校准辅助设备及校准系统的制作方法

本实用新型涉及集成电路技术领域，特别涉及一种校准辅助设备及校准系统。

背景技术：

随着集成电路技术的发展，各种各样芯片的应用也越来越广泛，芯片的质量的重要性也日益增大，集成电路测试设备能够对芯片进行测试，是保障芯片质量的关键。

现有技术中，需要定期将待校准的集成电路测试设备进行脱产维护和计量，接入专用的校准设备，该校准设备中设置有校准仪表，从而通过该校准设备中的校准仪表，对该待校准的集成电路测试设备中的仪表进行校准。

但由于需要依赖专用的校准设备，因而需要定期对待校准的集成电路测试设备进行脱产维护和计量，实施难度较大、生产成本较高。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种校准辅助设备及校准系统，降低了维护和计量的实施难度以及生产成本。

为实现上述目的，本实用新型实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本实用新型实施例提供了校准辅助设备，包括：信号转接板；所述信号转接板设置有第一信号接口、第二信号接口和信号转接电路，所述第一信号接口与待校准的集成电路测试设备的数据出接口匹配，所述第二信号接口与校准仪表的数据入接口匹配，所述信号转接电路分别与所述第一信号接口和所述第二信号接口电连接。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种校准系统，包括前述的校准辅助设备、校准仪表和计算设备；所述校准辅助设备通过所述第一信号接口与所述待校准的集成电路测试设备电连接，通过所述第二信号接口与所述校准仪表电连接；所述校准仪表和所述待校准的集成电路测试设备分别与所述计算设备通信连接；所述计算设备用于控制所述校准仪表和所述待校准的集成电路测试设备。

本实用新型的有益效果是：

在本新型实施例中，校准辅助设备包括信号转接板，且信号转接板包括第一信号接口和第二信号接口和信号转接电路。第一信号接口与待校准的集成电路测试设备的数据出接口匹配，因此能够从待校准的集成电路测试设备中获取待校准的模块或仪表发出的待校准信号。信号转接电路分别与第一信号接口和第二信号电连接，因此能够将从第一信号接口接收到的待校准信号转接至第二信号接口。第二信号接口与校准仪表的数据入接口匹配，因此，能够通过数据入接口，将待校准信号传输至校准仪表，从而确保了校准仪表能够基于所获取到的待校准信号，对待校准的集成电路测试设备中的模块或仪表进行校准。也即是，无需将待校准的集成电路测试设备进行脱产，即可进行维护和计量，降低了维护和计量的实施难度以及生产成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种校准辅助设备的结构框图；

图2为本实用新型实施例提供的另一种校准辅助设备的结构框图；

图3为本实用新型实施例提供的又一种校准辅助设备的结构框图；

图4为本实用新型实施例提供的校准系统的结构框图。

图标：100-校准辅助设备；101-信号转接板；1011-第一信号接口；10111-第一信号子接口；1012-第二信号接口；10121-第二信号子接口；1013-信号转接电路；200-校准仪表；300-计算设备；400-待校准的集成电路测试设备。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参照图1，提供了一种校准辅助设备100的结构框图。该设备包括：信号转接板101；所述信号转接板101设置有第一信号接口1011、第二信号接口1012和信号转接电路1013，所述第一信号接口1011与待校准的集成电路测试设备400(图1未示出)的数据出接口匹配，所述第二信号接口1012与校准仪表200(图1未示出)的数据入接口匹配，所述信号转接电路1013分别与所述第一信号接口1011和所述第二信号接口1012电连接。

由于将待校准的集成电路测试设备400脱产维护和计量的方式，实施难度较大且生产成本较高，因此，为解决这一问题，本实用新型实施例提供了一种校准辅助设备100。该校准辅助设备100包括信号转接板101，且信号转接板101包括第一信号接口1011和第二信号接口1012和信号转接电路1013。第一信号接口1011与待校准的集成电路测试设备400的数据出接口匹配，因此能够从待校准的集成电路测试设备400中获取待校准的模块或仪表发出的待校准信号。信号转接电路1013分别与第一信号接口1011和第二信号接口1012电连接，因此能够将从第一信号接口1011接收到的待校准信号转接至第二信号接口1012。第二信号接口1012与校准仪表200的数据入接口匹配，因此，能够通过数据入接口，将待校准信号传输至校准仪表200，从而确保了校准仪表200能够基于所获取到的待校准信号，对待校准的集成电路测试设备400中的模块或仪表进行校准。也即是，无需将待校准的集成电路测试设备400进行脱产，即可进行维护和计量，降低了维护和计量的实施难度以及生产成本。

信号转接板101用于将待校准的集成电路测试设备400中的待校准信号，转接至校准仪表200。

其中，该信号转接板101可以包括集成电路板，上述的信号转接电路1013即可设置在该集成电路板上。该信号转接电路1013用于将来自第一信号接口1011的待校准信号转接至第二信号接口1012。当然，在实际应用中，该信号转接板101还可以包括数据选择器或总线等其它电气组件。

所转接的待校准信号可以由待校准的集成电路测试设备400中的待校准的模块或仪表(比如计频器、高精度万用表和示波器等)生成，该待校准信号可以包括电压、电流或方波等。

第一信号接口1011用于接入待校准的集成电路测试设备400的待校准信号，并与该待校准的集成电路测试设备400的数据出接口匹配。

其中，数据出接口为待校准的集成电路测试设备400用于输出待校准信号的接口，该数据出接口可以包括引脚或插头等。相应的，第一信号接口1011可以包括对应的设置的针孔或插孔等。当然，在实际应用中，数据出接口可以包括针孔或插孔，相应的，第一信号接口1011可以包括对应设置的引脚或插头。

第二信号接口1012用于信号转接电路1013所转接的待校准信号输出至校准仪表200，并与该校准仪表200的数据入接口匹配。

其中，数据入接口为校准仪表200用于输入待校准信号的接口，该数据出接口可以包括引脚或插头等。相应的，第二信号接口1012可以包括对应的设置的针孔或插孔等。

可选的，由于待校准的集成电路测试设备400中可能会包括对应于直流信号的模块或仪表，也可能会包括对应于交流信号的模块或仪表，直流信号和交流信号需要通过不同的方式进行转接，因此，为了确保对来自待校准的集成电路测试设备400的待校准信号进行转接的安全性和可靠性，进而提高校准辅助设备100的安全性和可靠性，所述信号转接电路1013包括直流信号转接电路和交流信号转接电路中的至少一种。

直流信号转接电路用于对直流信号进行转换，交流信号转换电路用于对交流信号进行转换。

其中，信号转接板101可以包括至少一个信号转接电路1013。当只包括一个信号转接电路1013时，可以分别通过多个信号转接板101对获取到的待校准信号进行转换，用户可以基于校准需求，手动更换信号转接板101。当包括多个转接电路时，信号转接板101可以设置有转换开关，由用户手动切换转换开关以确定所采用的信号转接电路1013，或者，对接收到的待校准信号的来源或类型进行判断，进而确定所采用的信号转接电路1013。当然，在实际应用中，若信号转接板101可以包括多个信号转接电路1013时，还可以通过其它方式确定对待校准信号进行转换所采用的信号转接电路1013。

可选的，由于待校准的集成电路测试设备400中可能包括多个需要校准模块或仪表以及其它原因，待校准的集成电路测试设备400可能包括多个数据子接口，因此，为了提高获取到待校准信号的可靠性，进而提高对待校准的集成电路测试设备400进行校准的可靠性，请参照图2，所述第一信号接口1011包括多个第一信号子接口10111，所述数据出接口包括多个数据子出接口，第一信号子接口10111与数据子出接口一一对应。

在本新型实施例的另一可选实施例中，为了对多个待校准的集成电路测试设备400进行校准，进一步提高校准的效率，当第一信号接口1011包括多个第一信号子接口10111时，多个第一信号子接口10111可以分别与不同待校准的集成电路测试设备400的数据接口或数据子出接口一一对应，从而获取到来自多个待校准的集成电路测试设备400的待校准信号。

可选的，由于可能需要基于来自不同信号子接口的待校准信号进行校准，或者基于其它原因，为了向多个校准设备提供待校准信号，提高校准的效率和可靠性，请参照图3，所述第二信号接口1012包括多个第二信号子接口10121。

可选的，由前述可知，第一信号子接口10111可能对应于待校准的集成电路测试设备400中不同的模块或仪表，即对与不同模块或仪表，可能需要通过不同类型的校准仪表200进行校准，或者，对于同一模块或仪表，也可能需要通过不同类型的校准仪表200进行校准，因此，为了提高校准的准确性，所述多个第二信号子接口10121分别对应不同类型的所述校准仪表200。

其中，对于不同的第二信号子接口10121，可以分别与所对应类型的校准仪表200的数据入接口相对应。

可选的，由于校准仪表200可能会存在不准确的问题，所以为了通过多个同一类型得到校准仪表200，对待校准的集成电路测试设备400中同一模块或仪表进行校准，以进一步提高校准的准确性，所述多个第二信号子接口10121对应相同类型的所述校准仪表200。

可选的，由前述可知，可能需要同时向多个校准仪表200输出待校准信号，或者，也可能校准仪表200包括多个数据子入口，因此，所述数据入接口包括多个数据子入接口，第二信号子接口10121与数据子入接口一一对应。

其中，第二信号子接口10121可以与所对应的信号子入口相匹配。

可选的，由于待校准信号生成和传输的过程中均可能受到干扰，所以在对待校准的集成电路测试设备400进行校准时，可能需要对所获取的待校准信号进行修正、过滤或筛选等处理，因此，为了进一步提供校准的可靠性，所述校准辅助设备100还包括处理器，所述处理器集成在所述信号转接板101上，且与所述第一信号接口1011电连接，所述处理器用于对来自所述第一信号接口1011的信号进行处理。

其中，处理器可以包括CPU(Central Processing Unit，中央处理器)。

当然，在实际应用中，处理器也可以基于待校准信号进行其它处理。

可选的，由于在对待校准的集成电路测试设备400进行校准时，可能需要在该待校准的集成电路测试设备400接入芯片的情况下进行，因此，为了进一步提高校准的准确性和可靠性，或者，在不影响对芯片测试的情况下，对待校准的集成电路测试设备400进行测试，进一步降低校准的实施难度和生产成本，所述信号转接板101还设置有芯片接口，所述芯片接口用于接入所述待校准的集成电路测试设备400所测试的芯片，所述芯片接口与所述第一信号接口1011电连接。

其中，芯片接口为接入芯片的接口。该芯片接口可以包括与待测试芯片匹配的插槽。当然，在实际应用中，芯片接口还可以包括其它形式的接口。

在本实用新型实施例中，校准辅助设备400包括信号转接板101，且信号转接板101包括第一信号接口1011和第二信号接口1012和信号转接电路013。第一信号接口1011与待校准的集成电路测试设备400的数据出接口匹配，因此能够从待校准的集成电路测试设备400中获取待校准的模块或仪表发出的待校准信号。信号转接电路400分别与第一信号接口1011和第二信号接口1012电连接，因此能够将从第一信号接口1011接收到的待校准信号转接至第二信号接口1012。第二信号接口1012与校准仪表200的数据入接口匹配，因此，能够通过数据入接口，将待校准信号传输至校准仪表200，从而确保了校准仪表200能够基于所获取到的待校准信号，对待校准的集成电路测试设备400中的模块或仪表进行校准。也即是，无需将待校准的集成电路测试设备400进行脱产，即可进行维护和计量，降低了维护和计量的实施难度以及生产成本。

请参照图4，本实用新型实施例提供了一种校准系统，包括如前任一所述的校准辅助设备100、校准仪表200和计算设备300，所述校准辅助设备100通过所述第一信号接口1011与所述待校准的集成电路测试设备400电连接，通过所述第二信号接口1021与所述校准仪表200电连接，所述校准仪表200和所述待校准的集成电路测试设备400分别与所述计算设备300通信连接，所述计算设备300用于控制所述校准仪表200和所述待校准的集成电路测试设备400。

其中，计算设备300中可以安装并运行与校准相关的应用程序，比如用于控制待校准的集成电路测试设备400的应用程序，以及用于与校准仪表200配合使用的应用程序等。

当通过校准系统，对待校准的集成电路测试设备400进行校准时，可以通过计算设备300控制待校准的集成电路测试设备400中待测试的模块或仪表发出待校准信号。该待测试的模块或仪表基于时钟源所发出的基准时钟信号发出电压、电流或方波等待校准信号。校准辅助设备100通过第一信号接口1011接收该待校准信号，并该待校准信号转接至第二信号接口1012。校准仪表200获取到该待校准信号，并将校准结果反馈至计算设备300。

校准结果为基于待校准信号，对待校准的集成电路测试设备400中待校准的模块或仪表进行校准的结果。比如，可以包括待校准信号所否在误差范围内、对待校准模块或仪表的故障分析和展示等。

在本实用新型实施例中，校准系统包括校准辅助设备100、校准仪表200和计算设备300。其中，校准辅助设备100包括信号转接板101，且信号转接板101包括第一信号接口1011和第二信号接口1012和信号转接电路10132。第一信号接口1011与待校准的集成电路测试设备400的数据出接口匹配，因此能够从待校准的集成电路测试设备400中获取待校准的模块或仪表发出的待校准信号。信号转接电路400分别与第一信号接口1011和第二信号接口1012电连接，因此能够将从第一信号接口1011接收到的待校准信号转接至第二信号接口1012。第二信号接口1012与校准仪表200的数据入接口匹配，因此，能够通过数据入接口，将待校准信号传输至校准仪表200，从而确保了计算设备300和校准仪表200能够基于所获取到的待校准信号，对待校准的集成电路测试设备400中的模块或仪表进行校准。也即是，无需将待校准的集成电路测试设备400进行脱产，即可进行维护和计量，降低了维护和计量的实施难度以及生产成本。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。