一种心率传感器芯片测试装置的制作方法

本实用新型涉及电子产品测试装置，特别涉及一种心率传感器芯片测试装置。

背景技术：

随着科技的发展，以智能手环和智能手表为代表的智能穿戴产品所配备的心率监测功能正被越来越多人接受，甚至有的人把心率检测功能作为选择智能穿戴产品的必备功能之一。因此，市场上对性能良好的心率传感器芯片的需求与日倍增，心率传感器芯片在出厂前需对其性能进行测试，以确保出厂的心率传感器芯片具备良好的性能。

在对心率传感器芯片进行测试时，需要向心率传感器芯片传输心率模拟信号，才能测出该芯片的性能，但心率模拟信号在传输过程中易受到外界的信号干扰，导致测试的精确度有较大的偏差。

技术实现要素：

本实用新型的目的是在对心率传感器芯片进行测试时，避免心率模拟信号在传输过程中受到外界的信号干扰，提高测试的精确度。

为了达到上述目的，本实用新型提供一种心率传感器芯片测试装置，包括：测试机，其用于发送心率模拟信号，并对接收到的测试数据与预设的理论值进行对比；信号处理器，其用于对心率模拟信号进行衰减；探针卡，其用于放置被测芯片；所述测试机、信号处理器和探针卡两两之间通过屏蔽线连接。

优选地，所述屏蔽线包括导电芯线、包在导电芯线外的内绝缘层、包在内绝缘层外的屏蔽层和包在屏蔽层外的外绝缘层。

优选地，所述导电芯线为导电铜芯。

优选地，所述屏蔽层为铜质屏蔽层，所述铜质屏蔽层电镀在内绝缘层外。

优选地，所述测试机设有用于显示测试结果的显示装置。

本实用新型具有以下有益效果：在对被测芯片进行测试的过程中，屏蔽线能有效地屏蔽外界对传输信号的干扰，从而能避免测试偏差，大大提高测试结果的精确度。

附图说明

图1是心率传感器芯片测试装置与被测芯片连接的结构框图；

图2是屏蔽线的结构示意图。

附图标记：1-导电铜芯；2-内绝缘层；3-铜质屏蔽层；4-外绝缘层。

具体实施方式

如图1所示，虚线框部分为本实施例的心率传感器芯片测试装置，测试机、信号处理器和探针卡两两之间通过屏蔽线连接。所述探针卡用于放置被测芯片，将被测芯片放在探针卡上即可令被测芯片电连接测试机和信号处理器。在对被测芯片进行测试的过程中，屏蔽线能有效地屏蔽外界对传输信号的干扰，从而能避免测试偏差，大大提高测试结果的精确度。

屏蔽线的结构如图2所示，包括导电铜芯1、包在导电铜芯1外的内绝缘层2、电镀在内绝缘层2外的铜质屏蔽层3和包在铜质屏蔽层3外的外绝缘层4。内绝缘层2用于隔绝导电铜芯1和铜质屏蔽层3，铜质屏蔽层3用于屏蔽外界电磁波或其他信号对导电铜芯1的干扰，外绝缘层4用于保护铜质屏蔽层3，防止铜质屏蔽层3被破坏。

在测试时，将被测芯片放在探针卡上即可令被测芯片电连接测试机和信号处理器。测试机通过屏蔽线向信号处理器发送心率模拟信号，信号处理器接收到心率模拟信号后，对该心率模拟信号进行信号衰减，从而提高心率模拟信号的精度。然后，信号处理器把衰减后的高精度心率模拟信号通过屏蔽线发送至放在探针卡上的被测芯片，被测芯片接收到高精度心率模拟信号后进行心率测试，测试完成后把测试数据通过屏蔽线发送至测试机。测试机接收到该测试数据后，把测试数据与预设的理论值作对比，根据对比结果判断被测芯片的性能是否良好。测试机上设有显示屏，测试机对被测芯片的性能进行判断后，把判断结果作为测试结果显示在显示屏上。