β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块的制作方法

本实用新型属于颗粒物检测装置技术领域，具体涉及一种β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块。

背景技术：

β射线是高速运动的电子流e，贯穿能力很强，电离作用弱。由于电子质量远小于原子核，所以在穿透物体时，会被物体的原子核所捕获，从而使得电子流减弱。β射线颗粒物检测仪正是利于此原理进行颗粒物检测。在β射线颗粒物检测仪的喷嘴压紧块和颗粒物检测仪的纸带平台中间设置有可以走动的滤膜,气流穿过此滤膜，会将气流中的颗粒物阻挡并淤积在滤膜上。空白滤膜与积灰之后的滤膜前后质量有变化，那么阻挡β射线的能力也有变化，就是利用这个变化，获得颗粒物浓度。淤积在滤膜上的颗粒物形成的黑斑称之为尘斑，现有β射线颗粒物检测仪滤膜上的尘斑太浅（薄），这样会造成采样前后检测到的电子数差距太小，导致精度不够。另外，尘斑边缘模糊，边缘模糊说明在喷嘴压紧块与滤膜接触的边缘有漏气的现象，造成颗粒物逃逸，不在被检测范围内，从而造成检测误差。现有β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块参照图1和图2，它包括压紧块本体1、位于本体1上的中心孔2，位于中心孔2周边的凸台3。现有β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块中心孔较大。

技术实现要素：

为了解决尘斑太浅和边缘模糊的问题，同时也为了提高检测精度，本实用新型提出一种β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块，其具体的技术方案如下：一种β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块，它包括压紧块本体、位于本体上的中心孔，位于中心孔周边的凸台，其特征在于还包括：位于凸台上的中心孔周边的凸缘。

本实用新型更进一步的技术特征是：

所述中心孔大小为8-16 MM。

所述凸缘的宽度为1-4MM。

本实用新型的有益效果在于：

尘斑边缘模糊是气密性不好造成的，也就是压紧块对滤膜的压强太小，所以增大喷嘴压紧块对滤膜的压强即可解决问题，由于本实用新型β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块凸台上的中心孔周边设置有凸缘，在采样过程中喷嘴压紧块和滤膜接触面积缩小，压紧块对滤膜的压强变大，尘斑边缘就变得清晰；同样采样时间下，相同量的颗粒物，由于中心孔缩小为8-16 MM，尘斑面积缩小，即可使尘斑变厚颜色变深，尘斑颜色变深且边缘界限分明，采样前后测量粒子数有明显差别，无颗粒物逃逸，使计算颗粒物浓度值更加准确。

附图说明

图1为现有β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块主视图；

图2为现有β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块侧视图；

图3为本实用新型一实施例的主视图；

图4为本实用新型一实施例的侧视图。

具体实施方式

下面结合附图及本实用新型的实施例对本实用新型作进一步详细的说明。

如图3和图4所示，本实用新型一种β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块，它包括压紧块本体1、位于本体1上的中心孔2，位于中心孔2周边的凸台3，其特征在于还包括：位于凸台3上的中心孔周边的凸缘4。在本实施例中，所述中心孔2大小为直径8MM, 凸缘4的宽度为1MM(凸缘4的宽度即凸缘4与滤膜接触的环形面的宽度),在实际应用中，所述中心孔2的大小还可以设置为直径10MM 或12MM或16 MM；所述凸缘4的宽度还可以设置为2MM或3MM或4MM。

由于本实用新型β射线颗粒物检测仪喷嘴压紧块凸台上的中心孔周边设置有凸缘，在采样过程中喷嘴压紧块和滤膜接触面积缩小，压紧块对滤膜的压强变大，尘斑边缘就变得清晰；同样采样时间下，相同量的颗粒物，由于中心孔缩小为8-16 MM，尘斑面积缩小，即可使尘斑变厚颜色变深，尘斑颜色变深且边缘界限分明，采样前后测量粒子数有明显差别，无颗粒物逃逸，使计算颗粒物浓度值更加准确。

本实用新型的技术内容及技术特点已揭示如上，然而可以理解，在本实用新型的创作思想下，本领域的技术人员可以对上述结构作各种变化和改进，包括这里单独披露的或要求保护的技术特征的组合，以及明显地包括这些特征的其它组合，这些变形和/或组合均落入本实用新型所涉及的技术领域内，并落入本实用新型权利要求的保护范围，本实用新型的保护范围以权利要求书为准。