分光光度计检测系统及其检测方法与流程

文档序号:21195761发布日期:2020-06-23 18:44阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种分光光度计检测系统,其特征在于,包括:

光源装置(10),用于提供入射光束;

样品容纳装置(20),包括多个用于容纳待测样品的容置腔;

光束扫描装置(30),用于将入射光束反射穿过所述容置腔;

光谱探测装置(40),用于接收穿过所述容置腔的光束,并获取穿过所述容置腔的光束的光谱。

2.根据权利要求1所述的分光光度计检测系统,其特征在于,所述分光光度计检测系统还包括:驱动装置(50),用于驱动所述光束扫描装置(30)进行分时地空间扫描,以分时、分空间地将入射光束反射穿过各个容置腔。

3.根据权利要求2所述的分光光度计检测系统,其特征在于,分光光度计检测系统还包括:多个反射镜(60),所述反射镜(60)与所述容置腔一一对应,所述反射镜(60)用于将所述光束扫描装置(30)反射入射光束至其上的光束反射穿过对应的所述容置腔。

4.根据权利要求3所述的分光光度计检测系统,其特征在于,所述光源装置(10)包括:

发光元件(11),用于发射入射光束;

光束整形器(12),用于将所述发光元件(11)发射的入射光束进行准平行整形。

5.根据权利要求2所述的分光光度计检测系统,其特征在于,分光光度计检测系统还包括:具有正屈光力的第一透镜(70),所述第一透镜(70)的焦点与所述光束扫描装置(30)的中心重合,所述第一透镜(70)用于将所述光束扫描装置(30)分时地反射入射光束至其上的光束反射穿过各个容置腔。

6.根据权利要求5所述的分光光度计检测系统,其特征在于,所述光源装置(10)包括:

发光元件(11),用于发射入射光束;

具有正屈光力的光学元件组(13),用于将所述发光元件(11)发射的入射光束聚焦到所述光束扫描装置(30)的中心上。

7.根据权利要求1或2任一项所述的分光光度计检测系统,其特征在于,所述样品容纳装置(20)包括容纳盘(21)、第一窗盖(22)和第二窗盖(23),所述容纳盘(21)中设置有多个贯穿所述容纳盘(21)的相对的第一表面和第二表面的通孔(21a),所述第一窗盖(22)设置于所述第一表面上,所述第二窗盖(23)设置于所述第二表面上,从而形成多个所述容置腔。

8.根据权利要求1或2任一项所述的分光光度计检测系统,其特征在于,所述光谱探测装置(40)包括:

多条多模光纤(41),每条多模光纤(41)包括相对的第一端面(41a)和第二端面(41b),所述多条多模光纤(41)的第二端面(41b)呈线性排列,所述第一端面(41a)和所述容置腔一一对应,所述第一端面(41a)用于接收穿过对应的所述容置腔的光束;

光纤光谱仪(42),其入射狭缝与线性排列的多个第二端面(41b)对合,所述光纤光谱仪(42)用于接收所述第二端面(41b)出射的光束。

9.一种液体原位分光光度计检测系统,其特征在于,包括外壳(90)和权利要求1至8任一项所述的分光光度计检测系统,所述分光光度计检测系统设置于外壳(90)内,所述外壳(90)部分凹陷形成液体原位测量窗口(91),所述液体原位测量窗口(91)的相对两侧分别设置有第一透光部(92)和第二透光部(93),所述光束扫描装置(30)还用于将入射光束反射依次穿过所述第一透光部(92)和所述第二透光部(93),所述光谱探测装置(40)还用于接收穿过所述第二透光部(93)的光束,并获取所述第二透光部(93)的光束的光谱。

10.一种如权利要求1至8任一项所述的分光光度计检测系统的检测方法,其特征在于,所述检测方法包括:

光源装置(10)提供入射光束;

光束扫描装置(30)将入射光束反射穿过样品容纳装置(20)的容置腔,其中,所述样品容纳装置(20)的容置腔中包含待测样品以及参比样品;

光谱探测装置(40)接收穿过所述容置腔的光束,并获取穿过所述容置腔的光束的光谱,其中,所述光谱包括待测样品的光谱以及所述参比样品的光谱;

根据待测样品的光谱以及所述参比样品的光谱得到待测样品的吸收光谱。


技术总结
本发明公开了一种分光光度计检测系统及其检测方法。检测系统包括:光源装置,用于提供入射光束;样品容纳装置,包括多个用于容纳待测样品的容置腔;光束扫描装置,用于将入射光束反射穿过所述容置腔;光谱探测装置,用于接收穿过所述容置腔的光束,并获取穿过所述容置腔的光束的光谱。本发明公开的分光光度计检测系统在单个光源单个光谱模块的条件下实现多个样品的快速分光光度测量,消除光源强度和输出光谱波动对分光光度计的影响,提高系统探测精度,另外可以使结构更加紧凑便于集成,同时降低了成本。

技术研发人员:陈巍;祝铭;李剑平;张亮;周志盛;梁元博;赵强星;周轩;吕建成
受保护的技术使用者:中国科学院深圳先进技术研究院
技术研发日:2018.12.17
技术公布日:2020.06.23
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