1.一种带载具的热流道测试夹具，其特征是：该测试夹具包括用于载放芯片(0)的载具(1)，设置在所述载具(1)上方、用于压紧载具的测试盖(2)，设置在载具(1)下方、用于定位载具(1)、收集芯片底面和底部管脚信号的测试座(3)，所述测试盖(2)和测试座夹合状态下，内部形成一载具容腔(4)，所述载具(1)设置在该载具容腔(4)内，其中，
所述载具(1)包括基体(110)和芯片托盘(120)，所述基体(110)中央开有矩形槽(111)，基体(110)底面上设有呈梳齿型排布的管脚槽(112)，所述芯片托盘(120)设置在矩形槽(111)中，待测芯片盛放于所述芯片托盘(120)内，待测芯片的管脚嵌入所述管脚槽(112)中；
所述测试盖(2)上开有上热流通道(210)，所述测试座(3)底部设有用于接收管脚测试信号的PCB板(310)，并于PCB板(310)两侧留有下热流通道(320)，所述测试座(3)上设有用于收集芯片管脚信号的测试针(330)。
2.根据权利要求1所述的带载具的热流道测试夹具，其特征是：所述基体(110)和芯片托盘(120)为活动连接，芯片托盘(120)上设有一对用于定位和卡入基体(110)的耳板(121)，芯片托盘(120)中央开有用于容置芯片主体的长槽(122)，芯片托盘(120)上表面设有凸球结构(123)。
3.根据权利要求2所述的带载具的热流道测试夹具，其特征是：所述凸球结构(123)位于所述长槽(122)四角延伸处。
4.根据权利要求1所述的带载具的热流道测试夹具，其特征是：所述测试盖(2)两侧对称设有一对用于卡扣所述测试座(3)的扣件(220)。
5.根据权利要求4所述的带载具的热流道测试夹具，其特征是：所述扣件(220)上设有捏柄(221)，并于捏柄(221)端部设有若干防滑凸纹(222)，测试盖(2)顶部于两捏柄(221)内侧设有一对限位板(223)。
6.根据权利要求1至5任一项所述的带载具的热流道测试夹具，其特征是：所述测试盖(2)和测试座(3)外沿设有相匹配的夹具定位销(51)和夹具定位孔(61)；所述测试盖(2)和测试座(3)内部用于容纳所述载具(1)的载具容腔(4)的上、下表面四角处均设有载具定位销(52)，所述载具(1)的基体(110)上、下表面四角处设有与所述载具定位销(52)相匹配的载具定位孔(62)。