技术总结
本实用新型公开了一种温度传感器测试装置，包括待测传感器接头、A标准探头、冷却装置、A标准温度传感器、器体本体、B标准温度传感器、B标准探头、流体检测箱和加热装置，流体检测箱设置在器体本体的内部，待测传感器接头设置在流体检测箱上，冷却装置和加热装置设置在器体本体内，A标准探头和B标准探头设置在流体检测箱内，A标准温度传感器和B标准温度传感器设置在器体本体上，A标准探头和A标准温度传感器及B标准探头和B标准温度传感器通过信号连接，该实用新型的温度传感器测试装置，利用双标准温度传感器通过当前温度测试、升温测试和降温测试三种模式对待测温度传感的准确性、灵敏度等方面性能进行测试，使测试结果更加准确和全面。
技术研发人员：董颍珂;权志勇
受保护的技术使用者：深圳市捷宇鑫电子有限公司
技术研发日：2018.11.07
技术公布日：2019.07.05