一种环形磁芯用多圈电感测试夹具的制作方法

本实用新型涉及电感测试技术领域，具体地说，涉及一种环形磁芯用多圈电感测试夹具。

背景技术：

在电子产品的设计中，常常会用到各种线圈电感器，电感器中的磁芯形状有多种，其中，环形磁芯为完整闭合磁路磁芯，主要用于抑制EMI电磁干扰的差模电感器和共模电感器中，这两种电感器均需要绕制多圈导线以达到相应地电感和阻抗要求。磁芯制造商往往需要抽检大量的环形磁芯，在抽检时需要测试绕制多圈下的电感量，环形电感器导线均绕制在磁芯表面，需要人工绕制10圈及以上，绕制过程及完成后需要仔细核查圈数是否多绕或者少绕，然后用LCR表测试相应性能，测试完电感量后还需拆除导线。每个抽检的磁芯都需要重复绕线、拆线过程，不仅大大增加了抽检时间，降低了抽检效率，增加了人工成本，而且，测试用铜导线在使用数次后，因弯折次数过多铜线绝缘表面损坏断裂而废弃，造成铜线的浪费，增加了制造成本。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于，提供一种环形磁芯用多圈电感测试夹具，以解决上述的技术问题。

为解决上述问题，本实用新型所采用的技术方案是：

一种环形磁芯用多圈电感测试夹具，其特征在于：包括上下扣合的上夹体和下夹体，所述上夹体和下夹体均呈圆环形状，且在上夹体上设有环形的上夹凹槽，在下夹体上设有环形的下夹凹槽，所述上夹体与下夹体扣合后，上夹凹槽与下夹凹槽构成一个环形腔体；所述上夹凹槽的外壁上均匀固定有若干个上夹体绕线，各个上夹体绕线的两端上分别设有上触点；所述下夹凹槽的外壁上均匀固定有若干个下夹体绕线，各个下夹体绕线的两端上分别设有与上触点一一对应的下触点；所述上夹体与下夹体扣合后，各上夹体绕线与各下夹体绕线通过上触点与下触点的一一对应相接，构成一条测试导线。

优选的：所述上触点为插柱式结构，所述下触点为凹槽式结构；各上触点与相对应的下触点之间插接扣合。

优选的：所述上夹体绕线、下夹体绕线分别镶嵌固定在上夹凹槽、下夹凹槽的外壳上。

有益效果：与现有技术相比，本实用新型的上夹体和下夹体内均设有凹槽，上夹体与下夹体扣合后，上夹凹槽与下夹凹槽构成一个用于放置多种型号环形磁芯的环形腔体，既能有效防止磁芯脱落，又能保证上、下夹具扣合时的紧密性；此外，上触点为插柱式结构，所述下触点为凹槽式结构，上触点与相对应的下触点之间插接扣合，有利于上、下触点之间的有效接触，导电效果好，从而能保证测试结果的准确性；上夹体绕线、下夹体绕线分别镶嵌固定在上夹凹槽、下夹凹槽的外壳上，不会磨损，从而能减少测试用绝缘铜导线的用量，降低制造成本。

附图说明

图1为本实用新型一种实施例的结构示意图；

图2为本实用新型中所述上夹体的结构示意图；

图3为本实用新型中所述下夹体的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步说明。

实施例：

参照图1-图3，本实施例所述的环形磁芯用多圈电感测试夹具，包括上下扣合的上夹体1和下夹体2，所述上夹体1和下夹体2均呈圆环形状，采用ABS工程塑料制作。在上夹体1上设有环形的上夹凹槽11，在下夹体2上设有环形的下夹凹槽21，所述上夹体1与下夹体2扣合后，上夹凹槽11与下夹凹槽21构成一个环形腔体；所述上夹凹槽11的外壁上均匀固定有若干个上夹体绕线31，各个上夹体绕线31的两端上分别设有上触点12；所述下夹凹槽21的外壁上均匀固定有若干个下夹体绕线32，各个下夹体绕线32的两端上分别设有与上触点12一一对应的下触点22；所述上夹体1与下夹体2扣合后，各上夹体绕线31与各下夹体绕线32通过上触点12与下触点22的一一对应相接，构成一条测试导线3。

所述上触点12为插柱式结构，所述下触点22为凹槽式结构；各上触点12与相对应的下触点22之间插接扣合。

所述上夹体绕线31、下夹体绕线32分别镶嵌固定在上夹凹槽11、下夹凹槽21的外壳上。

本实用新型的工作原理简述如下：

将待测试的环形磁芯放到上夹凹槽11与下夹凹槽21构成一个环形腔体内；扣合上夹体1与下夹体2，上触点11与下触点21一一对应插接扣合，各上夹体绕线31与各下夹体绕线32构成一条测试导线3；组合完成后，将LCR表的正负表笔与引出的测试导线3的两端相连接，测试出需要的电感值和阻抗值即可。

以上仅为本实用新型的实施方式，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理在本实用新型的专利保护范围之内。