一种芯块尺寸测量装置的制作方法

本实用新型涉及一种芯块尺寸测量装置。

背景技术：

目前芯块外观尺寸测量主要依靠人工使用接触式测量工具进行测量，其依赖于人员素质，劳动强度大，并且测量精度不高。

技术实现要素：

本实用新型的目的是为了解决上述技术问题，提供一种芯块尺寸测量装置，该装置具有结构简单、集成度高、稳定性好、测量精度高且调试方便的特点。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

一种芯块尺寸测量装置，其特征在于，包括平台、一维直线运动装置、芯块定位工装、特制料盘、几何尺寸测量结构和线激光扫描装置；所述一维直线运动装置包括设置在平台上的电动平移台，及设置在电动平移台侧面的光栅尺，所述芯块定位工装包括设置在电动平移台上的定位架，及设置在定位架上方中部芯块定位凸起，所述芯块定位凸起上设有与待测芯块相匹配的定位槽；所述特制料盘设置在平台上、并与电动平移台前端相抵；所述几何尺寸测量结构包括设置平台上的光学发射器和光学接收器，所述光学发射器与光学接收器对称设置在电动平移台两侧；所述线激光扫描装置包括设置在平台上的扫描支架，及设置在扫描支架上并位于电动平移台正上方的位移测量传感器。

具体的说，所述位移测量传感器、光学发射器和光学接收器位于同一纵向平面上。

具体的说，所述扫描支架为门形扫描支架或L形扫描支架。

进一步的，还包括设置在最外围的长方体形防护罩，所述平台即设置在防护罩内底部，所述防护罩正面设置为平开门，防护罩两侧可拆卸安装有检修隔板。

进一步的，所述防护罩底部均匀设有至少三个支撑柱。

更进一步的，所述特制料盘呈长方体形，其上方均匀设有若干与待测芯块相匹配的安装槽。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

(1)本实用新型结构紧凑，稳定性好，平行度高，其在运行过程中不会因外界震动而影响设备检测精度。

(2)本实用新型设置了芯块几何尺寸测量系统，采用非接触光电式测方法，可一次性完成芯块尺寸的测量。同时，本实用新型设置了垂直度自动测量系统，能满足芯块两端肩宽相对于柱面垂直度的自动化测量。并且，该两个系统可对芯块所需测量的几何尺寸和垂直度同时自动测量，也可按需要分别进行测量

附图说明

图1为本实用新型主视图。

图2为本实用新型防护罩内装置的结构示意图。

图3为本实用新型防护罩结构示意图。

其中，附图标记对应的名称为：

1-平台，2-电动平移台，3-光栅尺，4-定位架，5-定位凸起，6-光学发射器，7-光学接收器，8-扫描支架，9-位移测量传感器，10-防护罩，11支撑柱，12-特制料盘。

具体实施方式

下面结合附图说明和实施例对本实用新型作进一步说明，本实用新型的方式包括但不仅限于以下实施例。

本实施例的目的是为了提供一种结构简单、集成度高、稳定性好、测量精度高且调试方便的芯块尺寸测量装置，如图1～图3所示，该装置包括防护罩10、平台1、一维直线运动装置、芯块定位工装、特制料盘、几何尺寸测量结构和线激光扫描装置，所述几何尺寸测量结构和线激光扫描装置位于同一纵向平面，其围合后可在一维直线运动装置上方形成一个测量工位，以便于芯块定位工装移动到该测量工位时能够进行几何尺寸的测量和/或芯块垂直度的测量。

其中，防护罩10整体呈长方体形，用于将测量装置的各零部件罩设其中，起到防护作用，为使其稳定性更强，所述平台1即固定设置在防护罩10内底部。防护罩10的正面设置为平开门，方便放置待测芯块及整个测量操作，而防护罩10左右两侧则设置为检修隔板，检修隔板与防护罩主体卡接，便于随时取下或安装，以便于对内部的各零部件进行清洁、维护及检修。此外，该防护罩10底部四个角落处还各设有一个支撑住11，该支撑柱将整个装置支撑起来，达到一定的抗震动的作用。

所述一维直线运动装置包括设置在平台1上的电动平移台2，及设置在电动平移台侧面的光栅尺3，其中，电动平移台2可选用TGB品牌系列的运动模组，并选用松下MINAS-A5系列的交流伺服电机，以提高运动精度，而光栅尺则配备雷尼绍光栅尺，其共同作用，以将芯块平稳运送至测量工位。所述特制料盘12呈长方体形，其上方均匀设有若干与待测芯块相匹配的安装槽，特制料盘放置在平台上且后侧与电动平移台2前端相抵。所述芯块定位工装包括设置在电动平移台上的定位架4，及设置在定位架上方中部芯块定位凸起5，所述芯块定位凸起上设有与待测芯块相匹配的定位槽，该定位槽可使芯块物料测量过程中位置相对固定，以确保不会因为芯块在测量工位上的轻微位置变化而影响测量结果，为为了防止影响芯块测量，所述定位凸起采用奥氏体不锈钢材料制成。在测量时，电动平移台2带动芯块定位工装运动至特制料盘12的料盘口，人工夹取待测芯块放置于平台上芯块定位工装的定位槽内，电动平移台2带动待测芯块至测量工位，完成待测芯块一个端面的尺寸测量；电动平移台2再带动待测芯块出测量工位，人工翻面待测芯块，再使电动平移台2带动待测芯块至测量工位测量另一端尺寸；测量完待测芯块两面尺寸后，电动平移台2运动回特制料盘12的料盘口，人工将芯块放回特制料盘，再对下一块芯块进行测量，如此反复直至完成所有测量。

所述几何尺寸测量结构包括设置平台上的光学发射器6和光学接收器7，所述光学发射器与光学接收器对称设置在电动平移台2两侧，该设置构成了芯块几何尺寸测量系统，当待测芯块被移动至测量工位时，光学发射器的激光头可将光线均与照射到芯块上，光学接收器7上的成像组件接收到的芯块的明暗边缘图像，实现对芯块直径及高度的多点测量。

所述线激光扫描装置包括门形扫描支架8和位移测量传感器9，所述门形扫描支架8两端以电动平移台2为轴对称设置在平台1上，而位移测量传感器9则设置在扫描支架8前方，当芯块定位工装移动至测量工位时，位移测量传感器9即位于定位槽的正上方，该设置构建了芯块垂直度自动测量系统，能满足芯块两端肩宽相对于柱面垂直度的自动化测量。

上述实施例仅为本实用新型的优选实施方式之一，不应当用于限制本实用新型的保护范围，但凡在本实用新型的主体设计思想和精神上作出的毫无实质意义的改动或润色，其所解决的技术问题仍然与本实用新型一致的，均应当包含在本实用新型的保护范围之内。