技术总结
本专利公开了一种高精度测量激光测距系统性能的装置，该方法是利用分色片的分光功能，将带有刻线的分划板与激光光纤端面等距离的固定到分色片两侧，通过光纤将延时回波发生器组件产生的激光经过平行光管发射至被检设备。该装置可以用于激光测距系统中的激光发散角、光斑能量以及激光测距系统测距能力的检测，还可用于标定被检设备激光收发的光轴偏差。该专利适用于各种激光测距系统性能的实时标定，也适用于主被动结合的光电系统收发同轴检测等领域，该系统焦面模块固定、定标方法简单、价格低廉。
技术研发人员：王天洪;何志平;郭颖;黄庚华;吴金才;舒嵘
受保护的技术使用者：中国科学院上海技术物理研究所
技术研发日：2018.08.20
技术公布日：2019.05.24