一种利用超声脉冲诱发光栅变形测量磁场的方法与流程

文档序号:16084679发布日期:2018-11-27 22:16阅读:来源:国知局
技术总结
本发明提供了一种利用超声脉冲诱发光栅变形测量磁场的方法,所述测量磁场的方法包括如下步骤:a)搭接光纤传感器磁场测量系统,所述系统包括一段带有连续均匀光栅的光纤、超声波发生器和解调仪,所述的带有连续均匀光栅的光纤具有多段光栅,每段光栅栅格均匀分布,所述光栅之间间隔相同;b)将光纤传感器磁场测量系统置于待测磁场中,记录所述解调仪采集到的离峰偏离主峰的间距;c)将步骤b)中所述的离峰偏离主峰的间距与离峰偏离主峰的间距随磁场强度变化的关系曲线比对,得到磁场强度的大小。

技术研发人员:祝连庆;刘锋;董明利;辛璟焘;娄小平;庄炜;何巍
受保护的技术使用者:北京信息科技大学
技术研发日:2016.04.08
技术公布日:2018.11.27

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