本发明属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板及其检测方法、显示装置。
背景技术：
如图1所示，在现有技术中提供了一种具有多个呈阵列排布的被动式像素检测电路的显示面板。其中，位于同一行的像素检测电路连接同一条开关选择线selsel，位于同一列的像素检测电路连接同一条读取线readline。
图1中的像素检测电路阵列操作时，对于每一个像素检测电路其包括一个光电二极管pd和一个晶体管t；其中，当光电二极管受pd到光照时，则会积累产生光电流，在采样阶段通过开关线sel控制晶体管t打开，通过读取线readline读取光电二极管pd所产生的光电流，以供控制单元对像素检测电路所检测的信息进行分析。而积累时若读取线readline受到外部耦合，易造成晶体管t两端电压有变化，而使vds增加，而较大的vds，则产生较大的漏电，此状况便会影响pd积累的电荷，进一步使得输出vout
会得到不同的结果，也就是噪声。
技术实现要素：
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种像素检测结果精准的显示面板及其检测方法、显示装置。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板，包括交叉设置的多条开关选择线和多条读取线；在所述开关选择线和所述读取线的交叉位置设置有像素检测电路；其中，所述像素检测电路包括第一开关单元，以及与所述第一开关单元连接的第一感光单元；其中，位于同一行的所述像素检测电路中的第一开关单元连接同一条所述开关选择线；位于同一列的所述像素检测电路中的第一开关单元连接同一条所述读取线；所述显示面板还包括：电压跟随单元和第二开关单元；其中，
所述第二开关单元连接在所述电压跟随单元和所述读取线之间；所述第二开关单元，用于在与其所述像素检测电路的积分阶段打开，将所述电压跟随单元所生成的跟随电压输出至所述第一开关单元，以防止所述第一开关单元产生漏电流。
优选的是，所述电压跟随单元包括：第三开关单元，以及与所述第三开关单元连接的第二感光单元；其中，
所述第三开关单元和所述第二感光单元均与所述第二开关单元连接；
所述第三开关单元，在与其连接的所述第二开关单元连接的所述像素检测电路处于重置阶段时，在重置信号的控制下打开，通过重置电压，对所述第二感光单元进行重置。
进一步优选的是，所述电压跟随单元还包括：缓冲器；其中，
所述缓冲器的正相输入端连接所述第三开关单元和所述第二感光单元，反相输入端连接所述缓冲器的输出端；所述缓冲器的输出端连接所述第二开关单元。
进一步优选的是，所述第一感光单元包括：第一光电二极管；所述第二感光单元包括：第二光电二极管；且所述第一光电二极管和所述第一光电二极管尺寸相同；其中，
所述第一光电二极管的第一极连接所述第一开关单元，第二极连接反偏电压端；
所述第二光电二极管的第一极连接所述第二开关单元和所述缓冲器的正相输入端，第二极连接反偏电压端。
进一步优选的是，所述第三开关单元包括第三晶体管；其中，
所述第三晶体管的第一极连接重置电压端，第二极连接所述第二感光单元和所述缓冲器的正相输入端，控制极连接重置线。
进一步优选的是，所述第二开关单元包括第二晶体管；其中，
所述第二晶体管的第一极连接所述缓冲器的输出端，第二极连接所述读取线，控制极连接辅助控制线。
优选的是，所述第一开关单元包括第一晶体管；其中，
所述第一晶体管的第一极连接所述第一感光单元，第二极连接所述读取线，控制极连接选择控制线。
优选的是，所述显示面板还包括：积分器、采样保持器、模数转换器、数据处理器；其中，
所述积分器连接所述读取线，用于对所述读取线输出的电压进行积累，以产生积累电压；
所述采样保持器，用于对所述积累电压进行采样保持，以保证输入至所述模数转换器中的积累电压稳定；
所述模数转换器，用于将采样保持后的积累电压进行数模转化，并输出给所述数据处理器；
所述数据处理器，用于根据数字电压确定检测信息。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种上述显示面板的检测方法，包括：
积分阶段：控制第二开关单元打开，将电压跟随单元所生成的跟随电压输出至第一开关单元，且控制所述跟随单元所产生的跟随电压与第一感光单元在积分阶段所生成的电压相等，以防止第一开关单元产生漏电流。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示装置，其包括上述显示面板。
本发明具有如下有益效果：
由于本发明的显示面板中在读取线上连接电压跟随单元，且该电压跟随单元在与其电性连接的像素检测电路处于积分阶段时，根据第一感光单元所生成的电信号生成相同的跟随电压，以使加载在第一开关单元两端的电压相等，因此可以使得第一开关单元处于关断的状态，以防止第一开关单元产生漏电流，造成读取线输出的电信号存在噪声。
附图说明
图1为现有的显示面板的结构示意图；
图2为本发明的实施例1的显示面板的结构示意图；
图3为本发明的实施例1的显示面板的具体结构的示意图；
图4为图3的显示面板的检测方法的时序图。
其中附图标记为：1、像素检测电路；2、第二开关单元；3、电压跟随单元；4、积分器；5、采样保持器；6、模数转换器；7、数据处理器；t1、第一晶体管；t2、第二晶体管、t3、第三晶体管；pd1、第一光电二极管；pd2、第二光电二极管；sel、开关选择线sel；readline、读取线。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
实施例1：
结合图2所示，本实施例提供一种显示面板，包括交叉设置的多条开关选择线sel和多条读取线readline；在开关选择线sel和读取线readline的交叉位置设置有像素检测电路1；其中，像素检测电路1包括第一开关单元，以及与第一开关单元连接的第一感光单元；其中，位于同一行的像素检测电路1中的第一开关单元连接同一条开关选择线sel；位于同一列的像素检测电路1中的第一开关单元连接同一条读取线readline；特别的是，本实施例中的显示面板还包括：电压跟随单元3和第二开关单元2；其中，第二开关单元2连接在电压跟随单元3和读取线readline之间；
第二开关单元2，用于在与其像素检测电路1的积分阶段打开，将电压跟随单元3所生成的跟随电压输出至第一开关单元，以防止第一开关单元产生漏电流。
由于本实施例的显示面板中在读取线readline上连接电压跟随单元3，且该电压跟随单元3在与其电性连接的像素检测电路1处于积分阶段时，根据第一感光单元所生成的电信号生成相同的跟随电压，以使加载在第一开关单元两端的电压相等，因此可以使得第一开关单元处于关断的状态，以防止第一开关单元产生漏电流，造成读取线readline输出的电信号存在噪声。
其中，本实施例中的电压跟随单元3第三开关单元，以及与所述第三开关单元连接的第二感光单元；该第三开关单元和所述第二感光单元均与所述第二开关单元2连接。
具体的，第三开关单元在与其连接的第二开关单元2连接的像素检测电路1处于重置阶段时，在重置信号的控制下打开，通过重置电压，对所述第二感光单元进行重置。其中，在重置阶段第二开关单元2是处于关断状态的，在该阶段控制第一开关单元和第二开关单元2均打开，此时通过重置电压对第二感光单元进行重置；通过输入至读取线readline上的重置电压对第一感光单元进行重置，以使第一感光单元和第二感光单元的初始状态是一样的；在之后的积分阶段，则控制第二开关单元2打开，控制第一开关单元和第二开关单元2均断开，在该阶段第一感光单元和第二感光单元均根据所述接收到的光信号生成相应的电信号，此时使得加载在第一开关单元两端的电压相等，因此可以使得第一开关单元处于关断的状态，以防止第一开关单元产生漏电流，造成读取线readline输出的电信号存在噪声。
进一步的，电压跟随单元3还包括：缓冲器；其中，缓冲器的正相输入端连接所述第三开关单元和所述第二感光单元，反相输入端连接所述缓冲器的输出端；所述缓冲器的输出端连接所述第二开关单元2。
由于本实施例的电压跟随单元3中增设了缓冲器，此时可以使得第二感光单元所生成的电信号经过缓冲器之后输出稳定的跟随电压。
其中，本实施例中的第一感光单元包括：第一光电二极管pd1；第二感光单元包括：第二光电二极管pd2；且第一光电二极管pd1和第一光电二极管pd1尺寸相同；具体的，第一光电二极管pd1的第一极连接第一开关单元，第二极连接反偏电压端；第二光电二极管pd2的第一极连接第二开关单元2和缓冲器的正相输入端，第二极连接反偏电压端。
之所以选用尺寸相同的第一光电二极管pd1和第二光电二极管pd2的原因是，这样在接收相同的光照时，这两个光电二极管所生成的电信号是相同的，这样不仅可以满足加载在第一开关单元两端的电压相等，且能够使得制备工艺简便。
其中，在本实施例中，第一开关单元选用第一晶体管t1、第二开关单元2选用第二晶体管t2、第三开关单元选用第三晶体管t3；具体的，第一晶体管t1的第一极连接第一感光单元，第二极连接读取线readline，控制极连接选择控制线；第二晶体管t2的第一极连接缓冲器的输出端，第二极连接所述读取线readline，控制极连接辅助控制线；第三晶体管t3的第一极连接重置电压端，第二极连接第二感光单元和所述缓冲器的正相输入端，控制极连接重置线。
本实施例中选用晶体管作为开关元件，结构简单，且方便面控制。
当然，本实施例的显示面板还包括：积分器4、采样保持器5、模数转换器、数据处理器7；其中，积分器4连接所述读取线readline，用于对读取线readline输出的电压进行积累，以产生积累电压；采样保持器5，用于对所述积累电压进行采样保持，以保证输入至所述模数转换器6中的积累电压稳定；模数转换器6，用于将采样保持后的积累电压进行数模转化，并输出给所述数据处理器7；数据处理器7，用于根据数字电压确定检测信息。
在本实施例中还可以将各个读取线readline与数据选择器连接，之后采用一个电压跟随单元3通过该数据选择器连接各个读取线readline，这样则可以根据具体需要通过数据选择器控制电压跟随单元3生成的跟随电压加载到相应的读取线readline上，这样设置可以使得显示面板的结构简单，而对于电压跟随单元3的工作原理与上述的电压跟随单元3是完全相同的。
以下提供一种具体的显示面板的结构，该显示面板包括呈阵列排布的多个像素检测电路1，以及连接在每一条读取线readline上的积分器4、采样保持器5、模数转换器、数据处理器7；其中，以位于第一列的像素检测电路1的连接关系为例进行描述。
如图3所示，每个像素检测电路1均包括第一晶体管t1和第一光电二极管pd1；电压跟随单元3包括第三晶体管t3和第二光电二极管pd2和缓冲器；在读取线readline上连接有第二晶体管t2；其中，第一晶体管t1的第一极连接第一光电二极管pd1的第一极，第二极连接读取线readline，控制极连接开关选择线sel；第一光电二极管pd1的第二极连接反偏电压端；第二晶体管t2的第一极连接缓冲器的输出端，第二极连接读取线readline，控制极连接辅助控制线；第三晶体管t3的第一极连接重置电压端，第二极连接第二光电二极管pd2的第一极和缓冲器的正相输入端，控制极连接重置线；第二光电二极管pd2的第二极连接反偏电压端；缓冲器的反相输入端与其输出端连接。
其中，第一光电二极管pd1和第二光电二极管pd2是尺寸、性能完成一样的。对于给重置线和辅助控制线上所输入的信号的极性是相反的，例如给重置线输入高电平信号时，则给辅助控制线上输入低电平信号；反则反之。
在此需要说明的是，本实施例中的所采用的晶体管可以为薄膜晶体管或场效应管或其他特性的相同器件，由于采用的晶体管的源极和漏极在一定条件下是可以互换的，所以其源极、漏极从连接关系的描述上是没有区别的。在本发明实施例中，为区分晶体管的源极和漏极，将其中一极称为第一极，另一极称为第二极，栅极称为控制极。此外按照晶体管的特性区分可以将晶体管分为n型和p型，在本实施例中以上述的第一晶体管t1、第二晶体管t2、第三晶体管t3均为n型晶体管为例进行说明；其中，对于n型晶体管而言工作电平为高电平；非工作电平则为低电平；当然，第一晶体管t1、第二晶体管t2、第三晶体管t3均采用p型晶体管实现是本领域技术人员可以在没有付出创造性劳动前提下轻易想到的，因此也是在本发明实施例的保护范围内的。
结合图3和4所示，以下对上述的显示面板的检测方法进行具体描述。
重置阶段：逐行给重置线和开关选择线sel上输入高电平信号，相应的第一晶体管t1、第三晶体管t3均打开，读取线readline上所写入通过积分器4输入的重置信号，以对与该条读取线readline连接的各个像素检测电路1中的第一光电二极管pd1进行重置；与此同时，电压跟随单元3中的第三晶体管t3打开重置电压端上所写入的重置电压则对第二光电二极管pd2进行重置。
积分阶段：给辅助控制线输入高电平信号，第二晶体管t2打开，在该阶段第一晶体管t1和第三晶体管t3均是断开的，第一光电二极管pd1和第二光电二极管pd2则根据其所感应到的光信号生成相应的电信号，而由于第一光电二极管pd1和第二光电二极管pd2的尺寸和性能相同，此时，第一光电二极管pd1和第二光电二极管pd2所生成的电信号是相同的，对于第二光电二极管pd2所生成的电信号经过缓冲器之后变得稳定，之后加载在与其电连接的第一晶体管t1的漏极上，以使第一晶体管t1的源极和漏极上加载的电压相同的，因此可以保证第一晶体管t1处于关断状态，从而防止第一晶体管t1产生漏电流，造成读取线readline输出的电信号存在噪声。
采样阶段：逐行给重置线和开关选择线sel上输入高电平信号，相应的第一晶体管t1、第三晶体管t3均打开，给辅助控制线输入低电平信号控制第二晶体管t2关断；通过读取线readline输出第一光电二极管pd1在积分阶段所积累的电信号，之后经过与该读取线readline上连接的积分器4，对读取线readline输出的电压进行积累，以产生积累电压；采样保持器5对所述积累电压进行采样保持，以保证输入至所述模数转换器6中的积累电压稳定；模数转换器6将采样保持后的积累电压进行数模转化，并输出给所述数据处理器7；数据处理器7根据数字电压确定检测信息。
实施例2：
本实施例提供一种显示装置，其包括实施例1中的显示面板。因此，本实施例的显示装置的显示效果更好。
其中，显示装置可以为液晶显示装置或者电致发光显示装置，例如液晶面板、电子纸、oled面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。