双探头金属双张检测器的信号接收电路的制作方法

本发明涉及双探头金属双张检测器领域，特别涉及一种双探头金属双张检测器的信号接收电路。

背景技术：

我国目前在PCB电路板行业中，通常使用超声波双张检测和机械式(顶针感应式)检测电路板片材是否双片重叠，超声波检测对于PCB常规普通片材是可以检测，但有些片材会带有许多小孔，基于超声波原理的双张产品无法正常检测，而机械式只能检测0.20mm以上厚度的片材，较薄的难分辨单片还是双片，而软板片材通常是0.01～0.10mm厚度，所以这两种情况都成为PCB行业的一个技术难点。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种能对双张产品进行正常检测、能检测较薄的片材的双探头金属双张检测器的信号接收电路。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种双探头金属双张检测器的信号接收电路，包括发射电路、传感器发射线圈、传感器接收线圈、第二电容、第三电容、第五电阻、第四电容、第二十电阻、第六电位器、第七电阻、第六电容、第一集成运算放大器、第八电阻、第十电阻、第十一电阻、第五电容、第十二电阻、第三二极管、第二集成运算放大器、第十七电阻和模拟电压输出端，所述传感器发射线圈的一端与所述发射电路的一端连接，所述传感器发射线圈的另一端与所述发射电路的另一端连接，所述传感器接收线圈的一端与所述第二电容的一端连接，所述第二电容的另一端分别与所述第三电容的一端和第五电阻的一端连接，所述传感器接收线圈的另一端接地，所述第三电容的另一端分别与所述第四电容的一端和第六电位器的一个固定端连接，所述第一集成运算放大器的第七引脚分别与所述第四电容的另一端和第二十电阻的一端连接，所述第一集成运算放大器的第六引脚分别与所述第二十电阻的另一端和第五电阻的另一端连接；

所述第六电位器的另一个固定端与所述第七电阻的一端连接，所述第七电阻的另一端分别与所述第六电容的一端、第十二电阻的一端和第十七电阻的一端连接，所述第六电容的另一端接地，所述第六电位器的滑动端通过所述第八电阻分别与所述第一集成运算放大器的，第二引脚和第十一电阻的一端连接，所述第十一电阻的另一端分别与所述第十电阻的一端和第五电容的一端连接，所述第五电容的另一端与所述第一集成运算放大器的第四引脚连接，所述第一集成运算放大器的第一引脚分别与所述第十电阻的另一端和第十二电阻的一端连接，所述第十二电阻的另一端与所述第三二极管的阴极连接，所述第三二极管的阳极与所述第二集成运算放大器的第七引脚连接，所述第二集成运算放大器的第二引脚与所述第十七电阻的另一端连接，所述第二集成运算放大器的第一引脚与所述模拟电压输出端连接。

在本发明所述的双探头金属双张检测器的信号接收电路中，还包括第一电容、第一电阻和第二电阻，所述第一电容的一端分别与所述传感器接收线圈的一端、第一电阻的一端和第二电容的一端连接，所述第二电阻的一端与所述第二电容的另一端连接，所述第一电容的另一端、第一电阻的另一端和第二电阻的另一端均接地。

在本发明所述的双探头金属双张检测器的信号接收电路中，还包括第三电阻和第四电阻，所述第三电阻的一端与所述第一集成运算放大器的第七脚连接，所述第四电阻的一端与所述第一集成运算放大器的第六引脚连接，所述第三电阻的另一端与所述第四电阻的另一端连接。

在本发明所述的双探头金属双张检测器的信号接收电路中，还包括第九电阻，所述第九电阻的一端与所述第一集成运算放大器的第一引脚连接，所述第九电阻的另一端与所述第一集成运算放大器的第二引脚连接。

在本发明所述的双探头金属双张检测器的信号接收电路中，还包括第二二极管、第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻、第一二极管和第十九电阻，所述第十三电阻的一端与所述第三二极管的阴极连接，所述第十三电阻的另一端分别与所述第十四电阻的一端和第二二极管的阳极连接，所述第二二极管的阴极分别与所述第三二极管的阳极、第二集成运算放大器的第五引脚和第十九电阻的一端连接，所述第十九电阻的另一端接地，所述第十四电阻的另一端与所述第十五电阻的一端连接，所述第十五电阻的另一端与所述第一二极管的阳极连接，所述第一二极管的阴极与所述第二集成运算放大器的第一引脚连接。

在本发明所述的双探头金属双张检测器的信号接收电路中，还包括第十六电阻和第七电容，所述第十六电阻的一端与所述第十四电阻的另一端连接，所述第十六电阻的另一端分别与所述第二集成运算放大器的第一引脚和第七电容的一端连接，所述第七电容的另一端与所述第二集成运算放大器的第二引脚连接。

在本发明所述的双探头金属双张检测器的信号接收电路中，还包括第十八电阻，所述第十八电阻的一端与所述第二集成运算放大器的第三引脚连接，所述第十八电阻的另一端接地。

实施本发明的双探头金属双张检测器的信号接收电路，具有以下有益效果：由于设有发射电路、传感器发射线圈、传感器接收线圈、第二电容、第三电容、

第五电阻、第四电容、第二十电阻、第六电位器、第七电阻、第六电容、第一集成运算放大器、第八电阻、第十电阻、第十一电阻、第五电容、第十二电阻、第三二极管、第二集成运算放大器、第十七电阻和模拟电压输出端，传感器接收线圈感应到传感器发射线圈的电压信号，经过第一集成运算放大器放大，当传感器由线圈之间放入一张金属片时，第六电位器设定一个单片基准电压，这个电压通过第二集成运算放大器放大后，第二集成运算放大器的第一引脚输出一个模拟电压，当传感器接收线圈感应到不同的电压信号时，模拟电压输出端输出的模拟电压也会随之而变，传感器感应到一张金属片和一张金属片的模拟电压是不同的，这个模拟电压经过电压比较电路就可以判断是一张或一张了，本发明能对双张产品进行正常检测、能检测较薄的片材。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明双探头金属双张检测器的信号接收电路一个实施例中的电路原理图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明双探头金属双张检测器的信号接收电路实施例中，该双探头金属双张检测器的信号接收电路的结构示意图如图1所示。图1中，该双探头金属双张检测器的信号接收电路包括发射电路、传感器发射线圈L1、传感器接收线圈L2、第二电容C2、第三电容C3、第五电阻R5、第四电容C4、第二十电阻R20、第六电位器R6、第七电阻R7、第六电容C6、第一集成运算放大器U1、第八电阻R8、第十电阻R10、第十一电阻R11、第五电容C5、第十二电阻R12、第三二极管D3、第二集成运算放大器U2、第十七电阻R17和模拟电压输出端Vout，传感器发射线圈L1的一端与发射电路的一端连接，传感器发射线圈L1的另一端与发射电路的另一端连接，传感器接收线圈L2的一端与第二电容C2的一端连接，第二电容C2的另一端分别与第三电容C3的一端和第五电阻R5的一端连接，传感器接收线圈L2的另一端接地，第三电容C3的另一端分别与第四电容C4的一端和第六电位器R6的一个固定端连接，第一集成运算放大器U1的第七引脚分别与第四电容C4的另一端和第二十电阻R20的一端连接，第一集成运算放大器U1的第六引脚分别与第二十电阻R20的另一端和第五电阻R5的另一端连接。

第六电位器R6的另一个固定端与第七电阻R7的一端连接，第七电阻R7的另一端分别与第六电容C6的一端、第十二电阻R12的一端和第十七电阻R17的一端连接，第六电容C6的另一端接地，第六电位器R6的滑动端通过第八电阻R8分别与第一集成运算放大器U1的，第二引脚和第十一电阻R11的一端连接，第十一电阻R11的另一端分别与第十电阻R10的一端和第五电容C5的一端连接，第五电容C5的另一端与第一集成运算放大器U1的第四引脚连接，第一集成运算放大器U1的第一引脚分别与第十电阻R10的另一端和第十二电阻R12的一端连接，第十二电阻R12的另一端与第三二极管D3的阴极连接，第三二极管D3的阳极与第二集成运算放大器U2的第七引脚连接，第二集成运算放大器U2的第二引脚与第十七电阻R17的另一端连接，第二集成运算放大器U2的第一引脚与模拟电压输出端Vout连接。

该双探头金属双张检测器的信号接收电路的工作原理如下：传感器接收线圈L2感应到传感器发射线圈L1的电压信号，经过第一集成运算放大器U1放大，当传感器由线圈之间放入一张金属片时，第六电位器R6设定一个单片基准电压，这个电压通过第二集成运算放大器U2放大后，第二集成运算放大器U2的第一引脚输出一个模拟电压，当传感器接收线圈L2感应到不同的电压信号时，模拟电压输出端Vout输出的模拟电压也会随之而变，传感器感应到一张金属片和两张金属片的模拟电压是不同的，这个模拟电压经过电压比较电路就可以判断是一张或两张片材了。本发明能对双张产品进行正常检测、能检测较薄的片材。使用双探头金属双张检测器能突破传统技术中的难点。

本实施例中，该双探头金属双张检测器的信号接收电路还包括第一电容C1、第一电阻R1和第二电阻R2，第一电容C1的一端分别与传感器接收线圈L2的一端、第一电阻R1的一端和第二电容C2的一端连接，第二电阻R1的一端与第二电容C2的另一端连接，第一电容C1的另一端、第一电阻R1的另一端和第二电阻R2的另一端均接地。

本实施例中，该双探头金属双张检测器的信号接收电路还包括第三电阻R3和第四电阻R4，第三电阻R3的一端与第一集成运算放大器U1的第七脚连接，第四电阻R4的一端与第一集成运算放大器U1的第六引脚连接，第三电阻R3的另一端与第四电阻R4的另一端连接。

本实施例中，该双探头金属双张检测器的信号接收电路还包括第九电阻R9，第九电阻R9的一端与第一集成运算放大器U1的第一引脚连接，第九电阻R9的另一端与第一集成运算放大器U1的第二引脚连接。

本实施例中，该双探头金属双张检测器的信号接收电路还包括第二二极管D2、第十三电阻R13、第十四电阻R14、第十五电阻R15、第一二极管D1和第十九电阻，第十三电阻R13的一端与第三二极管D3的阴极连接，第十三电阻R13的另一端分别与第十四电阻R14的一端和第二二极管D2的阳极连接，第二二极管D2的阴极分别与第三二极管D3的阳极、第二集成运算放大器U2的第五引脚和第十九电阻R19的一端连接，第十九电阻R19的另一端接地，第十四电阻R14的另一端与第十五电阻R15的一端连接，第十五电阻R15的另一端与第一二极管D1的阳极连接，第一二极管D1的阴极与第二集成运算放大器U2的第一引脚连接。

本实施例中，该双探头金属双张检测器的信号接收电路还包括第十六电阻R16和第七电容C7，第十六电阻R16的一端与第十四电阻R14的另一端连接，第十六电阻R16的另一端分别与第二集成运算放大器U2的第一引脚和第七电容C7的一端连接，第七电容C7的另一端与第二集成运算放大器U2的第二引脚连接。

本实施例中，该双探头金属双张检测器的信号接收电路还包括第十八电阻R18，第十八电阻R18的一端与第二集成运算放大器U2的第三引脚连接，第十八电阻R18的另一端接地。

总之，本发明使用双探头金属双张检测器能突破传统技术中的难点，可以判断是一张或两张片材，能对双张产品进行正常检测、能检测较薄的片材。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。