1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置(100)包括：底板、料盘(110)、支撑结构、至少一对测试探头；
所述料盘(110)安装在所述底板上，且能够沿待检测电路板的宽度方向移动，所述料盘(110)上设置有多个卡槽，每一所述卡槽用于放置一个所述待检测电路板；
所述测试探头被设置于所述支撑结构上，且所述测试探头均能够沿所述待检测电路板的长度和厚度方向移动，一对所述测试探头中的每一所述测试探头分别用于与所述待检测电路板上的不同测试点连接，形成测试回路。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，在所述料盘(110)沿所述待检测电路板的宽度方向移动时，所述待检测电路板能够被移动到所述测试探头的测试区域，并且所述测试探头能够沿所述待检测电路板的宽度方向在所述测试探头的测试区域内移动。
3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述测试探头包括：弹性针连接器(20)、射频电缆(21)和倒T型工装(22)，所述倒T型工装包括一个小平板和与所述小平板连接的竖杆；
所述弹性针连接器(20)穿过所述小平板上的孔洞与所述射频电缆(21)的一端相连，所述射频电缆(21)的一端靠近所述底板，另一端远离所述底板；
所述弹性针连接器(20)靠近所述底板的一端与所述小平板朝向所述底板的表面位于同一平面内，或，所述弹性针连接器(20)靠近所述底板的一端凸出于所述小平板朝向所述底板的表面，其中，所述弹性针连接器(20)靠近所述底板的一端用于与所述待检测电路板上的测试点连接。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述测试探头还包括压紧底板(23)和压紧盖板(26)；
所述压紧盖板(26)与所述压紧底板(23)相扣合以形成容纳部，沿垂直于所述底板的上表面所在平面的方向，所述射频电缆(21)贯穿所述容纳部；
沿垂直于所述底板的上表面所在平面的方向，所述小平板位于所述压紧底板(23)靠近所述底板的一端，且所述竖杆穿过固定于所述压紧底板(23)内侧的轴孔(28)被固定在所述压紧底板(23)上，所述底板的上表面是指所述底板的朝向所述料盘的表面。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述测试探头还包括力传感器(25)和固定件(24)，
沿垂直于所述底板的上表面所在平面的方向，所述力传感器(25)位于所述压紧底板(23)远离所述底板的一端，所述固定件(24)将所述力传感器(25)固定于所述压紧底板(23)的端部；
所述力传感器(25)和所述竖杆远离所述小平板的一端相连。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试装置还包括：摄像机，所述摄像机位于所述测试探头(121)上，能够跟随所述测试探头移动；所述摄像机用于获取所述待检测电路板的图像，以便于根据获取的所述图像确定所述待检测电路板上的测试点的位置。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述料盘(110)上分布有一个或多个的小孔，所述小孔沿所述料盘(110)的厚度方向贯穿所述料盘(110)，所述小孔用于为所述摄像机获取所述待检测电路板的图像提供光照。
8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述料盘(110)上还设置了至少一个定位销,所述定位销用于对放置在所述卡槽中的待检测电路板进行定位。
9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述支撑结构包括一个或多个龙门组架，所述龙门组架沿所述待检测电路板的厚度方向固定于所述底板上，所述测试探头被设置在所述龙门组架上。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述支撑结构还包括第一滑动组件、第二滑动组件和第三滑动组件；
所述第一滑动组件位于所述龙门组架的横梁上，且能够沿所述待检测电路板的长度方向滑动，所述测试探头与所述第一滑动组件固定连接，且能够跟随所述第一滑动组件沿所述待检测电路板的长度方向滑动；
所述第二滑动组件套接于所述第一滑动组件上，且能够沿所述待检测电路板的宽度方向滑动，所述测试探头与所述第二滑动组件固定连接，且能够跟随所述第二滑动组件沿所述待检测电路板的宽度方向滑动；
所述第三滑动组件套接于所述第二滑动组件上，且能够沿所述待检测电路板的厚度方向滑动，所述测试探头与所述第三滑动组件固定连接，且能够跟随所述第三滑动组件沿所述待检测电路板的厚度方向滑动。
11.根据权利要求9或10所述的装置，其特征在于，在所述支撑结构包括多个所述龙门组架时，所述龙门组架的数量与至少一对所述测试探头的数量相同，且所述龙门组架和所述测试探头是一对一的，每一所述测试探头位于对应的所述龙门组架上。
12.根据权利要求9或10所述的装置，其特征在于，在所述支撑结构包括一个所述龙门组架时，至少一对所述测试探头内的每一所述测试探头均位于一个所述龙门组架上。
13.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待检测电路板上包括至少一对测试点，其中一对所述测试点为第一测试点和第二测试点，至少一对所述测试探头中的其中一对测试探头为第一测试探头(121)和第二测试探头(122)，则所述第一测试探头(121)与所述第一测试点连接，所述第二测试探头(122)与所述第二测试点连接，以使所述第一测试点和所述第二测试点形成测量回路，且所述第一测试探头(121)与所述第一测试点以及所述第二测试探头(122)和所述第二测试点之间均保持阻抗连续。
14.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置(100)包括：底板、料盘(110)、支撑结构、至少一对测试探头；
所述料盘(110)安装在所述底板上，所述料盘(110)上设置有一个或多个卡槽，每一所述卡槽用于放置一个待检测电路板；
所述测试探头被设置于所述支撑结构上，且所述测试探头能够沿所述待检测电路板的长度、宽度和厚度方向移动，一对所述测试探头中的每一所述测试探头分别用于与所述待检测电路板上的不同测试点连接，形成测试回路。
15.根据权利要求14所述的测试装置，其特征在于，在所述料盘上设置有多个卡槽时，所述支撑结构能够沿所述待检测电路板的宽度方向移动到所述待检测电路板的测试区域，且所述测试探头能够沿所述待检测电路板的宽度方向在所述待检测电路板的测试区域移动。
16.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括：如权利要求1至15任一项所述的测试装置、工控机(190)；
所述工控机设置于所述测试装置上，且与所述测试装置中的力传感器(25)相连接，所述工控机从所述力传感器(25)处获取压力信号，根据所述压力信号确定压力值，将所述压力值与阈值相比较，根据比较结果控制所述测试探头移动或静止。
17.根据权利要求16所述的设备，其特征在于，还包括外壳(220)和风扇(210)，所述测试装置、所述工控机(190)和风扇(210)均位于所述外壳(220)的腔体内；
所述风扇设置在所述外壳(220)与所述测试装置之间，且与所述外壳(220)上的通风口相对放置，用于为所述测试装置或所述工控机中的至少一个散热。
18.根据权利要求17所述的设备，其特征在于，还包括工作窗(230)，所述工作窗(230)开设在所述外壳(220)上，用于提供人机交互的窗口。
19.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：如权利要求16至18任一项所述的测试设备、网络分析仪和计算机，所述网络分析仪的一端与所述测试设备中的待检测电路板相连，另一端与所述计算机相连；
所述网络分析仪获取所述待检测电路板的插损信号，对所述插损信号进行分析得到插损结果，并将所述插损结果反馈给所述计算机；
所述计算机根据所述插损结果判断所述待检测电路板是否合格。
20.根据权利要求19所述的测试系统，其特征在于，所述计算机还与所述测试设备中的工控机相连，用于在确定出需要测试的待检测电路板的测试点后，向所述工控机发送指令，所述工控机接收所述指令，并根据所述指令驱动测试探头运动到所述测试点处与所述测试点连接，以实现对所述测试点的测试。