技术特征：
技术总结
本发明涉及一种光照均匀性测试仪和测试方法，其中测试仪包括：滑轨、滑块、光学探测器、第一电机、第二电机、底座、控制器和数据采集器；第一电机控制滑轨以电机转轴为中心转动；所述电机转轴位于太阳模拟器的光斑中心处，所述滑轨的转动平面位于太阳模拟器的辐照面处；所述第二电机控制滑块在滑轨上沿径向移动；所述控制器用于发送电机控制指令给所述第一电机和第二电机；所述光学探测器安装在所述滑块上，用于测量光强发送给数据采集器。本发明通过滑轨沿圆周方向的转动结合滑块在径向上的移动，只需要一个或者两个光学探测器，就可以实现对辐照面内多个测量点的测试，提高了测量精度，尤其适用于对于大光斑尺寸的太阳模拟器的光照均匀性测试。
技术研发人员：孟刚;李亚男;南华;薛莲;周岩;范小礼;邓蓉;刘鑫;水涌涛;刘得成;赵民
受保护的技术使用者：北京航天长征飞行器研究所
技术研发日：2018.12.27
技术公布日：2019.03.26