本实用新型涉及一种复位测试电路，特别是涉及一种用于着座传感模块的复位测试电路。
背景技术：
复位电路是一种用来使电路恢复到起始状态的电路设备，现有技术中人们一般会对需要复位的电路进行测试，判断复位信号是否正常，而采取的方案则是分两个工位进行操作，第一次给待测模块复位，第二次给待测模块初始化并测试功能，这样的方案分两次测试，既增加了生产测试的成本，同时降低了生产成本。
技术实现要素：
有鉴于此，针对现有技术的不足，本实用新型旨在于提供一种复位测试电路，能同时满足模块复位和测试的要求。
为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：
一种复位测试电路，包括双刀双掷开关S1、电阻R1、R2、R3、发光二极管LED以及电子连接器P1；
所述双刀双掷开关S1的第一定触点与电子连接器P1的1号引脚连接，第一左端动触点通过电阻R3连接到地，第一右端动触点通过电阻R2连接到发光二极管LED的负极，所述发光二极管LED的正极同时连接到所述双刀双掷开关S1的第二定触点和电子连接器P1的2号引脚；所述电子连接器P1的2号引脚还通过电阻R1连接到地，所述电子连接器P1的3号引脚连接到地；所述双刀双掷开关S1的第二左端动触点和第二右端动触点与5V电源相连接。
进一步地，所述复位测试电路还包括连接器J1，所述连接器J1与直流电源相连接。
进一步地，所述复位测试电路通过所述电子连接器P1连接到待测模块。
本实用新型通过精确计算待测模块所需复位时间，通过电阻R1与待测模块内部的电容计算充放电的时间，使得一个工位就能满足待测模块复位和测试要求，提升效率、降低成本。
附图说明
图1为本实用新型一种复位测试电路的电路原理图。
具体实施方式
下面将结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述：
如图1所示，一种复位测试电路，包括双刀双掷开关S1、电阻R1、R2、R3、发光二极管LED以及电子连接器P1；
所述双刀双掷开关S1的第一定触点11与电子连接器P1的1号引脚连接，第一左端动触点13通过电阻R3连接到地，第一右端动触点14通过电阻R2连接到发光二极管LED的负极，所述发光二极管LED的正极同时连接到所述双刀双掷开关S1的第二定触点12和电子连接器P1的2号引脚；所述电子连接器P1的2号引脚还通过电阻R1连接到地，所述电子连接器P1的3号引脚连接到地；所述双刀双掷开关S1的第二左端动触点15和第二右端动触点16与5V电源相连接。所述复位测试电路还包括连接器J1，所述连接器J1与5V直流电源相连接，给复位测试电路提供5V电压。所述复位测试电路通过所述电子连接器P1连接到待测模块，使电流从复位测试电路连接到待测模块。
本实用新型的复位测试电路上设有双刀双掷开关S1，当双刀双掷开关S1置于第一左端动触点13和第二左端动触点15时，待测模块复位并开始进行初始化，此时电阻R1用于放电；当双刀双掷开关S1置于第一右端动触点14和第二右端动触点16时，对待测模块进行测试。
本实用新型通过精确计算待测模块所需的复位时间，并且通过电阻R1与待测模块内部的电容计算充放电时间，使得一个工位就能满足待测模块的复位和测试要求，同时提升效率和降低成本。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；对于本技术领域的普通技术人员来说，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型的保护范围。