技术总结
本实用新型公开了一种光学检测设备，包括承载平台，用于承载被测物体；第一图像采集器，被配置在所述承载平台的上方，以采集所述被测物体顶面的图像数据；第二图像采集器，被配置在所述承载平台的侧方，以采集所述被测物体侧面的图像数据。在需要对被测物体的侧面和顶面进行检测时，可以将该被测物体放置在承载平台上，并分别启动顶部的第一图像采集器和侧部的第二图像采集器，从而可以获取被测物体顶面和侧面的图像数据，根据所获得的图像数据，可以分析被测物体的厚度或者被测物体的表面缺陷等，避免了传统地光学检测设备无法检测被测物体侧面图像数据的缺陷，拓宽了该光学检测设备的应用范围。
技术研发人员：杨德天;刘琦;张敏亮;车星光
受保护的技术使用者：东泰高科装备科技有限公司
技术研发日：2018.12.26
技术公布日：2019.11.15