密度继电器校验支架的制作方法

文档序号:18992076发布日期:2019-10-29 20:52阅读:来源:国知局

技术特征:

1.密度继电器校验支架,其特征在于,包括:

支撑架,所述支撑架包括至少三根支撑杆;

托座,位于所述支撑架顶端,用于支撑密度继电器;

托槽,位于所述托座后端中部,用于使密度继电器的连接管从所述托槽中伸出。

2.如权利要求1所述的密度继电器校验支架,其特征在于,所述托座为弧形托座,所述弧形托座与密度继电器的外形相适配。

3.如权利要求2所述的密度继电器校验支架,其特征在于,所述托座的前后边缘及所述托槽的边缘均设有挡边。

4.如权利要求1-3任一项所述的密度继电器校验支架,其特征在于,所述托座后端侧部设有开口槽。

5.如权利要求4所述的密度继电器校验支架,其特征在于,所述支撑杆设有四根,所述支撑杆之间设有连接杆。

6.如权利要求5所述的密度继电器校验支架,其特征在于,所述支撑杆与所述连接杆一体成型,所述支撑架与所述托座焊接连接。

7.如权利要求6所述的密度继电器校验支架,其特征在于,所述支撑杆与所述连接杆的连接处设有保护套。

8.如权利要求7所述的密度继电器校验支架,其特征在于,所述保护套为橡胶保护套。

9.如权利要求8所述的密度继电器校验支架,其特征在于,所述橡胶保护套上设有防滑纹。

10.如权利要求9所述的密度继电器校验支架,其特征在于,所述支撑架和托座为不锈钢构件。

当前第2页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1