技术特征：
技术总结
本发明公开了一种超快光波长测量系统，该系统包括一窄线宽激光器、第一至第五光耦合器、一锁模激光器、第一至第五光电探测器、一第一模数转换模块、一第二模数转换模块、一数字信号处理模块和一色散补偿光纤。本发明通过处理锁模激光器的输出宽谱光信号与参考光信号及待测光信号的拍频信号来得到测量光信号的波长，测量范围等于锁模激光器的谱宽，为10‑100nm量级。测量速率等于锁模激光器的脉冲重复频率，可达到50MHz。在数字信号处理模块中引入互相关算法来提高测量精度，测量精度反比于光电探测器的带宽乘以色散补偿光纤的色散系数，为10pm量级。因此，利用本发明可以实现大带宽，高速率，高精度的光波长测量。
技术研发人员：李明;肖晔;孙术乾;祝宁华
受保护的技术使用者：中国科学院半导体研究所
技术研发日：2018.12.27
技术公布日：2019.04.12