技术特征：
技术总结
本发明公开了一种GIS设备内部过热缺陷的红外检测方法，包括：通过红外检测设备实时采集GIS设备的壳体的温度；在预设时间通过红外检测设备在壳体上寻找温度山峰，从而得到壳体的异常温差；根据预先求得的壳体与GIS设备的导体间的温升差比值、导体的正常温升以及壳体的异常温差得到导体的异常温升；其中，导体的正常温升为所述GIS设备正常运行状态下的导体的温度与环境温度的差值；根据导体的异常温升对所述GIS设备进行状态评估。采用本发明的实施例，能够准确测量GIS设备是否存在内部过热缺陷，同时评估内部过热缺陷的严重程度。
技术研发人员：彭在兴;王颂;刘凯;金虎;易林
受保护的技术使用者：南方电网科学研究院有限责任公司
技术研发日：2018.03.07
技术公布日：2018.09.11