不良检查系统及其方法与流程

文档序号:15680976发布日期:2018-10-16 20:33阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明公开一种支架结构体,其特征在于,包括:图像获取装置;支架,其支撑所述图像获取装置;以及结合构件,其将所述支架固定到支撑件,其中,第一基板从第一方向向第二方向移动,第二基板从所述第二方向向所述第一方向移动,所述第一基板与所述第二基板同时移动,所述图像获取装置在所述第一基板及所述第二基板移动时检查所述第一基板的不良向。本发明能够大幅降低不良检查系统的费用。

技术研发人员:姜志浩;柳林水
受保护的技术使用者:塞米西斯科株式会社
技术研发日:2014.07.23
技术公布日:2018.10.16
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1