移相器振动系统的制作方法

本实用新型涉及移相器测试技术，特别是涉及移相器振动系统。

背景技术：

移相器是能够对波的相位进行调整的一种装置，其结合了变压器移相技术与数字测量技术，可以满足较高精度的单相及三相交流功率、相位等仪表的测试校验，也能用于电度表的检定装置之中。

传统的移相器测试技术，通常是在静态环境下对移相器的各项指标进行测试。

申请人在实现传统技术的过程中发现：静态环境下对移相器进行测试，得到的测试指标准确性低。

技术实现要素：

基于此，有必要针对传统技术中存在的静态环境下移相器测试指标准确性低的问题，提供一种用于移相器测试的振动系统。

一种移相器振动系统，包括：定位装置，包括反射机构及与所述反射机构固定连接的固定机构，所述固定机构用于对所述移相器进行定位；振动装置，包括振动机构，及与所述振动机构连接且由所述振动机构驱动的橡胶块；所述橡胶块用于敲击所述定位装置。

上述移相器振动系统，振动机构可以驱动橡胶块有规律的振动，再通过橡胶块敲击定位装置，即可使位于定位装置上的移相器产生振动。该移相器振动系统，可以在移相器测试过程中为移相器提供有效且可控的振动，从而增加移相器测试过程中的准确性。

在其中一个实施例中，所述反射机构包括反射板及设于所述反射板外的保护罩。

上述振动系统，发射板外还设有保护罩，可以对振动系统进行保护，从而提高振动系统的稳定性。

在其中一个实施例中，所述固定机构包括若干个定位块；所述若干个定位块设于所述反射板上，并所述反射板上围成定位区域，以对所述移相器进行定位。

在其中一个实施例中，所述定位区域在所述反射板上为具有开口的半封闭区域。

在其中一个实施例中，所述振动系统还包括驱动装置；所述驱动装置与所述反射机构固定连接，以驱动移相器移动。

上述振动系统，驱动装置可以驱动移相器移动，从而在移相器的测试过程中，可以通过驱动装置改变移相器的相位状态，使移相器的指标测试更加全面。同时，该相位状态的改变过程为机械操控，相比于手工改变相位器的相位状态，其减少了劳动力，提高了测试效率，降低了测试成本。

在其中一个实施例中，所述驱动装置设于所述定位区域设有开口的一侧。

在其中一个实施例中，所述驱动装置包括驱动机构及与所述驱动机构连接、由所述驱动机构驱动的传动机构；所述驱动机构固定于所述反射板上，所述传动机构用于驱动所述移相器。

在其中一个实施例中，所述传动机构设有夹紧部件，所述夹紧部件设于所述传动机构靠近所述定位区域的一端，以夹紧所述移相器。

在其中一个实施例中，所述固定机构还包括压紧块；所述压紧块的第一端设于所述保护罩上，且所述压紧块的第二端向所述定位区域延伸，以提供使所述移相器固定于所述反射板的挤压力。

上述振动系统，还通过压紧块固定移相器，使移相器与定位装置的固定更加紧密，从而增加了移相器测试过程中的准确性。

在其中一个实施例中，所述反射机构还包括至少设于所述反射板一端的端盖。

附图说明

图1为本申请一个实施例中定位装置的结构示意图。

图2为本申请一个实施例中振动装置的结构示意图。

图3为本申请一个实施例中定位装置的局部结构示意图。

图4为本申请一个实施例中移相器测试过程中移相器的连接关系示意图。

其中，各附图标号所代表的含义分别为：

100、定位装置；

112、反射板；

114、保护罩；

122、定位块；

124、压紧块；

132、端盖；

200、振动装置

212、振动机构；

214、橡胶块；

300、驱动装置；

312、驱动机构；

314、传动机构；

316、夹紧部件；

20、移相器；

32、快插负载；

34、接头；

36、同轴电缆。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

本申请提供一种用于在移相器测试过程中，为移相器提供有效可控振动的振动系统。

一种用于移相器测试的移相器振动系统，如图1和图2所示，包括用于定位移相器20的定位装置100和用于敲击定位装置100以使移相器20振动的振动装置200。

具体来说，如图1所示，定位装置100应包括反射机构与反射机构固定连接的固定机构。反射机构用于放置移相器20，以在移相器20的测试过程中起反射作用。固定机构用于对移相器20进行定位，以使移相器20在测试过程中相对固定机构位置不变。固定机构与反射机构固定连接，从而将移相器20固定于反射机构上。在移相器20振动测试过程中，反射机构、固定机构和移相器20三者的相对位置保持不变。

如图2所示，振动装置200包括振动机构212和橡胶块214。振动机构212工作过程中，持续产生有效的可控的振动。振动机构212与橡胶块214驱动连接，以使振动机构212工作过程中，橡胶块214也产生持续的、有效的且可控的振动。

更具体的，该振动系统的工作流程为：当需要对移相器20进行振动测试时，将移相器20固定于该振动系统的定位装置100内。然后开启振动装置200的振动机构212，使橡胶块214产生振动，并使用橡胶块214敲击定位装置100。此时，位于定位装置100内的移相器20即产生振动，在该环境下对移相器20的测试更加准确。

上述移相器振动系统，振动机构212可以驱动橡胶块214有规律的振动，再通过橡胶块214敲击定位装置100，即可使位于定位装置100上的移相器20产生振动。该移相器振动系统，可以在移相器20测试过程中为移相器20提供有效且可控的振动，从而增加移相器20测试过程中的准确性。

进一步的，上述振动系统，其反射机构包括反射板112和设于反射板112外的保护罩114。固定机构包括若干个设于反射板112上的定位块122。

如图1所示，反射机构包括反射板112和设于反射板112两侧、并向反射板112内部弯曲延伸的保护罩114。保护罩114用于保护反射板112。

固定机构应至少包括若干个固定设于反射板112上的定位块122。其中，若干个指两个或两个以上。两个或两个以上的定位块122设于反射板112上，并在反射板112上围成一用于定位移相器20的区域。为方便描述，将定位块122在反射板112上围成的区域命名为定位区域，该定位区域为在反射板112所在平面的一平面区域。移相器20固定于所述定位装置100上时，位于该定位区域内。图1同样示出了移相器20，其中移相器20即位于定位装置100的定位块122内。

上述振动系统，发射板外还设有保护罩114，可以对振动系统进行保护，从而提高振动系统的稳定性。

在一个实施例中，上述定位块122在反射板112上形成的定位区域为具有开口的半封闭区域。

具体的，两个或两个以上的定位块122在反射板112上形成一平面的用于定位移相器20的定位区域。在该实施例中，该定位区域仅三侧设有定位块122，以使移相器20可以从定位区域内沿反射板112滑动。换句话说，该定位区域在反射板112所在平面上具有开口，为一半封闭区域。

进一步的，如图1和图3所示，上述振动系统还包括有驱动装置300。

具体的，该驱动装置300与反射机构固定连接，以固定在反射机构上。驱动装置300设于定位区域设有开口的一侧，以用于驱动移相器20在反射板112所在平面上移动。

更具体的，上述反射板112上设有两个以上的定位块122。两个以上的定位块122在反射板112上形成一三面围合的定位区域。驱动装置300设于定位区域设有的开口一侧。驱动装置300包括驱动机构312和与驱动机构312连接、并由驱动机构312驱动的传动机构314。驱动机构312固定在反射机构的反射板112上。驱动机构312工作时，传动机构314在驱动机构312与定位区域之间做往复运动。如图3所示，传动机构314远离驱动机构312、靠近定位区域的一侧还设有用于夹紧移相器20的夹紧部件316，以夹紧移相器20。

当该振动系统应用于移相器20的测试时，其工作流程为：将移相器20固定于该振动系统的定位装置100内。然后开启振动装置200的振动机构212，使橡胶块214产生振动，并使用橡胶块214敲击定位装置100。此时，位于定位装置100内的移相器20即产生振动。测试结束后，若需要改变移相器20的相位状态对移相器20进一步测试，则可以控制驱动机构312工作。此时驱动机构312驱动传动机构314运动，传动机构314通过夹紧部件316带动移相器20移动，即可以改变移相器20的相位。

该振动系统，可以通过驱动装置300驱动移相器20运动，从而在移相器20的测试过程中改变移相器20的相位状态，是移相器20的指标测试更加全面。使用驱动装置300改变移相器20的相位状态，相比于手工改变相位器的相位状态，其减少了劳动力，提高了测试效率，降低了测试成本。

在一个实施例中，上述固定机构还包括压紧块124。

具体的，压紧块124包括用于固定的第一端和用于提供压紧作用力的第二端。压紧块124的第一端设于保护罩114上，从而以保护罩114为基础向移相器20提供压力。压紧块124的第二端向上述的定位区域延伸，以提供使移相器20固定于反射板112的挤压力。

该振动系统，当将移相器20置于定位块122形成的定位区域内后，还可以使用压紧块124压于移相器20远离反射板112的平面，从而为移相器20提供使其固定于反射板112的挤压力。该压紧块124可以使移相器20与定位装置100的固定更加紧密，从而增加了移相器20测试过程中的准确性。

在一个实施例中，如图1所示，上述反射机构包括反射板112及设于反射板112外的保护罩114，还包括至少设于反射板112一端的端盖132。端盖132用于对反射板112的保护。该反射机构可以设有一个端盖132或两个端盖132。图1示出了反射机构具有一个端盖132的示意图。当反射机构设有两个端盖132时，两个端盖132相对设置，且两个端盖132与保护罩114分别位于反射板112的不同侧边，以对反射板112进行保护。

以下结合图4从一个具体的实施例对本申请的振动系统进行解释说明。

如图4所示，该振动系统主要包括定位装置100、振动装置200和驱动装置300。

定位装置100用于定位移相器20，包括设于发射板、设于反射板112两边并向反射板112内弯曲延伸的保护罩114及设于发射板一端的端盖132。反射板112上设有多个定位块122，以形成三边封闭一边开口的、用于容纳固定移相器20的定位区域。保护罩114上还设有向定位区域延伸的压紧块124，以在振动系统工作时，将移相器20挤压固定于反射板112上。

驱动装置300包括驱动机构312和传动机构314。驱动机构312设于反射板112上，且靠近定位区域的开口处。传动机构314由驱动机构312驱动。且驱动机构312驱动传动机构314时，传动机构314在驱动机构312与定位区域之间移动。传动机构314设有夹紧部件316，以夹紧移相器20从而带动移相器20移动。

振动装置200包括可以产生振动的振动机构212和与振动机构212连接、由振动机构212驱动的橡胶块214。振动机构212工作时，橡胶块214亦产生振动。该振动系统工作时，可以使用振动装置200的橡胶块214敲击定位装置100的保护罩114，从而使定位装置100产生有效振动。

该振动系统应用于移相器20测试时，首先由人工将移相器20固定于反射板112上、固定块之间，并使用压紧块124为移相器20提供固定于反射板112的挤压力。然后将移相器20连接负载，即将移相器20的输出端用同轴电缆36电性连接到快插负载32，将输入端用同轴电缆36和接头34电性连接至测试仪器。紧接着，开启振动机构212，使橡胶块214产生振动，并使用橡胶块214敲击保护罩114。此时，开启测试仪器，即可对移相器20的各项指标进行测试。记录下测试数据，即可完成对移相器20的一个相位的一次测试。

当需要对一个移相器20的多个相位状态进行测试时，可先停止橡胶块214对保护罩114的敲击，移开压紧块124，开启驱动机构312，使相位器移动一个或数个相位距离。再关闭驱动机构312，压紧压紧块124。再次使用橡胶块214对保护罩114进行敲击，并测试相关指标数据及记录，即可完成对移相器20的多个相位的测试。

上述振动系统，应用于移相器20的振动测试，可以在移相器20测试过程中为移相器20提供有效且可控的振动，从而增加移相器20测试过程中的准确性。同时，该振动系统工作过程中还可以机械改变移相器20相位，减少了劳动力，提高了测试效率，降低了测试成本。

在另一个具体的实施例中，上述振动系统还可以用于滤波器的振动测试和辐射单元的振动测试。当该振动系统用于滤波器的振动测试时，测试过程中，使用压紧块124压紧滤波器，使用振动的橡胶块214敲击定位装置100的保护罩114，即可为滤波器提供有效且可控的振动。同样的，当该振动系统用于辐射单元的振动测试时，测试过程中，使用压紧块124压紧辐射单元，使用振动的橡胶块214敲击定位装置100的保护罩114，即可为辐射单元提供有效且可控的振动。不再赘述。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。