一种非接触式交流电探测器的制作方法

本实用新型涉及电力设备领域，尤其涉及一种非接触式交流电探测器。

背景技术：

对于二次交流电流回路，不能直观的判断是否带电，这对运行人员和检修人员了解当前设备状态带来了不便，特别是母线保护、稳控装置等设备连接了多组电流回路，一旦识别错了可能带来严重的后果。对于二次交流电流回路是否带电的判断，现有的做法是将线圈缠绕到二次电流回路的导线上，通过二次电流流过线圈产生的交变磁场，在线圈上产生感应电动势，显示到万用表灯电压测量装置上。但这种办法应用比较局限，很多时候会用许多不同方向的导线捆绑在一起，测量时需解开捆绑，不然无法探测，还有些时候导线外部包裹有厚厚的绝缘层，如果直接在绝缘层上缠绕线圈，得到的测量信号将十分微弱，很难判断。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题是：提供一种非接触式交流电探测器，以解决现有技术探测二次交流电回路是否带电困难的问题。

本实用新型的技术方案是：一种非接触式交流电探测器，包括探测线圈，所述非接触式交流电探测器，还包括前置电阻、一级放大器、二级放大器、可调电阻、标准电压、第一A/D转换器、第二A/D转换器、MCU和LED灯，探测线圈两端分别与前置电阻两端电连接，一级放大器输入端与前置电阻并联，一级放大器输出端电连接二级放大器输入端，二级放大器输出端与第一A/D转换器输入端电连接，第一A/D转换器输出端与MCU电连接，可调电阻一端电连接标准电压，可调电阻另一端电连接第二A/D转换器输入端，第二A/D转换器输出端与MCU电连接，LED灯与MCU电连接。

进一步地，所述非接触式交流电探测器还包括导磁块，探测线圈按同一方向缠绕在导磁块上。

进一步地，所述导磁块材料为硅钢。

进一步地，所述导磁块材料为圆柱形。

本实用新型的有益效果是：

与现有技术相比，本实用新型通过在探测线圈两端分别与前置电阻两端电连接，一级放大器输入端与前置电阻并联，一级放大器输出端电连接二级放大器输入端，二级放大器输出端与第一A/D转换器输入端电连接，第一A/D转换器输出端与MCU电连接，可调电阻一端电连接标准电压，可调电阻另一端电连接第二A/D转换器输入端，第二A/D转换器输出端与MCU电连接，LED灯与MCU电连接，使得探测线圈探测到的微弱信号能够被LED灯显示出来。本实用新型携带轻便，灵敏度高，能够非接触的检测交流导线是否带电，特别适用于检测交流导线是否带电。

附图说明

图1为本实用新型的电路连接图；

图2为本实用新型线圈与导磁块处的立体图；

图中：1探测线圈、2前置电阻、3一级放大器、4二级放大器、5第一A/D转换器、6、MCU、7第二A/D转换器、8可调电阻、9标准电压、10LED灯、11导磁块。

具体实施方式

下面结合附图及具体的实施例对实用新型进行进一步介绍：

参考图1至图2，一种非接触式交流电探测器，包括探测线圈1，所述非接触式交流电探测器，还包括前置电阻2、一级放大器3、二级放大器4、可调电阻8、标准电压9、第一A/D转换器5、第二A/D转换器7、MCU6和LED灯10，探测线圈1两端分别与前置电阻2两端电连接，一级放大器3输入端与前置电阻2并联，一级放大器3输出端电连接二级放大器4输入端，二级放大器4输出端与第一A/D转换器5输入端电连接，第一A/D转换器5输出端与MCU6电连接，可调电阻8一端电连接标准电压9，可调电阻8另一端电连接第二A/D转换器输入端7，第二A/D转换器7输出端与MCU6电连接，LED灯10与MCU6电连接。使用时通过放大器放大探测线圈1的测量信号并在MCU 6微处理器比较可调电阻8输出的对比电压，判断探测线圈1测量得到的电压信号是否大于可调电阻8输出的对比电压，如果大于可调电阻8输出的对比电压MCU 6控制点亮LED灯10。

进一步地，所述非接触式交流电探测器还包括导磁块11，探测线圈1按同一方向缠绕在导磁块11上。导磁块11的导磁能力较强，通过其内部的磁场线更加密集，作用到探测线圈1的磁场更强，使得探测灵敏度更高。

进一步地，所述导磁块11材料为硅钢。硅钢磁导率非常好。

进一步地，所述导磁块11材料为圆柱形。同样的体积圆柱形导磁块11的导磁效率更高。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。