技术特征：
技术总结
本发明提供了一种五维可调的太赫兹接收芯片响应度测量系统及方法。该系统包括：频率源(1)、信号源(2)、准直系统(3)、控制模块(4)、五维可调节结构(5)、功率计(6)、斩波器(7)、锁相放大器(8)和上位机(9)，其中，五维可调节结构(5)包括水平移动台(A)、垂直移动台(B)、转换支架(C)、极化方向调节支架(D)、接收芯片(E)、焦距调节平移台(F)和入射角旋转支架(G)。本发明解决了现有太赫兹接收芯片响应度测量系统因无法准确测量芯片有效面积而造成的响应度测量不准确的问题。
技术研发人员：张镜水;肖勇;李召阳;王文鹏;张春艳;王智斌
受保护的技术使用者：北京遥感设备研究所
技术研发日：2019.03.19
技术公布日：2019.05.31