技术总结
本实用新型提供了一种测长标定装置，包括机架、待标定激光干涉仪、标准激光干涉仪、干涉镜组、反光镜组，所述机架的顶部平行设置有第一导轨和第二导轨，所述待标定激光干涉仪和标准激光干涉仪分别设置在第一导轨和第二导轨上，所述待标定激光干仪和标准激光干涉仪可在所述第一导轨与第二导轨上移动，所述干涉镜组设置在第二导轨右侧，所述反光镜组设置在干涉镜组右侧，所述干涉镜组正对反光镜组。本实用新型通过待标定激光干涉仪与标准激光干涉仪可分别在第一导轨与第二导轨上移动，解决了传统测长标定装置调节不方便，变量难以控制的问题。
技术研发人员：薛靓;胡常安;汤江文;曹江萍;李万泽;张瑞
受保护的技术使用者：中国测试技术研究院机械研究所
技术研发日：2018.04.25
技术公布日：2018.11.13