一种发光二极管承片台安装结构的制作方法

本实用新型涉及一种发光二极管承片台安装结构。

背景技术：

现有的发光二极管测试设备为了便于承片台调节部的安装和拆卸，将承片台θ轴转动的调节部（对应本实施例的第二驱动部）设置在第二基座远离第一丝杆的位置；在此情况下，第二驱动部驱动承片台转动会影响第一丝杆的运动精度；同时，设备操作人员在位置d操作设备，第二驱动部占据了部分承片台靠近安装调试的空间，影响对承片台的安装调试。

技术实现要素：

为改善第二驱动部驱动承片台旋转造成第一丝杆进给精度不准的状况，本实用新型提出一种发光二极管承片台安装结构。

本实用新型的技术方案为：一种发光二极管承片台安装结构包括，

第一基座；

第二基座，通过第一滑轨连接于第一基座，同时通过第二滑轨连接于第一基座；所述第一滑轨平行于第二滑轨，所述第一滑轨和第二滑轨限定第二基座仅能够沿方向a相对于第一基座运动；

第一驱动部，安装于第一基座；

第一丝杆，安装于第二基座；所述第一丝杆与第一驱动部连接，在第一驱动部作用下，所述第一丝杆驱动所述第二基座相对于第一基座沿方向a运动；

承片台，用于放置待测试的发光二极管晶圆，在第二基座远离第一基座的一侧转动连接；

第二驱动部，安装于第二基座，通过皮带连接于承片台，使承片台能够相对于第二基座沿θ轴转动；所述第二驱动部位于第一滑轨和第二滑轨之间。

进一步的，所述第二驱动部输出轴与θ轴位于平面b中；第一滑轨和第二滑轨位于平面c；所述平面b垂直于平面c。

进一步的，所述平面b平行于第一滑轨，所述平面b平行于第二滑轨。

进一步的，所述承片台设置有透光部；

所述第一基座设置有第一开口，所述第一开口正对应所述透光部；

所述第二基座设置有第二开口，所述第二开口正对应所述透光部。

本实用新型的有益效果为：将第二驱动部的重量分担于第一滑轨和第二滑轨，从而减小第二驱动部驱动承片台转动对第一丝杆位置精度的影响。

附图说明

图1为本实用新型一种发光二极管承片台安装结构示意图。

具体实施方式

为便于本领域技术人员理解本实用新型的技术方案，下面将本实用新型的技术方案结合具体实施例作进一步详细的说明。

如图1所示，一种发光二极管承片台安装结构100，包括，

第一基座20；

第二基座30，通过第一滑轨21连接于第一基座20，同时通过第二滑轨22连接于第一基座20；所述第一滑轨21平行于第二滑轨22，所述第一滑轨21和第二滑轨22限定第二基座30仅能够沿方向a相对于第一基座20运动；

第一驱动部41，安装于第一基座20；

第一丝杆42，安装于第二基座30；所述第一丝杆42与第一驱动部41连接，在第一驱动部41作用下，所述第一丝杆42驱动所述第二基座30相对于第一基座20沿方向a运动，通过第一驱动部41控制第一丝杆42转动，实现对第二基座30相对于第一基座20运动进给的控制，所述第一丝杆42与第二基座30连接精度直接影响第二基座30相对于第一基座20运动进给精度；

承片台50，用于放置待测试的发光二极管晶圆，在第二基座30远离第一基座20的一侧转动连接；对于正装，所述承片台50能够通过转动轴连接于第二基座30；对于倒装发光二极管，为了满足积分球采集光线的需求，承片台50通过至少3个转动连接部71连接，所述转动连接部71包括连接于轴承内圈的安装部和连接于轴承外圈的凹槽旋转部，所述凹槽旋转部能够相对于安装部转动，所述凹槽旋转部卡住承片台50，从而实现承片台50能够相对于第二基座30绕θ轴转动，所述多个转动连接部71之间形成用于积分球进给的空间；

第二驱动部61，安装于第二基座30，通过皮带62连接于承片台50，所述皮带62为同步带，使承片台50能够相对于第二基座30沿θ轴转动，用于调节待测试的发光二极管晶圆与测试基准位置对准；所述第二驱动部61位于第一滑轨21和第二滑轨22之间；将第二驱动部61的重量分担于第一滑轨21和第二滑轨22，从而减小第二驱动部61驱动承片台50转动对第一丝杆42位置精度的影响。

如图1所示，所述第二驱动部61输出轴与θ轴位于平面b中；第一滑轨21和第二滑轨22位于平面c；所述平面b垂直于平面c；当所述第一滑轨21和第二滑轨22设置于水平面时，所述第二驱动部61输出轴刚好位于竖直方向，同时θ轴也位于竖直方向，从而降低承片台50在倾斜位置旋转造成的运动稳定性差的风险；承片台自身位于水平位置，方便测试设备的调试，便于测试探针对发光二极管晶圆上的晶粒扎入位置的调节。

如图1所示，所述平面b平行于第一滑轨21，所述平面b平行于第二滑轨22；使承片台50倾向于向第二驱动部61运动的力沿第一丝杆42的轴向，从而消除第二驱动部61驱动承片台50旋转造成的第一丝杆42形变，从而影响第一丝杆42运动进给精度的准确度。

如图1所示，所述承片台50设置有透光部51；

所述第一基座20设置有第一开口，所述第一开口正对应所述透光部51；

所述第二基座30设置有第二开口，所述第二开口正对应所述透光部51；对于倒装发光二极管晶圆，承片台50水平设置，承片台50上侧需要安装测试探针，故接收光线的积分球只能设置在承片台50远离测试探针的一侧，将所述第一基座20设置第一开口，第二基座30设置第二开口用于满足积分球的进给运动，从而积分球能够穿过第一基座20和第二基座30；满足对倒装发光二极管晶圆的测试需求。

以上是本实用新型的较佳实施例，不用于限定本实用新型的保护范围。应当认可，本领域技术人员在理解了本实用新型技术方案后所作的非创造性变形和改变，应当也属于本实用新型的保护和公开的范围。