量测罩盖及使用该量测罩盖的工件量测装置的制作方法

本实用新型是有关于一种量测罩盖及使用该量测罩盖的工件量测装置，尤指一种在工件受载盘以间歇性旋转流路搬送至量测工作站进行量测时，用于压制被探针顶触的工件以利量测进行的量测罩盖及使用该量测罩盖的工件量测装置。

背景技术：

已知工件如发光二极管(LED)或被动元件等，在产出后通常会进行物理特性的量测，以进行分类与包装；专利号第I447060号「工件搬运装置」已揭露一种工件量测装置，具备有平台底座和旋转自如配置在该平台底座上且于外围部设有多个的工件收纳孔的搬运平台，及经由分离供应部连结于该搬运平台，可将工件供应至该搬运平台的工件收纳孔内的线性进料器；其中，该线性进料器、该分离供应部、该工件收纳孔的上面由平台罩盖覆盖着；此外，于该搬运平台的外围部，沿着间歇旋转方向依下述顺序设有第1检查部、第2检查部、排出部；该工件具有长方体形状于上面具有发光面的本体以及从本体朝长度方向的前方及后方突出作为电极的引线端子；该搬运平台旋转搬运该工件到达该第1检查部，该搬运平台就会停止，此时，于该引线端子的正下方位置的平台底座内，设有垂直方向进退自如的探针，利用控制部的作用使该探针朝该引线端子前进，以抵接着该引线端子的状态将该工件往上推，使该工件的上面抵接贴靠在该第1检查部罩盖的下面的状态后就停止往上推，对该工件的电性特性进行测定之后，该探针就向下退出，并再继续使该搬运平台间歇旋转搬运工件，当该工件到达该第2检查部时，对该工件实施与该第1检查部不同检查项目的检查，经该第2检查部检查结束后的该工件会到达该排出部从该工件收纳孔排出。

技术实现要素：

已知工件量测装置的检查部罩盖下面需频繁地受工件的抵接贴靠，在使用一段时间后，该检查部罩盖与工件碰触的处会逐渐产生磨损，导致日后工件在贴靠于磨损处时产生刮伤的风险，且磨损处无法使工件平稳地贴靠造成歪斜不正，亦可能会导致工件量测装置的量测结果失准。

本实用新型的目的，在于提供一种不易磨损的量测罩盖。

本实用新型的另一目的，在于提供量测结果不易失准的工件量测装置。

依据本实用新型目的的量测罩盖，包括：一本体，设有一第一表面与一第二表面；该第一表面上设有一第一视窗，该第二表面上设有一安装区间，该第一视窗与该安装区间相连通；一压制件，对应设于该安装区间内，该压制件设有一第二视窗，其与该第一视窗相连通。

在一个或多个实施方式中，该压制件的硬度高于该本体。

在一个或多个实施方式中，该第一视窗由该第一表面朝该第二表面方向束缩其窗口形成一聚光面。

在一个或多个实施方式中，该聚光面呈碗形。

在一个或多个实施方式中，该第一视窗在该聚光面的两侧分别设有一第一窗口与一第二窗口，该第一窗口靠近该第一表面，该第二窗口远离该第一表面，该第一窗口大于该第二窗口。

在一个或多个实施方式中，该压制件的第二视窗设有一第三窗口与一第四窗口，其小于该第二窗口。

在一个或多个实施方式中，该压制件设有一对位部可对应设于该安装区间的一对位区。

在一个或多个实施方式中，该安装区间与该压制件呈矩形。

在一个或多个实施方式中，该本体的第一表面与第二表面相互平行；该压制件设有一第三表面与一第四表面，该第三表面与该第四表面相互平行，且该第四表面与该第二表面位于相同的水平面上。

依据本实用新型另一目的的工件量测装置，使用如所述量测罩盖，包括：一工作台面；一转盘，设于该工作台面上，其周缘环列布设等间距且设有朝外开口的容槽，可承接自一送料轨道移入的一工件，并以一间歇旋转流路搬送该工件至一量测工作区进行量测；该环列布设的容槽受一覆盖件所覆盖，该覆盖件在该量测工作区处设有一安装口，使该量测罩盖可安装于该安装口内；一探针装置，设于该转盘的下方，并对应设于该量测工作区处该量测罩盖下方的位置，该探针装置设有数根探针，其可受驱动伸入该转盘的容槽顶触该工件底部的电极，并使该工件被顶升至其顶部碰触该量测罩盖的压制件。

在一个或多个实施方式中，该量测罩盖上方的位置设有一光学积分球，可量测被该转盘搬送途经该量测工作区的工件的光学特性。

本实用新型实施例的量测罩盖及使用该量测罩盖的工件量测装置，该量测罩盖的本体与该压制件是由两种不同硬度的材料所构成，与工件频繁碰触的压制件具有较高的硬度，故不易产生磨损，若尚有磨损的情况产生，则可仅单独地更换该压制件即可，不须更换整个量测罩盖；且因压制件硬度较高不易产生磨损，使工件在受量测时可平稳地贴靠于该压制件底部，使该工件不易因歪斜导致量测结果失准。

附图说明

图1是本实用新型实施例中量测罩盖的立体示意图。

图2是本实用新型实施例中图1的A-A剖面示意图。

图3是本实用新型实施例中量测罩盖的本体与压制件分解的示意图。

图4是本实用新型实施例中量测罩盖使用于工件量测装置的示意图。

图5是本实用新型实施例中工件量测装置对工件进行量测的示意图。

图6是本实用新型另一实施例中量测罩盖的本体与压制件分解的示意图。

附图标记说明

A 量测罩盖 A1 本体

A11 第一表面 A12 第二表面

A13 第一视窗 A131 聚光面

A132 第一窗口 A133 第二窗口

A14 安装区间 A141 安装区

A142 对位区 A2 压制件

A21 安装部 A22 对位部

A23 第三表面 A24 第四表面

A25 第二视窗 A251 第三窗口

A252 第四窗口 B 工件量测装置

B1 工作台面 B2 转盘

B21 容槽 B3 送料轨道

B4 量测工作区 B5 限位件

B6 覆盖件 B61 操作区间

B62 安装口 B7 探针装置

B71 探针 B8 光学积分球

W 工件 W1 电极

W2 发光部 A' 量测罩盖

A1' 本体 A11' 安装区间

A2' 压制件

具体实施方式

请参阅图1、2、3，本实用新型实施例可使用如图所示的量测罩盖A作说明，该量测罩盖A设有包括：

一本体A1，为经热加工处理的材料所构成，其设有一位于上方的第一表面A11与一位于下方的第二表面A12，该第一表面A11与第二表面A12相互平行；该第一表面A11上凹设有一镂口状的第一视窗A13，其由该第一表面A11朝该第二表面A12方向向下束缩其镂口形成一碗形的聚光面A131；该第一视窗A13在该聚光面A131的上、下两侧分别设有一第一窗口A132与一第二窗口A133，该第一窗口A132靠近该第一表面A11，该第二窗口A133远离该第一表面A11并较靠近该第二表面A12，该第一窗口A132的口径大于该第二窗口A133的口径；该第二表面A12上凹设有一安装区间A14，该第一视窗A13与该安装区间A14相连通；该安装区间A14设有一圆形的安装区A141与一凸出于该安装区A141圆形周缘的对位区A142；

一压制件A2，为较该本体A1硬度更高的例如陶瓷、钨钢…等材料所构成，其设有一安装部A21与一对位部A22，两者的形状分别对应该安装区间A14的安装区A141及该对位区A142，使该压制件A2可拆卸地嵌入对应的该安装区间A141内；该压制件A2设有一位于上方的第三表面A23与一位于下方的第四表面A24，两者相互平行且该压制件A2安装于该安装区间A14时，该第四表面A24与该第二表面A12贴齐在相同的水平面上；该压制件A2在该安装部A21约略中心处设有一第二视窗A25，其贯通该第三表面A23与该第四表面A24，并在该第三表面A23与该第四表面A24处设有相同口径的一第三窗口A251与一第四窗口A252；该第二视窗A25与该第一视窗A13相连通，且其第三窗口A251与第四窗口A252的口径小于该第一视窗A13的第二窗口A133的口径。

请参阅图4、5，本实用新型实施例的量测罩盖A可使用于如图所示的工件量测装置B中，该工件量测装置B包括：

一工作台面B1，呈水平设置；

一转盘B2，设于该工作台面B1上，其周缘环列布设等间距且设有朝外开口的容槽B21，可承接自一送料轨道B3整列传送移入的一例如发光二极管(LED)的工件W，并以一间歇旋转流路搬送该工件W至一量测工作区B4进行量测；该环列布设的容槽B21外周设有限位件B5，用以防止旋转搬送的工件W受离心力抛出；该限位件B5受一覆盖件B6所覆盖，该覆盖件B6形成一C型的造型而于中央形成一镂空状操作区间B61，其内径较该转盘B2外径略小，故同时亦可覆设于该转盘B2周缘环列布设的容槽B21上方，借以防止该容槽B21中的工件W自上方抛落；该覆盖件B6在该量测工作区B4处设有一镂空状安装口B62，其形状大致对应该量测罩盖A之外形，使该量测罩盖A可拆卸地嵌入该安装口B62内；

一探针装置B7，设于该转盘B2的下方，并对应设于该量测工作区B4处该量测罩盖A下方的位置，该探针装置B7设有数根探针B71，其可受一驱动器(图未示)驱动反复地上、下伸入或移出该转盘B2的容槽B21；

一光学积分球B8，对应设于该量测工作区B4处该量测罩盖A上方的位置，可量测被该转盘B2搬送途经该量测工作区B4的工件W的光学特性。

本实用新型实施例在实施上，将硬度较高的压制件A2可拆卸地安装于该本体A1的安装区间A14内组装成量测罩盖A，并将该量测罩盖A可拆卸地安装于该覆盖件B6的安装口B62内；当该工件W被该转盘B2搬送至该量测工作区B4时，该探针装置B7的探针B71可向上伸入该容槽B21内顶触该工件W底部的电极W1，并使该工件W被顶升至其顶部周缘碰触该量测罩盖A的压制件A2的底部；此时，该工件W顶部约略中心处的一发光部W2会开始发光，光线穿经该第二视窗A25后经该聚光面A131的聚集，最后由该光学积分球B8收集、量测。

本实用新型实施例的量测罩盖及使用该量测罩盖的工件量测装置，该量测罩盖A的本体A1与该压制件A2是由两种不同硬度的材料所构成，与工件W频繁碰触的压制件A2具有较高的硬度，故不易产生磨损，若尚有磨损的情况产生，则可仅单独地更换该压制件A2即可，不须更换整个量测罩盖A；且因压制件A2硬度较高不易产生磨损，使工件W在受量测时可平稳地贴靠于该压制件A2底部，使该工件W不易因歪斜导致量测结果失准。

请参阅图6，本实用新型另一实施例的量测罩盖A'，该本体A1'的安装区间A11'与压制件A2'呈相对应的矩形，因该结构不存在圆形安装区间不易对位的风险，故不需另设置相对应的对位结构。

惟以上所述者，仅为本实用新型的较佳实施例而已，当不能以此限定本实用新型实施的范围，即大凡依本实用新型申请专利范围及实用新型说明内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本实用新型专利涵盖的范围内。