一种适用于多种规格晶振的测试插板的制作方法

本实用新型属于晶振检测技术领域，特别是涉及一种适用于多种规格晶振的测试插板。

背景技术：

晶振是晶体振荡器的简称，是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片(简称为晶片)，在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件，该产品一般用金属外壳封装，也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装的。因此，不同的晶振通常具有不同的规格，包括体积尺寸规格、供电电压规格等。

当对不同尺寸规格的晶振加电测试时，现有技术中通常是对每一种尺寸规格的晶振提供一种对应的测试座，然后对该种规格尺寸的晶振进行测试，这种方式不具有通用性，当需要对不同尺寸规格的晶振进行测试时，需要多次更改测试插座，测试效率不高。

为此，需要提供一种能够满足多种规格尺寸的晶振的测试插板，解决多种规格尺寸的晶振共用统一测试平台的问题。

技术实现要素：

本实用新型主要解决的技术问题是提供一种对不同规格尺寸的的晶振都可以进行测试的通用性的测试插板。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是提供一种适用于多种规格晶振的测试插板，所述测试插板包括上下分层组装在一起的两块PCB板，其中位于上层的一块PCB板是插接指示板，位于下层的另一块PCB板是插接电路板，在所述插接电路板上焊接有用于插入晶振引脚的簧插孔，插接指示板上则与所述簧插孔对应开设有插接通孔，所述插接通孔的深度大于所述簧插孔凸出所述插接电路板的高度；在所述插接电路板的背面还设置有测试插针组，所述测试插板通过所述测试插针组与测试基板电连接。

在本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板的另一实施例中，所述插接通孔的数量、孔径和位置与晶振底部的插针式引脚的数量、直径和位置相适配，所述插接指示板上还设置有插接晶振引脚的指示标志。

在本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板的另一实施例中，所述测试插板适用的晶振类型至少有2种，每种类型的晶振在所述插接指示板上对应的插接通孔相互独立，并且在所述插接指示板有多种朝向紧凑分布，而不同类型的晶振在所述插接电路板上对应的供电端电连接在一起、振荡信号输出端电连接在一起，以及接地端也电连接在一起。

在本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板的另一实施例中，所述测试插针组包括具有双排12插针的第一测试插针组、双排10插针的第二测试插针组和双排4插针的第三测试插针组，三个测试插针组在所述插接电路板上呈三角形布设。

在本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板的另一实施例中，所述插接通孔适配的晶振尺寸类型包括：4针，长×宽＝12mm×12mm；5针，长×宽＝20mm×12mm；5针，长×宽＝20mm×20mm；5针，长×宽＝25mm×25mm；5针，长×宽＝27mm×36mm；5针，长×宽＝51mm×41mm；5针，长×宽＝51mm×51mm。

在本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板的另一实施例中，簧插孔的孔径包括0.5mm、0.8mm、和/或1.0mm。

在本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板的另一实施例中，所述测试插板为12V供电的晶振测试插板，所述第一测试插针组包括高电压输入插针、低电压输入插针、电压公共插针、12V电压指示插针，且所述高电压输入插针与所述电压公共插针电连接；所述第二测试插针组包括与所述晶振的供电端电连接的电压输出插针、对所述测试基板上的线性电源模块进行分压控制的第一分压控制插针和第二分压控制插针，所述电压输出插针与所述第一测试插针组中的所述12V电压指示插针电连接，所述第一分压控制插针和第二分压控制插针均悬空；所述第三测试插针组包括对所述测试基板上的开关电源模块进行使能控制的开关电源控制插针，所述开关电源控制插针接地。

在本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板的另一实施例中，所述测试插板为5V供电的晶振测试插板，所述第一测试插针组包括高电压输入插针、低电压输入插针、电压公共插针、5V电压指示插针，且所述低电压输入插针与所述电压公共插针电连接；所述第二测试插针组包括与所述晶振的供电端电连接的电压输出插针、对所述测试基板上的线性电源模块进行分压控制的第一分压控制插针和第二分压控制插针，所述电压输出插针与所述第一测试插针组中的所述5V电压指示插针电连接，所述第一分压控制插针悬空，所述第二分压控制插针接地；所述第三测试插针组包括对所述测试基板上的开关电源模块进行使能控制的开关电源控制插针、对所述开关电源模块进行低压选择的低压选择插针，所述开关电源控制插针接地，所述低压选择插针接地。

在本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板的另一实施例中，所述测试插板为3.3V供电的晶振测试插板，所述第一测试插针组包括高电压输入插针、低电压输入插针、电压公共插针、3.3V电压指示插针，且所述低电压输入插针与所述电压公共插针电连接；所述第二测试插针组包括与所述晶振的供电端电连接的电压输出插针、对所述测试基板上的线性电源模块进行分压控制的第一分压控制插针和第二分压控制插针，所述电压输出插针与所述第一测试插针组中的所述3.3V电压指示插针电连接，所述第一分压控制插针接地，所述第二分压控制插针悬空；所述第三测试插针组包括对所述测试基板上的开关电源模块进行使能控制的开关电源控制插针、对所述开关电源模块进行低压选择的低压选择插针，所述开关电源控制插针接地，所述低压选择插针悬空。

在本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板的另一实施例中，所述测试插板的所述插接电路板上设置有用于与所述测试基板准确插接定位的至少两个定位孔。

本实用新型的有益效果是：本实用新型公开了一种适用于多种规格晶振的测试插板，包括上下分层组装在一起的两块PCB板，其中位于上层的一块PCB板是插接指示板，位于下层的另一块PCB板是插接电路板，在所述插接电路板上焊接有用于插入晶振引脚的簧插孔，插接指示板上则与所述簧插孔对应开设有插接通孔，所述插接通孔的深度大于所述簧插孔凸出所述插接电路板的高度；在所述插接电路板的背面还设置有测试插针组，所述测试插板通过所述插针组与测试基板电连接。通过该测试插板可以对多种规格尺寸的晶振进行固定和加电测试，供电类型也有多种，具有适用范围广、操作使用方便、实现成本低等优势。

附图说明

图1是本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板一实施例组成框图；

图2是图1所示实施例的截面示意图；

图3是本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板另一实施例中的插接指示板的示意图；

图4是本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板另一实施例中的插接电路板的示意图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面结合附图和具体实施例，对本实用新型进行更详细的说明。附图中给出了本实用新型的较佳的实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本说明书所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本实用新型。

下面结合附图，对本实用新型的各实施例进行详细说明。图1是本实用新型适用于多种规格晶振的测试插板一实施例组成示意图。如图1所示，所述测试插板包括上下分层组装在一起的两块PCB板，为了便于说明，图1将这两块PCB板分开，实际使用中二者是焊接或组装在一起的。其中位于上层的一块PCB板是插接指示板11，位于下层的另一块PCB板是插接电路板12，在所述插接电路板12上焊接有用于插入待测晶振引脚的簧插孔121，插接指示板上则与所述簧插孔对应开设有插接通孔111。结合图2，所述插接通孔111的深度H2大于所述簧插孔121凸出所述插接电路板12的板面的高度H1。在所述插接电路板的背面还设置有测试插针组122，所述测试插板通过所述插针组122与测试基板电连接。图1中，所述测试插板的所述插接电路板12上设置有用于与所述测试基板准确插接定位的至少两个定位孔123。通过设置两块叠加的PCB板，并且插接通孔的深度大于所述簧插孔凸出所述插接电路板的板面的高度，可以使得晶振的插座式引脚插入到簧插孔后，晶振的底面不会与簧插孔接触，由于簧插孔导电，而晶振的底面如果是金属材料封装，则会使得插入簧插孔的各个引脚通过该金属材料而接通短路，而插接指示板的上表面是绝缘层，本实施例的这种设置方式可以避免短路问题。另外，晶振的引脚插入簧插孔有一定的深度，以保证充分电接触，插接通孔也具有保护晶振引脚不至于过多外露的作用。

图3显示了一插接指示板实施例的示意图。可以看出，该插接板上设置有多个插接通孔，优选的，插接通孔的数量、孔径和位置与晶振底部的插针式引脚的数量、直径和位置相适配，所述插接指示板上还设置有插接晶振引脚的指示标志。优选的，在同一个插接电路板上簧插孔的孔径包括0.5mm、0.8mm、和/或1.0mm。这样，插接通孔的直径通常比簧插孔的孔径多0.2mm。

进一步优选的，所述测试插板适用的晶振类型至少有2种，每种类型的晶振在所述插接指示板上对应的插接通孔相互独立，并且在所述插接指示板有多个朝向(包括横向、竖向设置)且紧凑分布。这样就可以在测试插板有限的面积上尽可能满足多种规格尺寸的晶振均可以插接测试。

优选的，对于恒温晶振和温补晶振而言，主要形状是长方形或正方形，插针式引脚的数量一般为5个引脚或4个引脚，例如有5个引脚时，其中3个引脚均匀设置在所述晶振的一个侧边，另外2个引脚则相对应的设置在所述晶振的另一个侧边的两端，所述插接指示板上对所述晶振的3个引脚对应的插接通孔设置有安装指示标志。如图3中在3个引脚的中间引脚标注有指示晶振尺寸为51×41，对应的长和宽度分别是51mm和41mm，而这3个引脚的两端的引脚分别用三角符号进行标注，以及用实线和虚线画出该晶振的外形轮廓，这些都是作为指示晶振插接的指示标志112，由此可以指示测试人员正确将晶振插入到插接通孔内。另外，还有引脚标注有指示晶振尺寸为51×51，对应的长和宽分别是51mm和51mm，可以看出这个规格晶振的5个引脚的设置的朝向与前一个规格晶振的5个引脚的设置的朝向不同。而整个插接指示板上设置的这些插接通孔分布比较密集紧凑，这样可以使得在面积有限的插接指示板上设置多种尺寸规格的晶振。图3中还显示在插接指示板11的四角上设置有安装孔113，通过安装孔113可以把插接指示板和插接电路板组装在一起。

优选的，所述插接通孔适配的晶振尺寸类型包括：4针，长×宽＝12mm×12mm；5针，长×宽＝20mm×12mm；5针，长×宽＝20mm×20mm；5针，长×宽＝25mm×25mm；5针，长×宽＝27mm×36mm；5针，长×宽＝51mm×41mm；5针，长×宽＝51mm×51mm。

另外，虽然在插接指示板上可以插接多种规格尺寸的晶振，但所有类型的晶振在所述插接电路板上对应的供电端电连接在一起、振荡信号输出端电连接在一起，以及接地端也电连接在一起。这样就很方便在接插电路板上对不同规格的晶振进行统一的供电和引出振荡信号。

图4显示了插接电路板的示意图，其中在插接电路板12的背面设置有三组测试插针组，包括具有双排12插针的第一测试插针组1223、双排10插针的第二测试插针组1221和双排4插针的第三测试插针组1222，三个测试插针组在所述插接电路板上呈三角形布设。这种布设方式有利于将测试插板与测试基板进行稳固插接。另外，从图4页能看出簧插孔121有不同的孔径，这是为了适应不同规格的晶振对应的引脚的直径有所不同的原因，如前所述簧插孔的孔径包括0.5mm、0.8mm、和/或1.0mm。

结合图1，图4中所述测试插板的所述插接电路板12上设置有用于与所述测试基板准确插接定位的至少两个定位孔123。在实际应用中，对应的在测试基板上也设置有相应数量和位置的定位孔，这样当插接电路板12上的定位孔123与测试基板上的定位孔对准时，就可以保证插接电路板12背面的三组测试插针组与测试基板上的测试插座对应插准。

另外，本实用新型可以提供三种供电类型的测试插板，即12V、5V、3.3V，这样每种供电类型的测试插板又可以接插不同规格尺寸的晶振，使得本实施例能够适用的晶振具有更多类型种类。

优选的，所述测试插板为12V供电的晶振测试插板时，所述第一测试插针组包括高电压输入插针、低电压输入插针、电压公共插针、12V电压指示插针，且所述高电压输入插针与所述电压公共插针电连接；

所述第二测试插针组包括与所述晶振的供电端电连接的电压输出插针、对所述测试基板上的线性电源模块进行分压控制的第一分压控制插针和第二分压控制插针，所述电压输出插针与所述第一测试插针组中的所述12V电压指示插针电连接，所述第一分压控制插针和第二分压控制插针均悬空；

所述第三测试插针组包括对所述测试基板上的开关电源模块进行使能控制的开关电源控制插针，所述开关电源控制插针接地。

优选的，所述测试插板为5V供电的晶振测试插板，所述第一测试插针组包括高电压输入插针、低电压输入插针、电压公共插针、5V电压指示插针，且所述低电压输入插针与所述电压公共插针电连接；

所述第二测试插针组包括与所述晶振的供电端电连接的电压输出插针、对所述测试基板上的线性电源模块进行分压控制的第一分压控制插针和第二分压控制插针，所述电压输出插针与所述第一测试插针组中的所述5V电压指示插针电连接，所述第一分压控制插针悬空，所述第二分压控制插针接地；

所述第三测试插针组包括对所述测试基板上的开关电源模块进行使能控制的开关电源控制插针、对所述开关电源模块进行低压选择的低压选择插针，所述开关电源控制插针接地，所述低压选择插针接地。

优选的，所述测试插板为3.3V供电的晶振测试插板，所述第一测试插针组包括高电压输入插针、低电压输入插针、电压公共插针、3.3V电压指示插针，且所述低电压输入插针与所述电压公共插针电连接；

所述第二测试插针组包括与所述晶振的供电端电连接的电压输出插针、对所述测试基板上的线性电源模块进行分压控制的第一分压控制插针和第二分压控制插针，所述电压输出插针与所述第一测试插针组中的所述3.3V电压指示插针电连接，所述第一分压控制插针接地，所述第二分压控制插针悬空；

所述第三测试插针组包括对所述测试基板上的开关电源模块进行使能控制的开关电源控制插针、对所述开关电源模块进行低压选择的低压选择插针，所述开关电源控制插针接地，所述低压选择插针悬空。

可以看出通过设置这些测试插针组，能够将不同供电电压的测试插板通过测试插针组的连接关系就可以实现一些接口端的连接，从而在更换不同的供电类型的测试插板时，自然实现了与测试基板的电气对接，而不需要再进行跳线设置，大大方便了操作使用。

本实用新型公开了一种适用于多种规格晶振的测试插板，包括上下分层组装在一起的两块PCB板，其中位于上层的一块PCB板是插接指示板，位于下层的另一块PCB板是插接电路板，在所述插接电路板上焊接有用于插入晶振引脚的簧插孔，插接指示板上则与所述簧插孔对应开设有插接通孔，所述插接通孔的深度大于所述簧插孔凸出所述插接电路板的高度；在所述插接电路板的背面还设置有测试插针组，所述测试插板通过所述插针组与测试基板电连接。通过该测试插板可以对多种规格尺寸的晶振进行固定和加电测试，供电类型也有多种，具有适用范围广、操作使用方便、实现成本低等优势。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均包括在本实用新型的专利保护范围内。