技术特征：
技术总结
提供一种电子设备的测试电路和测试方法，所述测试电路包括第一接口模块、第二接口模块和识别芯片，其中，第一接口模块用于在对电子设备的电路板进行测试时，获取与第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送电路板测试设备的接口信息到识别芯片；第二接口模块用于在对电子设备的整机进行测试时，获取与第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息，并发送整机测试设备的接口信息到识别芯片；识别芯片用于识别电路板测试设备的接口信息以得到电路板测试设备的接口类型，并将接口类型发送给电子设备的中央处理器，或者，识别芯片用于识别整机测试设备的接口信息以得到整机测试设备的接口类型。
技术研发人员：彭业开;肖国坤;庄健超;彭爱军
受保护的技术使用者：广州三星通信技术研究有限公司;三星电子株式会社
技术研发日：2018.11.07
技术公布日：2019.03.29