一种集成电路直流测试手动探针装置的制作方法

本实用新型涉及电子芯片测试设备技术领域，具体为一种集成电路直流测试手动探针装置。

背景技术：

随着我国科技的快速发展，各种电子设备应用的越来越广泛，电子设备都有着无法替代的作用，电子设备中最重要的就是电子芯片，电子芯片在生产后需要进行相应的检测，将不符合要求的芯片进行淘汰，集成电路的体积越来越小、功能越来越多，更高的集成度导致芯片面积越来越小，所需的测试要求探针越来越细，各个探针间距越来越近，对集成电路测试，尤其是研发阶段大量应用的手动测试、在片测试提出新的挑战。

传统装置有如下不足：

1、由于集成电路芯片的规格越来越小，一块集成电路芯片需要检测的点较多，人工手动控制探针检测时比较麻烦，大大增加检测工人的工作量，同时检测装置固定芯片的装置都是固定不动，需要人工手动调节基座，严重的影响了测试效率；

2、由于探针的规格越来越细，探针长时间的工作与集成电路芯片刚性接触，探针容易损坏，同时探针的外侧没有相应的保护装置，在不工作的状态下很容易弄弯，影响探针的使用寿命，同时探针较细，容易对检测工人的手造成伤害。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种集成电路直流测试手动探针装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路直流测试手动探针装置，包括固定底座，所述固定底座下表面上的两侧均固定安装有支撑座，所述固定底座上表面上的两侧均固定安装有支撑板，所述支撑板上设置有凹槽，所述支撑板上于凹槽的上端设置有调节杆，所述调节杆的两端均通过轴承活动安装在支撑板上，所述调节杆上固定安装有若干个调节块，所述调节块的下端设置有活动板，所述活动板的两侧均与凹槽滑动连接，所述活动板上通过开设圆孔设置有探针，所述探针的上端固定安装有挡板，所述挡板的下表面上固定安装有第一弹簧，所述第一弹簧的下端与活动板的上表面固定连接，所述活动板的下表面上于探针的外侧固定安装有限位管，所述探针的下端于限位管的内部固定安装有固定板，所述固定板的两侧均与限位管的内侧壁滑动连接，所述固定板的下表面上固定安装有第二弹簧，所述第二弹簧的下端与限位管内部的下端面固定连接，所述固定底座上于探针的下端通过设置有空腔活动安装有卡座，所述卡座上表面上的两侧均固定安装有卡板。

优选的，所述支撑板上于凹槽的底部固定安装有第三弹簧，所述第三弹簧的上端与活动板固定连接。

优选的，所述调节块的数量至少有三块，所述调节块为椭圆形。

优选的，所述卡座上于固定底座的一侧固定安装有推动块。

优选的，所述卡板上通过开设螺纹孔螺纹连接有螺栓，所述螺栓远离支撑板的一端固定安装有定位板。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过在支撑板上活动安装有调节杆，调节杆上转动固定安装有若干块调节块，通过转动调节杆，调节块随着调节杆一起转动，对行挡板和活动板进行快速挤压，可以实现探针快速伸缩进行测试，同时固定底座上活动设置有卡座，通过推动或者拉动推动块，可以对卡座的位置进行调节，方便探针对集成电路芯片上不同的位置进行测试，简化测试工作，提高集成电路芯片的测试效率，不需要手动调节基座的位置，减轻工作人员的负担；

2、本实用新型通过在探针的下端固定安装有固定板，固定板的下端固定安装有第二弹簧，第二弹簧的下端与限位管内部的下端面固定连接，通过固定板和第二弹簧的作用，可以起到很好的缓冲作用，避免探针与集成电路芯片直接刚性接触，对探针进行保护，同时在正常情况下探针的下端会收缩在限位管内，对探针进行保护，避免受到损害以及对检测人员造成伤害，更加符合市场需求。

附图说明

图1为本实用新型一种集成电路直流测试手动探针装置整体主视图；

图2为本实用新型一种集成电路直流测试手动探针装置整体侧视图；

图3为本实用新型一种集成电路直流测试手动探针装置探针与限位管连接示意图。

图中：1、固定底座；2、支撑座；3、支撑板；4、调节杆；5、调节块；6、活动板；7、探针；8、挡板；9、第一弹簧；10、限位管；11、固定板；12、第二弹簧；13、卡座；14、卡板；15、推动块；31、凹槽；32、第三弹簧；141、螺栓；142、定位板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种集成电路直流测试手动探针装置，包括固定底座1，所述固定底座1下表面上的两侧均固定安装有支撑座2，所述固定底座1上表面上的两侧均固定安装有支撑板3，所述支撑板3上设置有凹槽31，所述支撑板3上于凹槽31的上端设置有调节杆4，所述调节杆4的两端均通过轴承活动安装在支撑板上3，所述调节杆4上固定安装有若干个调节块5，所述调节块5的下端设置有活动板6，所述活动板6的两侧均与凹槽31滑动连接，所述活动板6上通过开设圆孔设置有探针7，所述探针7的上端固定安装有挡板8，所述挡板8的下表面上固定安装有第一弹簧9，所述第一弹簧9的下端与活动板6的上表面固定连接，所述活动板6的下表面上于探针7的外侧固定安装有限位管10，所述探针7的下端于限位管10的内部固定安装有固定板11，所述固定板11的两侧均与限位管10的内侧壁滑动连接，所述固定板11的下表面上固定安装有第二弹簧12，所述第二弹簧12的下端与限位管10内部的下端面固定连接，所述固定底座1上于探针7的下端通过设置有空腔活动安装有卡座13，所述卡座13上表面上的两侧均固定安装有卡板14。

所述支撑板3上于凹槽31的底部固定安装有第三弹簧32，所述第三弹簧32的上端与活动板6固定连接，有利于活动板6受到调节块5的挤压后可以快速自动复位；所述调节块5的数量至少有三块，所述调节块5为椭圆形，有利于保证挡板8受力均匀，防止探针7出现偏移的现象；所述卡座13上于固定底座1的一侧固定安装有推动块15，有利于调节卡座13的位置；所述卡板14上通过开设螺纹孔螺纹连接有螺栓141，所述螺栓141远离支撑板3的一端固定安装有定位板142，有利于对不同规格的芯片进行更有效的固定。

工作原理：在对集成电路芯片进行测试时，首先将集成电路芯片放置在卡板14之间，然后转动螺栓141，通过定位板142对芯片进行固定，将芯片固定好后，测试人员一只手转动调节杆4，调节块5随着调节杆4一起转动，调节块5较长的一端对挡板8进行挤压，挡板8会带动探针7向下运动，与芯片进行接触检测，在第一弹簧9和第二弹簧12的作用下，挡板8和探针7会快速复位，方便进行下一侧检测，同时测试人员的另一手推动或者拉动推动块15，调节卡座13的位置，方便探针7更好对芯片上的各个点进行测试，本装置方便探针对集成电路芯片上不同的位置进行测试，简化测试工作，提高集成电路芯片的测试效率，不需要手动调节基座的位置，减轻工作人员的负担，有很好的缓冲作用，避免探针7与集成电路芯片直接刚性接触，对探针7进行保护，同时在正常情况下探针7的下端会收缩在限位管10内，对探针7进行保护，避免受到损害以及对检测人员造成伤害，更加符合市场需求。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。