辊式人行通道闸机测试装置的制作方法

本实用新型涉及闸机测试装置技术领域，特别涉及一种辊式人行通道闸机测试装置。

背景技术：

目前，辊式人行通道闸机通常为三辊式人行通道闸机，其结构可分为机壳、机芯、闸杆、电控模块。闸机的运行方式为：操作人员站在闸机的闸杆外面刷卡(或按指纹、面部识别)进行验证，验证通过后，电控模块传达信号给机芯释放闸杆，操作人员即可推动闸杆通过闸机。由于闸机是由多种模块结构的逻辑配合控制运行的，在闸机的制造环节必须经过严格的功能测试及老化测试才可上市销售。

目前的闸机测试装置中，在测试推杆推动闸杆时，如果闸机内部因故障导致闸杆被锁死而无法继续被推动时，由于测试推杆仍然对闸杆施加推动力，可能会导致闸机测试装置以及闸机的损坏。

因此，如何降低因测试而导致测试装置以及闸机损坏的可能性，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种辊式人行通道闸机测试装置，能够降低因测试而导致测试装置以及闸机损坏的可能性。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种辊式人行通道闸机测试装置，包括用于推动闸机的闸杆的测试推杆，还包括：

用于驱动所述测试推杆转动的控制柜转轴，所述控制柜转轴连接于转轴驱动源；

设于所述控制柜转轴与所述测试推杆之间的防堵结构，在所述测试推杆受到的推力小于预设推力时，所述防堵结构能够锁定所述测试推杆与控制柜转轴；在所述测试推杆受到的推力大于所述预设推力时，所述控制柜转轴与所述测试推杆之间的锁定解除，以使所述测试推杆与所述控制柜转轴能够分别运动。

优选地，所述防堵结构包括：

固定于所述测试推杆的防堵固定座；

与所述防堵固定座相插接且固定于所述控制柜转轴的防堵转轴，所述防堵转轴与所述防堵固定座中的一者上设有限位凹槽，另一者上设有限位凸起，所述限位凸起具有弹性；在所述测试推杆受到的推力小于预设推力时，所述限位凸起与所述限位凹槽插接配合以锁定所述防堵转轴与所述防堵固定座，在所述测试推杆受到的推力大于所述预设推力时，所述限位凸起能够通过形变脱离所述限位凹槽。

优选地，还包括用于连接并带动读写卡进行刷卡运动的刷卡驱动器。

优选地，还包括测试控制模块和与所述刷卡驱动器相对应设置的读写卡感应器，所述读写卡感应器信号连接于所述测试控制模块；

所述读写卡感应器用于在对应的所述刷卡驱动器带动其上读写卡运动至预设读卡位置时向所述测试控制模块发送读写卡到位信号；

所述测试控制模块用于在接收到所述读写卡到位信号后控制所述测试推杆沿对应的方向转动，以推动闸杆转动。

优选地，所述刷卡驱动器包括用于设置在闸机入口的入口刷卡驱动器和用于设置在闸机出口的出口刷卡驱动器。

优选地，还包括第一光电开关，所述测试推杆固定设有用于触发所述第一光电开关的触发模块，所述第一光电开关信号连接于所述测试控制模块，所述测试控制模块能够根据所述第一光电开关的检测信号计数所述测试推杆沿同一方向连续转动的次数。

优选地，还包括第二光电开关，所述触发模块还能够触发所述第二光电开关，所述第二光电开关信号连接于所述测试控制模块与计数显示器，所述第二光电开关用于在所述测试推杆每转动一次后向计数显示器发送一次显示信号，以使所述计数显示器显示测试总次数。

优选地，还包括与所述刷卡驱动器对应设置的指示装置，所述指示装置信号连接于所述测试控制模块，所述指示装置用于在对应的所述刷卡驱动器带动其上读写卡运动至预设读卡位置时发出刷卡成功的指示信号。

优选地，所述读写卡感应器为第三光电开关。

优选地，所述测试控制模块设于测试控制柜中，所述测试控制柜设于测试设备底座上，且所述测试设备底座上设有用于放置闸机的测试位。

本实用新型提供的辊式人行通道闸机测试装置，包括用于推动闸机的闸杆的测试推杆，还包括：用于驱动测试推杆转动的控制柜转轴，控制柜转轴连接于转轴驱动源；设于控制柜转轴与测试推杆之间的防堵结构，在测试推杆受到的推力小于预设推力时，防堵结构能够锁定测试推杆与控制柜转轴；在测试推杆受到的推力大于预设推力时，控制柜转轴与测试推杆之间的锁定解除，以使测试推杆与控制柜转轴能够分别运动。

当闸机的闸杆正常运转时，测试推杆受到闸杆的推力小于预设推力，测试推杆与控制柜转轴之间被防堵结构锁定，从而使测试推杆有动力去摆动闸杆。当闸机发生异常导致闸杆不能正常运转时，测试推杆被闸杆挡住不能继续转动，测试推杆受到闸杆的推力会逐渐增大，当测试推杆受到的推力大于预设推力时，控制柜转轴与测试推杆之间的锁定解除，测试推杆停止转动，控制柜转轴可能继续转动，但测试推杆不会再受控制柜转轴的驱动而随控制柜转轴转动。

该测试装置中，通过防堵结构的设置，在闸机中的闸杆被卡死时，即使控制柜转轴继续运行，测试推杆也不会再随控制柜转轴运动并推动闸杆，可以降低在测试操作中造成闸机以及测试装置损坏的可能性。另外，该测试装置可以适用于立式、桥式、单通道、双通道等多种型号的三辊闸。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术操作人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本实用新型所提供测试装置中防堵结构的爆炸图；

图2为本实用新型所提供测试装置中防堵结构的结构图；

图3为本实用新型所提供测试装置中防堵结构的剖面图；

图4为本实用新型所提供测试装置中防堵结构在锁定状态下的第一角度结构图；

图5为本实用新型所提供测试装置中防堵结构在锁定状态下的第二角度结构图；

图6为图5的局部放大图；

图7为本实用新型所提供测试装置中防堵结构在解除锁定状态下的结构图；

图8为图7的局部放大图；

图9为本实用新型所提供测试装置的结构图；

图10为本实用新型所提供测试装置中刷卡柱的爆炸图；

图11为本实用新型所提供测试装置中第三光电开关部分的第一角度俯视图；

图12为本实用新型所提供测试装置中第三光电开关部分的结构图；

图13为本实用新型所提供测试装置中第三光电开关部分的第二角度俯视图；

图14为本实用新型所提供测试装置中入口刷卡柱上的读写卡运动至入口预设读卡位置时的结构图；

图15为本实用新型所提供测试装置中测试推杆沿入口方向推动闸杆时的结构图；

图16为本实用新型所提供测试装置中测试推杆沿入口方向转动至与闸杆相分离后的结构图；

图17为本实用新型所提供测试装置中测试控制柜的内部结构图；

图18为图17的A处放大图；

图19为本实用新型所提供测试装置中出口刷卡柱上的读写卡运动至出口预设读卡位置时的结构图；

图20为本实用新型所提供测试装置中测试推杆沿出口方向推动闸杆时的结构图；

图21为本实用新型所提供测试装置沿出口方向转动至与闸杆相分离后的结构图。

图1至图21中：

闸机1，闸杆2，入口闸机读头3，读写卡4，测试设备底座5，入口刷卡柱6，出口刷卡柱7，读写卡连接块8，指示灯罩9，测试控制柜10，计数显示器11，测试摆动杆12，测试推杆13，刷卡柱盖板14，LED指示灯15，刷卡模块16，刷卡驱动器17，刷卡柱外壳18，第三光电开关19，第二光电开关20，第一光电开关21，触发模块22，出口刷卡柱外壳23，出口读写卡连接块24，出口LED指示灯25，第二螺丝26，第三螺丝27，摆杆连接块28，防堵转轴29，第一轴承30，第二轴承31，第一螺丝32，防堵固定座33，波子螺丝34。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术操作人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型的核心是提供一种辊式人行通道闸机测试装置，能够降低因测试而导致测试装置以及闸机损坏的可能性。

本实用新型所提供辊式人行通道闸机1测试装置的一种具体实施例中，请参考图1至图9，包括测试推杆13、控制柜转轴以及防堵结构。其中，闸机具体可以为三辊式人行通道闸机。

测试推杆13用于推动闸机1的闸杆2转动，能够代替人手自动进行推动操作。

控制柜转轴用于驱动测试推杆13转动，控制柜转轴连接于转轴驱动源。其中，控制柜转轴与转轴驱动源可以均设置在测试控制柜10中。

防堵结构设置在控制柜转轴与测试推杆13之间。在测试推杆13受到的推力小于预设推力时，防堵结构能够锁定测试推杆13与控制柜转轴，使测试推杆13与控制柜转轴相对固定，测试推杆13可以在控制柜转轴的驱动下运动。在测试推杆13受到的推力大于预设推力时，控制柜转轴与测试推杆13之间的锁定解除，以使测试推杆13与控制柜转轴能够分别运动。

其中，预设推力应根据闸杆2正常运转时需要测试推杆13向闸杆2提供的推力进行确定。在测试过程中，测试推杆13受到的推力为闸杆2对测试推杆13的反作用力。当闸机1的闸杆2正常运转时，测试推杆13受到闸杆2的推力小于预设推力，测试推杆13与控制柜转轴之间被防堵结构锁定，从而使测试推杆13有动力去摆动闸杆。当闸机1发生异常导致闸杆2不能正常运转时，测试推杆13被闸杆2挡住不能继续转动，测试推杆13受到闸杆2的推力会逐渐增大，当测试推杆13受到的推力大于预设推力时，控制柜转轴与测试推杆13之间的锁定解除，测试推杆13停止转动，控制柜转轴可能继续转动，但测试推杆13不会再受控制柜转轴的驱动而随控制柜转轴转动。

本实施例中，通过防堵结构的设置，在闸机1中的闸杆2被卡死时，即使控制柜转轴继续运行，测试推杆13也不会再随控制柜转轴运动并推动闸杆，可以降低在测试操作中造成闸机以及测试装置损坏的可能性。

在上述实施例的基础上，请参考图1，防堵结构具体可以包括防堵固定座33和防堵转轴29。其中，防堵固定座33固定于测试推杆13，防堵转轴29插接在防堵固定座33中，且防堵转轴29固定于控制柜转轴。

防堵转轴29上设有限位凹槽，防堵固定座33上设有用于与限位凹槽相插接配合的限位凸起，限位凹槽与限位凸起的插接配合可以锁定防堵转轴29与防堵固定座33。其中，限位凸起具有弹性。

在测试推杆13受到的推力小于预设推力时，限位凸起与限位凹槽插接配合以锁定防堵转轴29与防堵固定座33，相应地，测试推杆13与控制柜转轴相对固定，测试推杆13能够随控制柜转轴运动。在测试推杆13受到的推力大于预设推力时，限位凸起能够通过形变脱离限位凹槽，从而使防堵转轴29与防堵固定座33之间的锁定解除，防堵固定座33能够相对于防堵转轴29转动，相应地，测试推杆13与控制柜转轴能够分别运动。

其中，限位凹槽的数量可以根据实际需要进行设置。可选地，请参考图1和图4，三个限位凹槽沿周向依次设置在防堵转轴29的外周面上，各限位凹槽均沿轴向延伸。

其中，限位凸起可以通过多种方式实现。优选地，请参考图1，防堵固定座33上可以设置有波子螺丝34，波子螺丝34的一端伸入于对应的限位凹槽以卡紧限位凹槽，限位凸起采用波子螺丝34实现，安装较方便。可选地，每个限位凹槽可以对应设有两个波子螺丝34。请参考图4至图6，当闸杆2正常运转时，防堵固定座33上的波子螺丝34一直卡紧防堵转轴29，控制柜转轴的动力由防堵转轴29传动到防堵固定座33上，从而使测试推杆13有动力去推动闸杆2。请参考图7和图8，在闸机发生异常闸杆2不能正常运转时，测试推杆13被闸杆2挡住不能继续运转，当防堵转轴29的扭力大于波子螺丝34的卡紧力时，防堵转轴29继续运转，波子螺丝34卡在三条凹槽内的波子会回缩并离开限位凹槽，防堵固定座33在防堵转轴29上滑动旋转，起到打滑防堵的作用。当然，限位凸起也可以为直接设置在防堵固定座33上的弹性块或者通过其他方式实现。

其中，为减小防堵转轴29与防堵固定座33之间的摩擦损伤，防堵转轴29两端可以分别设置第一轴承30和第二轴承31，防堵转轴29通过第一轴承30和第二轴承31连接于防堵固定座33，轴承的外圈具体可以通过第一螺丝32等部件固定在防堵固定座33上。

其中，为便于控制柜转轴与防堵转轴29之间的连接，请参考图1，控制柜转轴还可以进一步固定连接有摆杆连接块28，摆杆连接块28与控制柜转轴具体可以通过第二螺丝26固定连接。同时，防堵转轴29的一端可以插接在摆杆连接块28中，并通过第三螺丝27锁定摆杆连接块28与防堵转轴29。摆杆连接块28、防堵转轴29、防堵固定座33构成连接控制柜转轴与测试推杆13的测试摆动杆12。

本实施例中，通过限位凹槽和具有弹性的限位凸起实现防堵结构的设置，结构简单，便于加工，且有利于节约制造成本。

显然，在上述实施例中限位凸起与限位凹槽的位置关系也可以替换为防堵转轴29上设置限位凸起而防堵固定座33上设置限位凹槽，能够起到相同的防堵作用。

显然，防堵结构的设置不限于上述各个实施例所提供的方式。在另一种具体实施例中，防堵结构具体可以包括设于测试推杆13上的压力传感器，测试推杆13套接于控制柜转轴，且测试推杆13与控制柜转轴之间设有伸缩杆，该伸缩杆的一端固定于控制柜转轴，且该伸缩杆信号连接压力传感器。压力传感器检测到测试推杆13受到的推力小于预设推力时，伸缩杆插接于测试推杆13中以锁定测试推杆13与控制柜转轴；压力传感器检测到测试推杆13受到的推力大于预设推力时，伸缩杆回缩并退出测试推杆13，控制柜转轴与测试推杆13之间的锁定解除，测试推杆13与控制柜转轴能够相对转动。

在上述任一实施例的基础上，该测试装置还可以包括刷卡驱动器17，刷卡驱动器17用于连接并带动读写卡4进行刷卡运动，从而实现刷卡动作的自动化。进一步地，通过调整刷卡驱动器17与对应的闸机读头之间的相对位置，可以模拟不同的刷卡范围，能够准确测试闸机读头的可读写范围并收集各项参数。

其中，刷卡驱动器17具体可以为旋转电机。请参考图9和图10，刷卡驱动器17的输出轴可以固定连接有读写卡连接块8，该读写卡连接块8上设有用于固定连接读写卡4的卡位。当要刷卡时，将与闸机读头相配合的读写卡4连接在读写卡连接块8上，刷卡驱动器17摆动读写卡连接块8，从而实现刷卡动作。当然，刷卡驱动器17也可以设置为直线电机或者其他驱动装置。

在上述实施例的基础上，请参考图10至图13，该测试装置还可以包括读写卡感应器和测试控制模块。其中，读写卡感应器信号连接于测试控制模块。读写卡感应器与刷卡驱动器相对应设置。读写卡感应器用于在对应的刷卡驱动器17带动其上读写卡4运动至预设读卡位置时向测试控制模块发送读写卡到位信号。测试控制模块用于在接收到读写卡到位信号后控制测试推杆13沿对应的方向转动，具体为控制转轴驱动源的运行，从而通过测试推杆13推动闸杆2转动。其中，测试推杆13转动一次，可以推动闸杆2沿对应的方向转动一次。

读写卡4运动至预设读卡位置时闸机读头读取读写卡信息，刷卡成功后，闸杆2在对应的方向上被释放，测试控制模块即控制测试推杆13推动闸杆2沿对应的方向转动，能够实现刷卡至推动闸杆2过程的全自动化，无需在读卡成功后操作人员用手或身体推动闸杆2，可以避免因闸杆2故障而对操作人员造成的伤害。

需要说明的是，请参考图9，闸机1通常包括入口和出口。当读写卡4在闸机1入口的入口闸机读头3处进行刷卡时，闸机1中的闸杆2在入口方向上被释放，相应地，测试控制模块控制测试推杆13推动闸杆2沿入口方向转动；当读写卡4在闸机1出口的出口闸机读头处进行刷卡时，闸机1中的闸杆2在出口方向上被释放，相应地，测试控制模块控制测试推杆13推动闸杆2沿出口方向转动。

需要说明的是，请参考图16，在推杆与闸杆2分离后，闸杆2会依靠闸机的闸机芯结构自动复位，然后呈上锁状态。

在上述实施例的基础上，刷卡驱动器17具体可以包括用于设置在闸机1入口的入口刷卡驱动器17和用于设置在闸机1出口的出口刷卡驱动器17。相应地，入口刷卡驱动器17用于带动其上读写卡4在入口闸机读头3处进行刷卡，出口刷卡驱动器17用于带动其上读写卡4在出口闸机读头处进行刷卡。

优选地，读写卡感应器可以包括与入口刷卡驱动器17对应设置的入口读写卡感应器以及与出口刷卡驱动器17对应设置的出口读写卡感应器，从而可以分别从入口和出口两处进行测试，测试方便。通过两个读写卡感应器分别发送入口读写卡到位信号和出口读写卡到位信号，便于测试控制模块区分读写卡到位信号所对应的闸机读头以及刷卡驱动器，进而方便对测试推杆13转向的控制，测试的准确性较高。

同时，测试控制模块信号连接刷卡驱动器17。测试控制模块还用于在一个刷卡驱动器17运行结束后，控制另一个刷卡驱动器17启动进行测试且控制测试推杆13反向启动，直至两个刷卡驱动器17共运行第一预设次数。

本实施例中，测试控制模块可以控制两个方向上的刷卡操作自动连续进行，能够自动进行对闸机的老化测试，可以24小时不间断地进行自动测试，不需要人员参与测试，避免操作人员反复操作两个刷卡驱动器17，能够降低操作人员的劳动强度，测试效率较高，降低了测试成本。在上述实施例的基础上，测试控制模块可以在测试推杆13沿同一方向连续转动第二预设次数后，判定该方向对应的刷卡驱动器17运行结束。

在一种第一预设次数为两次、第二预设次数为三次的实施例中，测试装置启动后，请参考图14至图16，入口刷卡驱动器17启动，入口刷卡驱动器17带动其上读写卡4运动至入口预设读卡位置且刷卡成功后，闸杆2在入口方向上被释放，表示操作人员可在闸机1入口侧通行进入，测试控制模块控制测试推杆13推动闸杆2沿入口方向转动，在测试推杆13运动至与闸杆2分离后，闸杆2依靠闸机芯结构自动复位，然后闸机1呈上锁状态，一次自动测试完成，此时，测试推杆13沿入口方向转动一次；入口刷卡驱动器17再带动其上读写卡4进行两次刷卡操作，入口侧再进行两次自动测试，相应地，测试推杆13沿入口方向再转动两次，此时，入口刷卡驱动器17的一次运行结束，测试控制模块控制出口刷卡驱动器17启动进行测试且控制测试推杆13反向启动；请参考图19至图21，在出口刷卡驱动器17启动后，与入口刷卡驱动器17启动后的动作一样，相应进行出口侧的自动测试，测试推杆13沿出口方向连续转动三次时，出口刷卡驱动器17的一次运行结束，同时，两个刷卡驱动器17共运行两次，测试装置的此次测试结束，测试装置停机。

需要说明的是，第一预设次数、第二预设次数可以根据实际测试需要进行设定，不作具体限定。

本实施例中，测试控制模块可以按照设定的测试顺序进行不间断的循环测试，且单向可进行多次连续测试，可实现持续测试，有利于提高测试结果的准确性。

在上述实施例的基础上，该测试装置中还可以包括第一光电开关21，第一光电开关21信号连接于测试控制模块。请参考图17和图18，测试推杆13上固定设置有触发模块22，触发模块22能够与测试推杆13同步转动。测试控制模块能够根据第一光电开关21的检测信号计数测试推杆13沿同一方向连续转动的次数。

在初始状态下，应使第一光电开关21的信号与测试推杆13的转向相对应。触发模块22随测试推杆13转动至第一光电开关21的位置，并触第一光电开关21，第一光电开关21输出信号给测试控制模块进行计数，当达到第二预设次数，测试控制模块会将测试推杆13测试的方向进行改变，即对闸机1进行反方向测试。

本实施例中，通过触发模块22与第一光电开关21配合计数，便于装配以及保证计数的准确性。

在上述实施例的基础上，该测试装置还可以包括第二光电开关20，第二光电开关20信号连接于测试控制模块与计数显示器11，且触发模块22还能够触发第二光电开关20，第二光电开关20用于在测试推杆13每转动一次后向计数显示器11发送一次显示信号，以使计数显示器11显示测试总次数。本实施例中，通过计数显示器11记录并显示测试数据，可以使得到的测试数据结果更准确。

更具体地，请参考图18，测试推杆13推动闸杆2转动至与闸杆2分离时，闸杆2依靠闸机芯结构自动复位，然后呈上锁状态，一次自动测试完成，同时，触发模块22触发第二光电开关20，第二光电开关20输出信号给测试控制模块计数，使计数显示器11显示的计数结果加一次。

可选地，触发模块22可以直接固定连接在防堵固定座33上，以此实现与测试推杆13的固定连接；触发模块22也可以直接固定连接在测试推杆13上。

本实施例中，通过计数显示器11可以系统地对测试总次数进行记录，便于提取数据分析各部件的使用状况，有利于精准地获得测试结果。

在上述任一实施例的基础上，刷卡驱动器17能够在带动其上读写卡4运动至预设读卡位置时在该预设读卡位置停留预设时长，之后再带动其上读写卡4复位运动。其中，预设时长可以根据实际需要进行设置，例如，8秒。

通过本实施例的设置，可以确保在预设读卡位置，闸机读头有充足的时间读取读写卡4的信息，可以提高刷卡的成功率。

在上述任一实施例的基础上，该测试装置还可以包括与刷卡驱动器17对应设置的指示装置，指示装置信号连接于测试控制模块。该指示装置用于在对应的刷卡驱动器17带动其上读写卡4运动至预设读卡位置时发出刷卡成功的指示信号，从而可以使操作人员直观地了解到测试进程。

可选地，请参考图10至图13，读写卡感应器可以为与刷卡驱动器17相对应的第三光电开关19，同时，刷卡驱动器17通过读写卡连接块8连接读写卡4，当读写卡连接块8摆动到预设读卡位置时触发第三光电开关19，表示到达刷卡感应范围。第三光电开关19反馈信号给测试控制模块，测试控制模块控制指示装置发送指示信号。

可选地，指示装置可以为指示灯或蜂鸣器。更具体地，指示装置可以为LED指示灯15。请参考图10，指示灯罩9、LED指示灯15、刷卡模块16、刷卡驱动器由上至下固定在刷卡柱外壳18里面，刷卡柱外壳18的顶部通过刷卡柱盖板14压住指示灯罩9。第三光电开关19与读写卡连接块8可以设置在刷卡模块16上。刷卡柱外壳18、刷卡柱外壳18内的部件以及刷卡柱盖板14构成刷卡柱。在发出指示信号时，LED指示灯15点亮并通过指示灯罩9往外面透光，可选地，在第三光电开关19处于被触发的状态下，LED指示灯15可以始终处于点亮状态，当读写卡连接块8随刷卡驱动器17离开预设读卡位置时，第三光电开关19的触发状态被解除，LED指示灯15熄灭。

进一步地，请参考图14，刷卡柱具体可以包括用于设置在闸机1入口的入口刷卡柱6和用于设置在闸机1出口的出口刷卡柱7，入口刷卡柱6和出口刷卡柱7为相同结构。此时，测试控制模块用于实现入口刷卡柱6、出口刷卡柱7、计数显示器11、测试摆动杆12的逻辑配合测试工作。

另外，测试控制模块可以设置在测试控制柜10中，测试控制柜10可以设置在测试设备底座5上，且测试设备底座5可以设置用于放置待测的闸机1的测试位。更具体地，测试设备底座5可以使用标准铝型材拼接加工，测试位的结构具体可以根据待测试的闸机型号进行设置。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

以上对本实用新型所提供的辊式人行通道闸机测试装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术操作人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。