一种应用于PCBA板测试的同轴大电流探针的制作方法

文档序号:18608083发布日期:2019-09-06 19:54阅读:210来源:国知局
一种应用于PCBA板测试的同轴大电流探针的制作方法

本实用新型涉及探针技术领域,具体为一种应用于PCBA板测试的同轴大电流探针。



背景技术:

PCBA是英文Printed Circuit Board+Assembly的简称,也就是说PCB空板经过SMT上件,再经过DIP插件的整个制程,简称PCBA,在PCBA投入使用时需要进行电流测试,而现有的电流探针在流经较大容量的电流时,探头和针头容易出现损坏,因现有技术的电流探针都是一体化的,在探头或针头出现损坏后需要更换整个探针,造成不必要的浪费。

在中国实用新型专利申请公开说明书CN 105044406 A中公开的电流探针,该电流探针,虽然,结构简单,科学合理,易制作,成本低,使用性能更佳,检测精度高,寿命长,但是,该电流探针,探头出现损坏的情况下无法单独更换,并且针头在测试时容易受其他接触部件的影响,导致数据不准确。

目前,现有的用于PCBA板测试的同轴电流探针,探头出现损坏的情况下无法单独更换,并且测试数据不够准确,使用不便,不利于推广使用。



技术实现要素:

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种应用于PCBA板测试的同轴大电流探针,解决了现有的用于PCBA板测试的同轴电流探针,探头出现损坏的情况下无法单独更换,并且测试数据不够准确,使用不便,不利于推广使用的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:

一种应用于PCBA板测试的同轴大电流探针,包括探针本体,所述探针本体包括外筒、内筒、探头、针轴和针头,所述外筒套接在内筒的中部,所述探头的上端与内筒的下端活动连接,所述内筒套接在针轴的中部,所述针轴的下端与探头的内部活动连接,所述针头的上端与针轴活动连接;

所述内筒的中部开设有第一安装槽,所述内筒的上下两端均开设有固定槽,所述固定槽的内部活动安装有绝缘套,所述绝缘套的中部开设有第二安装槽,所述绝缘套的两端中部均固定连接有第一卡块,所述固定槽的两端内壁中部均开设有与第一卡块相适配的第一卡槽;

所述针轴的两端下侧均固定连接有限位滑块,所述第一安装槽的两端下侧均开设有与限位滑块相适配的限位滑槽,所述探头的上端开设有与内筒相适配的第一紧固槽,所述紧固槽的下端开设有与针轴相适配的第二紧固槽;

所述探头包括第一探头和第二探头,所述第一探头的一端与第二探头的一端活动连接,所述第一探头的两端中部均固定连接有第二卡块,所述第二探头的两端中部均开设有第二卡槽,所述第二卡块的上端中部固定连接有第三卡块,所述第二卡槽的上端内壁中部开设有第三卡槽。

可选的,所述第一安装槽的上下两端均开口;

所述第一安装槽和第二安装槽均与针轴相适配。

可选的,所述内筒的下端外表面和针轴的中部外表面均套接有压缩弹簧;

所述第一安装槽的一端与第二安装槽的一端相连通。

可选的,所述第一卡块为弹性卡块;

所述外筒的上端外表面开设有螺纹凹槽。

可选的,所述限位滑块位于限位滑槽的内部;

所述第一紧固槽的下端与第二紧固槽的上端相连通。

可选的,所述第三卡块的截面为直角三角形;

所述第三卡块为橡胶卡块。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种应用于PCBA板测试的同轴大电流探针,具备以下有益效果:

(1)、该应用于PCBA板测试的同轴大电流探针,一方面探头在使用过久后出现损坏和故障时,可以直接从内筒的下端拆下,进行更换,不必直接更换探针本体,节约成本,另一方面限位滑块可以限制针头移动的长度,防止针头移动过多,其次绝缘套在探针本体使用时,可以防止针头与其他部件接触,导致针头受到影响,使测试数据不准确。

(2)、该应用于PCBA板测试的同轴大电流探针,一方面第二紧固槽可以防止探针本体在使用时,针头出现滑动的情况,影响测量,另一方面第一卡块使绝缘套可以从内筒的内部拆下,更换方便,其次第二卡块和第三卡块配合使用,使第一探头和第二探头之间固定的更加紧固,在第一探头和第二探头拼装后不会轻易松开。

附图说明

图1为本实用新型的主视图;

图2为本实用新型的剖视图;

图3为本实用新型的图2中A处结构放大示意图;

图4为本实用新型的图2中B处结构放大示意图;

图5为本实用新型的探头剖视图。

图中:1、探针本体;2、外筒;201、螺纹凹槽;3、内筒;4、探头;5、针轴;6、针头;7、第一安装槽;8、固定槽;9、绝缘套;10、第二安装槽;11、第一卡块;12、第一卡槽;13、限位滑块;14、限位滑槽;15、第一紧固槽;16、第二紧固槽;17、第一探头;18、第二探头;19、第二卡块;20、第二卡槽;21、第三卡块;22、第三卡槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。

在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接;可以是机械连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

此外,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。

请参阅图1-5,本实用新型提供一种技术方案:

一种应用于PCBA板测试的同轴大电流探针,包括探针本体1,探针本体1包括外筒2、内筒3、探头4、针轴5和针头6,外筒2套接在内筒3的中部,探头4的上端与内筒3的下端活动连接,探头4在使用过久后出现损坏和故障时,可以直接从内筒3的下端拆下,进行更换,不必直接更换探针本体1,节约成本,内筒3套接在针轴5的中部,针轴5的下端与探头4的内部活动连接,针头6的上端与针轴5活动连接;

内筒3的中部开设有第一安装槽7,内筒3的上下两端均开设有固定槽8,固定槽8的内部活动安装有绝缘套9,绝缘套9在探针本体1使用时,可以防止针头6与其他部件接触,导致针头6受到影响,使测试数据不准确,绝缘套9的中部开设有第二安装槽10,绝缘套9的两端中部均固定连接有第一卡块11,第一卡块11使绝缘套9可以从内筒3的内部拆下,更换方便,固定槽8的两端内壁中部均开设有与第一卡块11相适配的第一卡槽12;

针轴5的两端下侧均固定连接有限位滑块13,限位滑块13可以限制针头6移动的长度,防止针头6移动过多,第一安装槽7的两端下侧均开设有与限位滑块13相适配的限位滑槽14,探头4的上端开设有与内筒3相适配的第一紧固槽15,紧固槽15的下端开设有与针轴5相适配的第二紧固槽16,第二紧固槽16可以防止探针本体1在使用时,针头6出现滑动的情况,影响测量;

探头4包括第一探头17和第二探头18,第一探头17的一端与第二探头18的一端活动连接,第一探头17的两端中部均固定连接有第二卡块19,第二探头18的两端中部均开设有第二卡槽20,第二卡块19的上端中部固定连接有第三卡块21,第二卡块19和第三卡块21配合使用,使第一探头17和第二探头18之间固定的更加紧固,在第一探头17和第二探头18拼装后不会轻易松开,第二卡槽20的上端内壁中部开设有第三卡槽22。

作为本实用新型的一种可选技术方案:第一安装槽7的上下两端均开口;

第一安装槽7和第二安装槽10均与针轴5相适配。

作为本实用新型的一种可选技术方案:内筒3的下端外表面和针轴5的中部外表面均套接有压缩弹簧;

第一安装槽7的一端与第二安装槽10的一端相连通。

作为本实用新型的一种可选技术方案:第一卡块11为弹性卡块;

外筒2的上端外表面开设有螺纹凹槽201。

作为本实用新型的一种可选技术方案:限位滑块13位于限位滑槽14的内部;

第一紧固槽15的下端与第二紧固槽16的上端相连通。

作为本实用新型的一种可选技术方案:第三卡块21的截面为直角三角形;

第三卡块21为橡胶卡块。

综上所述,该应用于PCBA板测试的同轴大电流探针,使用时,使用者将第二探头18的一端与内筒3的一端下侧相对应,使第一紧固槽15的内表面与内筒3的下端一侧外表面贴合,第二紧固槽16与针轴5的下端一侧外表面贴合,这是使第一探头17一端的第二卡块19对准第二探头18一端的第二卡槽20插入,此时第三卡块21受力形变压缩,当第二卡块19完全插入第二卡槽20的内部时,第三卡槽22与第三卡块21处于相对应的位置,此时第三卡块21卡如第三卡槽22的内部,此时探头4安装在内筒3的下端,使用时,将探头4对准将要测量的地方,然后利用内筒3和针轴5外表面套接的压缩弹簧使探头4可以与测量的位置紧密贴合,减少打滑的情况,在探头4出现损坏的情况下,可以使用较大的力使第二卡块19从第二卡槽20的内部拔出,更换新的探头4,拆卸探头4时,不会损坏到其他配件。

需要说明的是,在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

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