1所示，包括第一电源模块、压降模块、参考电压调节模块、电压比较模块、第二稳压模块、控制模块和通断模块，其中，第一电源模块，用于提供电源；压降模块，包括第一端和第二端，其中，第一端与第一电源模块电连接；第二稳压模块，包括电压输入端和稳压输出端，其中，所述电压输入端与所述压降模块的第二端电连接；参考电压调节模块，用于通过参考电压输出端输出可调节的参考电压；电压比较模块，包括第一输入端、第二输入端和比对结果输出端，其中，第一输入端与压降模块的第二端电连接，第二输入端与参考电压输出端电连接；控制模块，包括触发信号输入端和第一控制信号输出端，其中，触发信号输入端与比较结果输出端电连接；控制模块，用于通过第一控制信号输出端向通断模块发送导通控制信号，还用于在触发信号输入端接收到触发信号后，通过第一控制信号输出端向通断模块发送断开控制信号；通断模块，包括第一连接端、第二连接端和信号接收端，其中，信号接收端与控制模块的第一控制信号输出端电连接，第一连接端与第二稳压模块的稳压输出端电连接，第二连接端与待测电子设备电连接；在信号接收端接收到导通控制信号后，第一连接端与第二连接端导通；在信号接收端接收到断开控制信号后，第一连接端与第二连接端的通路断开。
在本实施例中，压降模块为电阻值确定的器件，例如，电阻或其它可以分压的器件。为方便说明，压降模块的电阻值记为r，具体电阻值的大小不做限定。
在本实施例中，通断模块可以包括一个或多个物理开关，也可以包括一个或多个虚拟开关，还可以包括有一个或多个其他通断器件，还可以是上述三种的任意组合，本实施例不做具体限定。
在本实施例中，测试电路上电后，控制模块的第一控制信号输出端输出导通控制信号，通断模块接收到导通控制信号后，通断模块的第一连接端与第二连接端导通。通断模块的第一连接端和第二连接端导通后，第一电源模块可为压降模块、第二稳压模块、通断模块和待测电子设备供电。为方便说明，第一电源模块的电压记为uc，具体电压值不做限定，只要能够为待测电子设备提供标称电压范围内的电压即可。
在本实施例中，第二稳压模块用于为待测电子设备提供稳定的输入电压，以防止待测电子设备接入测试电路后，待测电子设备的实际输入电压不在待测电子设备的额定输入电压范围内，造成待测电子设备的损坏，还可以减少输入电压对电流检测的影响。
本实施例中，待测电子设备接入测试电路后，由于待测电子设备在生产时可能会存在残次品则在第一电源模块、压降模块、第二稳压模块、通断模块和待测电子设备这个回路中的实际工作电流可能会大于待测电子设备标称的最大输入电流imax，产生过流现象。
在本实施例中，在对待测电子设备进行测试时，参考电压调节模块输出的参考电压vref设置为uc-imax*r，具体可根据待测电子设备的标称最大输入电流imax设置。
在本实施例中，电压比较模块的第一输入端为反相输入端，第二输入端为同相输入端。一旦待测电子设备的实际输入电流大于标称的最大输入电流，也即待测电子设备过流时，电压比较模块的反相输入端输入的电压小于同相输入端输入的参考电压，电压比较模块的比对结果输出端输出高电平信号。控制模块的触发信号输入端接收的触发信号为高电平信号，触发信号输入端接收到高电平信号后，第一控制信号输出端输出断开控制信号。通断模块接收到断开控制信号后，通断模块的第一连接端与第二连接端的通路断开。可以看出，本实施例中的测试电路在待测电子设备的实际工作电流大于标称的最大输入电流后，断开对待测电子设备的供电通路，实现了对待测电子设备的保护，防止造成待测电子设备的损坏。
作为本实施例的一种可选实施方式，控制模块可通过控制芯片实现，触发信号输入端为控制芯片的一个输入端口，第一控制信号输出端为控制芯片的一个输出端口。在进行测试时，控制芯片上电后，控制芯片查询触发信号输入端是否接收到高电平信号，如果没有接收到高电平信号，则通过第一信号输出端向通断模块发送导通控制信号；如果控制芯片查询到触发信号输入端接收到高电平信号，则通过第一信号输出端向通断模块发送断开控制信号。
在本可选实施方案中，控制模块还包括第二控制信号输出端，第二控制信号输出端与放电模块电连接。具体应用中，第二控制信号输出端为控制芯片的一个输出端口，用于在待测电子设备过流时或者测试结束后，第二控制信号输出端向放电模块发送放电控制信号。
作为本实施例的另一种可选实施方式，控制模块也可通过控制芯片和ne555芯片实现，其中，控制芯片包括第一控制端，第一控制端与ne555的低电平触发端(2脚)电连接；ne555的高电平触发端(6脚)与电压比较模块的比较结果输出端电连接，ne555的输出端(3脚)作为第一控制信号输出端与通断模块的信号接收端电连接。控制芯片上电后，控制芯片的第一控制端输出高电平信号，即ne555的低电平触发端(2脚)接收到高电平信号，如果不过流，则ne555的输出端(3脚)输出高电平信号，即控制模块通过第一控制信号输出端向通断模块发送高电平信号作为导通控制信号，通断模块的第一连接端与第二连接端导通；如果过流，则ne555的高电平触发端(6脚)接收到高电平信号，则ne555的输出端(3脚)输出低电平信号，即控制模块通过第一控制信号输出端向通断模块发送低电平信号作为断开控制信号，通断模块的第一连接端与第二连接端断开。
在本可选实施方式中，当导通控制信号为高电平信号，断开控制信号为低电平信号时，通断模块可以为nmos管，nmos管的漏极(d极)作为第一连接端，nmos管的源极(s极)作为第二连接端，nmos管的栅极(g极)作为信号输入端。nmos管中作为信号输入端的栅极(g极)接收到ne555输出端(3脚)发送的高电平信号后，作为第一连接端的漏极(d极)和第二连接端的源极(s极)导通。nmos管中作为信号输入端的栅极(g极)接收到ne555的输出端发送的低电平信号后，作为第一连接端的漏极(d极)和第二连接端的源极(s极)断开。需要说明的是，触发nmos管导通的高电平信号的电压ug要满足如下条件：ug-us>0，且|ug-us|>|ugs(th)|，其中，ugs(th)是开启电压；
在本可选实施方式中，控制芯片还包括第二控制端，第二控制端与ne555的复位端(4脚)电连接。具体应用中，当测试结束后，测试人员通过开关控制第二控制端输出低电平信号，ne555的复位端(4脚)接收到控制芯片发送的低电平信号后，ne555的输出端(3脚)输出低电平信号，即控制模块通过第一控制信号输出端向通断模块发送低电平信号作为断开控制信号，通断模块的第一连接端与第二连接端断开。
在本可选实施方案中，控制模块除了包括控制芯片、ne555芯片外，还包括放电控制模块，其中，放电控制模块包括第一信号端、第二信号端和第二控制信号输出端，第一信号端与第一控制端电连接，第二信号端与第二控制端电连接，第二控制信号输出端与放电模块电连接。具体应用中，当待测电子设备过流时或者测试结束后，第二控制信号输出端向放电模块发送放电控制信号。
作为本实施例的一种可选实施方式，如图2所示，测试电路还包括放电模块，其中，所述放电模块包括放电控制信号输入端、待放电信号输入端和接地端，所述放电控制信号输入端与所述第二控制信号输出端电连接，所述待放电信号输入端与所述第二连接端电连接，所述接地端接地；所述待放电信号输入端，用于在所述放电控制信号输入端接收到放电控制信号后，与所述接地端导通。具体应用中，放电模块接收到控制模块的第二控制信号输出端发送的放电控制信号后，对待测电子设备进行放电，以防止残余电流对电子设备造成损坏。
在本可选实施方式中，放电模块可通过开关模块实现，例如三极管、mos管，可控开关等，本实施例不做具体限定，只要放电控制信号输入端接收到放电控制信号后，待放电信号输入端可以与接地端导通均在本发明的保护范围之内。
作为本实施例的一种可选实施方式，如图2所示，参考电压调节模块，包括第二电源模块、第一基准电压模块、第一稳压模块和第一可变电阻模块，其中，第一基准电压模块，包括第一电源输入端和第一基准电压输出端，其中，第一电源输入端与第二电源模块电连接，第一基准电压输出端输出电压值固定的第一基准电压；第一稳压模块，包括第一参考电位端、可调端和参考电压输出端，其中，第一参考电位端与第一基准电压输出端电连接，用于接收第一基准电压，可调端与第一参考电位端之间的电压差为一固定值；第一可变电阻模块，包括第一固定端、第二固定端和第一滑动端，其中，第一固定端与参考电压输出端电连接，第二固定端与第一参考电位端电连接，第一滑动端与可调端电连接；第一滑动端与第一固定端之间的电阻可调。
在本可选实施方案中，第一固定端为高电阻端，第二固定端为低电阻端；或者，第一固定端为低电阻端，第二固定端为高电阻端。也就是说，可调端和第一参考电位端之间的电阻可以是第一滑动端与低电阻端之间的阻值，或者是第一滑动端与高电阻端之间的阻值，本实施例不做具体限定。
在本可选实施方案中，第一可变电阻模块可以为滑动变阻器，也可以是机械电位器或数字电位器，本实施例不做具体限定。作为一种优选的实施方式，第一可变电阻模块为数字电位器，数字电位器可以通过数控方式调节电阻值，调节精度高。
在本可选实施方案中，第一可变电阻模块的标称最大阻值记为rmax1，也即第一固定端与第二固定端之间的电阻为rmax1，第一滑动端与第一固定端之间的电阻值rw1是可调的，具体可通过如下方式之一调节：
方式一：当第一可变电阻模块为机械电位器时，第一滑动端沿电阻体滑动可改变第一滑动端与第一固定端之间的电阻值；
方式二：当第一可变电阻模块为数字电位器时，可通过数控方式调节第一滑动端与第一固定端之间的电阻值。
在本可选实施方案中，可调端与第一参考电位端之间的电压差uf为一固定值，例如，第一稳压模块由ncp3335实现时，可调端与第一参考电位端之间的电位差uf为1.25v。第一基准电压模块输出的电压ur1接入第一稳压模块的第一参考电位端，用以抬高第一稳压模块输出的电压值。
在本可选实施方案中，由于可调端与第一参考电位端之间的电位差是固定的，且可调端与第一参考电位端之间的电阻是可调节的，则第一可变电阻模块上的电流随着可调端与第一参考电位端之间的电阻变化而变化，参考电压输出端输出的电压也随之变化。
在本实施例中，由于参考电压调节模块输出的参考电压vref可通过调节第一可变电阻模块与第一固定端之间的电阻而进行调节，因此可以对标称不同最大输入电流的待测电子设备进行测试，扩大了该测试电路的应用范围。
作为本实施例的一种优选实施方式，参考电压调节模块还包括第一电阻和第二电阻；第一固定端与参考电压输出端电连接，包括：第一固定端与第一电阻的一端电连接，第一电阻的另一端与参考电压输出端电连接；第二固定端与第一参考电位端电连接，包括：第二固定端与第二电阻的一端电连接，第二电阻的另一端与第一参考电位端电连接。
在本优选实施方案中，如图3所示，第一固定端通过第一电阻r1与第一稳压模块的参考电压输出端连接，第二固定端通过第二电阻r2与第一稳压模块的参考电位端连接。通过设置第一电阻和第二电阻，可以防止第一可变电阻模块的实际工作电流过大，造成器件损坏。
在该优选的实施方式中，
在具体设计电路时，假设待测的不同批次的电子设备的标称最大输入电流imax的范围为i1～i2，则为保证可以对最大输入电流标称在该范围内的所有电子设备进行测试，参考电压vref可调节的范围为至少要保证在(uc-i2*r)～(uc-i1*r)之间，也即需要保证：
可以看出，在实际设计电路的过程中，通过改变第一基准电压模块输出的第一基准电压ur1，第一电阻r1、第二电阻r2，以及标称最大阻值不同的第一可变电阻模块rmax1均可以改变参考电压调节模块实际可调节的电压范围。在参考电压调节模块实际可调节的电压范围固定的情况下，通过调节第一可变电阻模块的第一滑动端与第一固定端之间的电阻rw1可以改变参考电压调节模块实际输出的参考电压vref，由于参考电压调节模块输出的参考电压vref是可调节的，因此可以检测标称最大输入电流不同的待测电子设备是否过流，扩大了该测试电路的应用范围。
作为本实施例的一种可选实施方式，如图4所示，测试电路还包括第一电压调节模块，其中，第一电压调节模块包括可调电压输出端；第二稳压模块还包括第二参考电位端，第二参考电位端与可调电压输出端电连接。具体应用中，由于第一电压调节模块通过可调电压输出端输出的电压可调节，且第一电压调节模块的可调电压输出端与第二稳压模块的第二参考电位端电连接，则第一电压调节模块输出的电压值可以抬高第二稳压模块的稳压输出端输出的电压值，也即第二稳压模块的稳压输出端输出的电压值会随着第一电压调节模块输出的电压值变化而变化。在测试的过程中，通过第一电压调节模块调节稳压输出端输出的电压值，可以调节对待测电子设备的供电电压，以便测试在待测电子设备在某一输入电压范围内是否能正常工作。
作为本实施例的一种可选实施方式，如图5所示，第一电压调节模块包括第三电源模块、第四电源模块、第二基准电压模块、第三基准电压模块、第二可变电阻模块和第三稳压模块；其中，第二基准电压模块，包括第二电源输入端和第二基准电压输出端，其中，第二电源输入端与第三电源模块电连接，第二基准电压输出端输出电压值固定的第二基准电压；第三基准电压模块，包括第三电源输入端和第三基准电压输出端，其中，第三电源输入端与第四电源模块电连接，第三基准电压输出端输出电压值固定的第三基准电压；第二可变电阻模块，包括第三固定端、第四固定端和第二滑动端，其中，第三固定端与第二基准电压输出端电连接，第四固定端与第三基准电压输出端电连接，第二滑动端与所述第四固定端之间的电阻可调；第三稳压模块，包括第三参考电位端和可调电压输出端，其中，第三参考电位端与第二滑动端电连接。在本可选实施方案中，通过调节第二可变电阻模块的第二滑动端，可以调节第一电压调节模块输出的电压值。
在本可选实施方案中，第三固定端为第二可变电阻模块的高电阻端，第四固定端为第二可变电阻模块的低电阻端；或者，第三固定端为第二可变电阻模块的低电阻端，第四固定端为第二可变电阻模块的高电阻端,本实施例不做具体限定。
在本可选实施方案中，第二可变电阻模块可以为滑动变阻器，也可以是机械电位器或数字电位器，本实施例不做具体限定。作为一种优选的实施方式，第二可变电阻模块为数字电位器，数字电位器可以通过数控方式调节电阻值，调节精度高。
在本可选实施方案中，第二滑动端与第四固定端之间的电阻值rw2是可调的，具体可通过如下方式之一调节：
方式一：当第二可变电阻模块为机械电位器时，第二滑动端沿电阻体滑动可改变第二滑动端与第四固定端之间的电阻值；
方式二：当第二可变电阻模块为数字电位器时，可通过数控方式调节第二滑动端与第四固定端之间的电阻值。
在本可选实施方案中，下面仅以第三固定端为高电阻端，第四固定端为低电阻端为例进行说明，为方便说明，第二基准电压模块输出的第二基准电压记为ur2，第三基准电压模块输出的第三基准电压记为ur3，则第二基准电压输出端与第三基准电压输出端之间的电压差为ur2-ur3，第二可变电阻模块的标称最大阻值记为rmax2，当第二滑动端与第四固定端之间的电阻记为rw2时，则第二滑动端输出的电压为
在本可选实施方案中，第一电压调节模块还包括第三电阻和第四电阻；第三固定端与第二基准电压输出端电连接，包括：第三固定端与第三电阻的一端电连接，第三电阻的另一端与第二基准电压输出端电连接；第四固定端与第三基准电压输出端电连接，包括：第四固定端与第四电阻的一端电连接，第四电阻的另一端与第三基准电压输出端电连接。
具体应用中，如图6所示，第三固定端通过第三电阻与第二基准电压输出端连接，第四固定端通过第四电阻与第三基准电压输出端连接。为方便说明，第三电阻设置为r3，第四电阻设置为r4，则第二滑动端输出的电压值为
在本可选实施方案中，第三稳压模块可通过稳压芯片(例如ap2210)实现，也可通过稳压电路实现，本实施例不做具体限定。
本实施例提供一种测试电路，通过该测试电路对待测电子设备进行测试时，一方面可以在待测电子设备的输入电流大于标称的最大输入电流时断开对待测电子设备的供电通路，防止待测电子设备发生过流现象，造成待测电子设备的损坏；另一方面由于参考电压调节模块输出的参考电压是可调节的，因此可以对标称不同最大输入电流的待测电子设备进行测试，扩大了该测试电路的应用范围；另外，由于输入第二稳压模块的参考电位端的电压是可以调节的，则第二稳压模块可以为待测电子设备提供不同的供电电压，以便测试待测电子设备在不同供电电压下是否可以正常工作。
实施例2
与实施例1中不同的是，本实施例中的电压比较模块的第一输入端为同相输入端，第二输入端为反相输入端，一旦待测电子设备的实际输入电流大于标称的最大输入电流，也即待测电子设备过流时，电压比较模块的同相输入端输入的电压小于反相输入端输入的参考电压，电压比较模块的比对结果输出端输出低电平信号。控制模块的触发信号输入端接收的触发信号为低电平信号，触发信号输入端接收到低电平信号后，第一控制信号输出端输出断开控制信号。通断模块接收到断开控制信号后，通断模块的第一连接端与第二连接端的通路断开。
另外，实施例1中控制模块可通过控制芯片实现，也可通过控制芯片和ne555共同实现，与实施例1不同的是，本实施例中的控制模块通过控制芯片实现，当控制模块通过控制芯片实现时，触发信号输入端为控制芯片的一个输入端口，第一控制信号输出端为控制芯片的一个输出端口，在进行测试时，控制芯片上电后，控制芯片查询触发信号输入端是否接收到低电平信号，如果没有接收到低电平信号，则通过第一信号输出端向通断模块发送导通控制信号；如果控制芯片查询到触发信号输入端接收到低电平信号，则通过第一信号输出端向通断模块发送断开控制信号。
其它未尽事宜与实施例1中相同，本实施例不再赘述。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(pga)，现场可编程门阵列(fpga)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。本发明的范围由所附权利要求及其等同限定。