指纹芯片导通性测试用装夹治具的制作方法

文档序号:16783546发布日期:2019-02-01 19:17阅读:200来源:国知局
指纹芯片导通性测试用装夹治具的制作方法

本实用新型涉及芯片测试设备技术领域,尤其涉及一种指纹芯片导通性测试用装夹治具。



背景技术:

随着科技的发展,电子感测技术越来越多地被应用。指纹识别技术是目前最成熟且价格便宜的生物特征识别技术。目前来说指纹识别的技术应用最为广泛,我们不仅在门禁、考勤系统中可以看到指纹识别技术的身影,市场上有了更多指纹识别的应用:如笔记本电脑、手机、汽车、银行支付都可应用指纹识别的技术,目前在芯片进行通性测试时用的设备,通常只能对一种形状的芯片进行检测,不能对其他形状的芯片进行检测。



技术实现要素:

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种指纹芯片导通性测试用装夹治具。

为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:

一种指纹芯片导通性测试用装夹治具,包括测试平台,所述测试平台的上端固定连接有检测机构,所述测试平台的上端设有第一凹槽,所述第一凹槽的底部固定连接有转动电机,所述转动电机的驱动轴竖直朝上设置,所述转动电机的驱动轴上同轴固定连接有第一皮带轮,所述第一凹槽的底部转动连接有支撑杆,所述支撑杆上同轴固定连接有第二皮带轮,所述第二皮带轮与第一皮带轮传动连接,所述支撑杆的上端固定连接有放置板,所述放置板位于测试平台的上方,所述放置板位于检测机构的正下方,所述放置板的上端设有多个第二凹槽,所述第二凹槽的内壁上设有第一滑槽,所述第一滑槽为环形槽,所述第一滑槽内设有多块第一滑块,所述第一滑块的侧壁上固定连接有水平板,所述水平板上设有上下连通的第一通孔,且第一通孔内贯穿设有固定杆,所述固定杆设置于水平板靠近第一滑槽的一端上,所述固定杆的下端与第二凹槽的底部活动连接,所述水平板远离第一滑槽的一端侧壁上设有第三凹槽,所述第三凹槽的顶面设有内外连通的第二通孔,且第二通孔的左右两端内壁上均设有上下连通的通槽,所述通孔内贯穿设有拉杆,所述拉杆的左右两端侧壁上均固定连接有挡板,所述挡板位于通槽内,所述拉杆的下端转动连接有连接板,所述连接板的上端固定连接有多个弹性机构,所述弹性机构的上端与第三凹槽的顶面固定连接,所述连接板的下端转动连接有连动杆,所述第三凹槽的底部滑动连接有滑动板,所述滑动板靠近第一滑槽的一端侧壁与连动杆远离连接板的一端转动连接,所述滑动板远离第一滑槽的一端侧壁上固定连接有水平杆,所述水平杆位于第三凹槽外的一端固定连接有用于芯片的固定板。

优选地,所述第二凹槽的设有多个固定孔,多个所述固定孔呈圆形排列设置,所述固定杆的下端位于固定孔。

优选地,所述第三凹槽的底部设有第二滑槽,所述第二滑槽内设有第二滑块,所述第二滑块的上端与滑动板的下端固定连接。

优选地,所述弹性机构包括固定设置于连接板上端的伸缩杆,所述伸缩杆的上端与第三凹槽的顶面固定连接,所述伸缩杆上套设有弹簧。

优选地,所述固定板远离水平杆的一端侧壁上固定连接有橡胶垫。

本实用新型中,根据芯片的形状调节第一滑块的位置,拉动拉杆带动固定板移动,将固定板向拉水平板拉进,将芯片放置于第二凹槽内,解除对拉杆的固定时在弹簧的作用下,使得固定板复位,能对芯片进行有效的固定,能有效的对不同形状的芯片进行有效的固定,提高装夹治具的使用范围,

通过电机工作转动放置板转动,便于检测机构多个第二凹槽内的芯片进行测试,能有效的提高芯片的测试的效率。

附图说明

附图1为本实用新型指纹芯片导通性测试用装夹治具的透视图;

附图2为附图1中的A处局部放大图;

附图3为本实用新型装夹治具中拉杆与通槽的连接结构示意图。

以上附图中:1、测试平台;2、检测机构;3、第一凹槽;4、转动电机;5、第一皮带轮;6、支撑杆;7、第二皮带轮;8、放置板;9、第二凹槽;10、第一滑槽;11、第一滑块;12、固定杆;13、水平板;14、拉杆;15、通槽;16、挡板;17、连接板;18、弹性机构;19、连动杆;20、滑动板;21、水平杆;22、固定板;23、第三凹槽;24、伸缩杆;25、弹簧;26、第二滑槽;27、第二滑块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。

参照图1-3,一种指纹芯片导通性测试用装夹治具,包括测试平台1,测试平台1的上端固定连接有检测机构2,测试平台1的上端设有第一凹槽3,第一凹槽3的底部固定连接有转动电机4,转动电机4的驱动轴竖直朝上设置,转动电机4的驱动轴上同轴固定连接有第一皮带轮5,第一凹槽3的底部转动连接有支撑杆6,支撑杆6上同轴固定连接有第二皮带轮7,第二皮带轮7通过皮带与第一皮带轮5传动连接,支撑杆6的上端固定连接有放置板8,放置板8位于测试平台1的上方,放置板8位于检测机构2的正下方,放置板8的上端设有多个第二凹槽9,多个第二凹槽9呈圆形排列设置,第二凹槽9的内壁上设有第一滑槽10,第一滑槽10为环形槽,第一滑槽10内设有多块第一滑块11,第一滑块11的侧壁上固定连接有水平板13,第一滑块11为凸形滑块,能有效的降低水平板13转动时与第二凹槽9内壁之间的摩擦力。

水平板13上设有上下连通的第一通孔,且第一通孔内贯穿设有固定杆12,固定杆12设置于水平板13靠近第一滑槽10的一端上,固定杆12的下端与第二凹槽9的底部活动连接,第二凹槽9的设有多个固定孔,多个固定孔呈圆形排列设置,固定杆12的下端位于固定孔,固定孔的数量大于固定杆12的数量,固定杆12位于固定孔内时,能对第一滑块11进行固定,水平板13远离第一滑槽10的一端侧壁上设有第三凹槽23,第三凹槽23的顶面设有内外连通的第二通孔,且第二通孔的左右两端内壁上均设有上下连通的通槽15,通孔内贯穿设有拉杆14,拉杆14的左右两端侧壁上均固定连接有挡板16,挡板16位于通槽15内,将拉杆14上提并使得挡板16位于水平板13所的上方,转动拉杆14使得挡板16与通槽15错位并与水平板13的上端相抵接触,继而能对拉杆14进行有效的固定,将固定板22固定与靠近水平板13的位置处,述拉杆14的下端转动连接有连接板17,连接板17的上端固定连接有多个弹性机构18,弹性机构18的上端与第三凹槽23的顶面固定连接,弹性机构18包括固定设置于连接板17上端的伸缩杆24,伸缩杆24的上端与第三凹槽23的顶面固定连接,伸缩杆24上套设有弹簧25,在解除挡板16对拉杆14的固定时,在弹簧25的作用下,用手牵引拉杆14,便于固定板22缓慢进行复位,连接板17的下端转动连接有连动杆19,第三凹槽23的底部滑动连接有滑动板20,第三凹槽23的底部设有第二滑槽26,第二滑槽26内设有第二滑块27,第二滑块27的上端与滑动板20的下端固定连接,便于滑动板20在第三凹槽23内滑动,滑动板20靠近第一滑槽10的一端侧壁与连动杆19远离连接板17的一端转动连接,滑动板20远离第一滑槽10的一端侧壁上固定连接有水平杆21,水平杆21位于第三凹槽23外的一端固定连接有用于芯片的固定板22,固定板22远离水平杆21的一端侧壁上固定连接有橡胶垫,固定板22在固定芯片时,能有效的降低其对芯片的影响,本文中的转动连接的具体连接结构和转动电机4均为现有技术,在此不做赘述。

本实用新型中,根据芯片的形状调节第一滑块11的位置,通过固定杆12对其进行有效的固定,拉动拉杆14向上移动,并转动拉杆14使得挡板16的下端与水平板13的上端相抵接触,通过拉杆14的向上移动,使得连接板17向上移动,通过连动杆19能带动滑动板20在第三凹槽23内滑动,通过水平杆21带动固定板22靠近水平板13移动,将芯片放置于第二凹槽9的底部,接触挡板16对拉杆14的固定作用,在弹簧25的作用固定板22进行复位,通过多块固定板22能对芯片进行有效的固定,便于检测机构2对芯片进行测试检测,转动电机4工作能带动放置板8转动,便于对多个第二凹槽9内的芯片进行测试。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施,并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

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