技术总结
本实用新型涉及齿轮检测领域，具体涉及一种齿轮接触斑点检验装置，包括第一支撑架、第二支撑架、平尺、水平仪、千分尺，第一支撑架上用于放置待检大齿轮组件，第二支撑架上用于放置待检小齿轮组件，第一支撑架和第二支撑架固定设置在底座上，平尺设置在待检大齿轮组件和待检小齿轮组件两轴轴颈上，平尺上方用于放置水平仪，待检大齿轮组件和待检小齿轮组件两轴轴颈之间用于放置千分尺。本实用新型可以对各类不同形状和大小的圆柱齿轮组件的齿轮接触斑点进行检验，实用范围广，降低检测成本。
技术研发人员：何勇军;吴春桥;杨震;杜轶川;龙安木;苑晓丹;肖国正
受保护的技术使用者：重庆齿轮箱有限责任公司
技术研发日：2018.09.05
技术公布日：2019.03.15