技术总结
一种漩涡式探针、探针测试装置、探针卡系统及多晶片模块的失效分析方法。漩涡式探针包括一针体、一连接部与一漩涡弹簧。针体的一端具有一针尖。漩涡弹簧连接针体与连接部。漩涡弹簧包含一圈以上的旋绕体,这些旋绕体彼此共平面,且这些旋绕体的轴心与针体的长轴方向正交。故,通过上述架构,漩涡式探针不致于导电接点上横向滑移,降低滑出导电接点的范围的机会,以维持探针与导电接点之间的电接品质及测试性能,以及缩小测试变数。
技术研发人员:孙育民;程志丰;廖致傑
受保护的技术使用者:创意电子股份有限公司;台湾积体电路制造股份有限公司
技术研发日:2018.08.28
技术公布日:2020.03.24