一种光电检测前置放大保护电路的制作方法

本实用新型涉及电路设计技术领域，尤其涉及一种光电检测前置放大保护电路。

背景技术：

采用光电检测方法就是把调制到光载波上的有用信号解调出来，实现光信号到电信号的转换。因光纤末端输出的光信号通常是很微弱的，各种噪声的干扰直接影响有用信号的测量精度，这就要求光检测器在所用光源的发射波长范围内具有高响应度、小的附加噪声、快的响应速率且具有能处理所需要的数据率的足够带宽。另外，与探测器相连的前置放大电路也应当设计合理，在满足低噪声的前提下驱动后级电路工作。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种光电检测前置放大保护电路，以解决现有技术中的不足。

为了达到上述目的，本实用新型的目的是通过下述技术方案实现的：

提供一种光电检测前置放大保护电路，其中，包括第一运算放大器、第二运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容和光电二极管，所述第一电阻的一端连接所述第三电容的一端和所述第一运算放大器的正输入端，所述第一电阻的另一端连接所述第二运算放大器的输出端，所述第一运算放大器的负输入端连接所述第二电阻的一端，所述第二电阻的另一端和所述第三电容的另一端分别接地，所述光电二极管与所述第三电容并联，所述第四电容与所述第二电阻并联，所述第一运算放大器的输出端通过所述第三电阻连接所述第二运算放大器的负输入端，所述第二运算放大器的正输入端接地，所述第二电容和所述第四电阻串接后跨接于所述第二运算放大器的负输入端和所述第二运算放大器的输出端之间，所述第一电容与所述第一电阻并联。

上述光电检测前置放大保护电路，其中，所述光电二极管选用材料为InGaAs的PIN光电二极管。

上述光电检测前置放大保护电路，其中，所述第一运算放大器和所述第二运算放大器均选用OPA129。

与已有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

结构紧凑，设计合理，噪声低，运行稳定可靠，可应用于高压光纤电流传感器。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1示出了本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

参考图1所示，本实用新型光电检测前置放大保护电路包括第一运算放大器A1、第二运算放大器A2、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4和光电二极管IL，第一电阻R1的一端连接第三电容C3的一端和第一运算放大器A1的正输入端，第一电阻R1的另一端连接第二运算放大器A2的输出端，第一运算放大器A1的负输入端连接第二电阻R2的一端，第二电阻R2的另一端和第三电容C3的另一端分别接地，光电二极管IL与第三电容C3并联，第四电容C4与第二电阻R2并联，第一运算放大器A1的输出端通过第三电阻R3连接第二运算放大器A2的负输入端，第二运算放大器A2的正输入端接地，第二电容C2和第四电阻R4串接后跨接于第二运算放大器A2的负输入端和第二运算放大器A2的输出端之间，第一电容C1与第一电阻R1并联。本技术方案中，光电二极管IL选用材料为InGaAs的PIN光电二极管，接收面积大，灵敏程度高，第一运算放大器A1和第二运算放大器A2均选用OPA129。第二电阻R2是为了补偿因R1过大所造成的直流误差，R2上的并联电容C4用以去除R2上的杂散噪声。根据实际工频信号要求，可以取R1＝2MΩ，C1＝800pF，R2＝100kΩ，C4＝0.1μF，R3＝50kΩ，R4＝1kΩ，C2＝1μF。

从上述实施例可以看出，本实用新型的优势在于：

结构紧凑，设计合理，噪声低，运行稳定可靠，可应用于高压光纤电流传感器。

以上对本实用新型的具体实施例进行了详细描述，但本实用新型并不限制于以上描述的具体实施例，其只是作为范例。对于本领域技术人员而言，任何等同修改和替代也都在本实用新型的范畴之中。因此，在不脱离本实用新型的精神和范围下所作出的均等变换和修改，都应涵盖在本实用新型的范围内。