显示屏以及测试设备的制作方法

本发明涉及显示屏测试技术领域，特别是涉及一种显示屏以及测试设备。

背景技术：

随着科学技术的发展，显示屏已日渐成为人们生活的必需品，是各大厂商争相研发的焦点。

屏体测试(celltest，ct)是对邦定(bonding，芯片覆膜)前的单个显示屏的屏体进行点屏检测及老化测试的步骤，可以在投入模组前筛选出显示不良的屏体。

目前，在屏体测试时通常会由于对位错误导致，显示屏上的测试端子被击伤，轻微的也会造成线路损伤，更严重的是经过高温高湿还会造成测试端子腐蚀。

技术实现要素：

本发明主要解决的技术问题是提供一种显示屏以及测试设备，能够降低错位时第一外部端子或第二外部端子对显示屏的测试端子的损伤。

为解决上述技术问题，本申请实施例采用的一个技术方案是：提供一种显示屏，包括：

显示部；

非显示部，所述非显示部位于所述显示部的外围；

至少两个测试端子，所述至少两个测试端子设置于所述非显示部上，所述两个测试端子与所述显示部电连接，所述两个测试端子分别用于连接第一外部端子和第二外部端子以对所述显示屏进行测试，所述第一外部端子和所述第二外部端子的电位差大于第一预设值；

至少一个屏体保护端子，所述至少一个屏体保护端子设置于所述非显示部上，且位于两个测试端子之间，所述屏体保护端子不与所述显示屏的任何电路连接，或者被设计成与所述第一外部端子或所述第二外部端子之间的电位差小于第二预设值，所述第二预设值小于或者等于所述第一预设值。

其中，沿垂直于所述显示屏的方向，所述屏体保护端子的厚度大于所述测试端子的厚度；

优选地，所述屏体保护端子的厚度等于所述测试端子与所述第一外部端子的厚度之和，或所述屏体保护端子的厚度等于所述测试端子与所述第二外部端子的厚度之和。

其中，所述屏体保护端子为导电材质或者绝缘材质。

其中，所述至少两个测试端子等间距设置。

其中，所述屏体保护端子与相邻的所述测试端子间隔相等。

其中，沿所述测试端子的排布方向，所述测试端子的尺寸大于或等于所述屏体保护端子的尺寸。

其中，所述两个测试端子分别电连接至所述显示屏的电源正极和电源负极。

为解决上述技术问题，本申请实施例采用的另一个技术方案是：提供一种测试设备，包括测试电路以及与所述测试电路连接的第一外部端子和第二外部端子，所述第一外部端子和所述第二外部端子的电位差大于第一预设值，

所述第一外部端子和所述第二外部端子之间包括至少一个测试设备保护端子，所述测试设备保护端子不与所述测试设备的任何电路连接，或者被设计成与所述第一外部端子或所述第二外部端子之间的电位差小于所述第二预设值，所述第二预设值小于或者等于所述第一预设值。

其中，沿垂直于所述显示屏的方向，所述测试设备保护端子的厚度大于所述第一外部端子或所述第二外部端子的厚度；

优选地，所述测试设备保护端子的厚度等于所述测试端子与所述第一外部端子的厚度之和，或所述测试设备保护端子的厚度等于所述测试端子与所述第二外部端子的厚度之和。

其中，所述测试设备进一步包括保护电路，所述测试电路通过所述保护电路连接的第一外部端子和第二外部端子，所述保护电路用于在检测到所述第一外部端子或者第二外部端子上的电压异常时，切断所述第一外部端子和第二外部端子与所述测试电路之间的电连接。

本申请实施例显示屏包括：显示部；非显示部，位于显示部的外围；至少两个测试端子，设置于非显示部上，两个测试端子与显示部电连接，两个测试端子分别用于连接第一外部端子和第二外部端子以对显示屏进行测试，第一外部端子和第二外部端子的电位差大于第一预设值；至少一个屏体保护端子，设置于非显示部上，且位于两个测试端子之间，屏体保护端子不与显示屏的任何电路连接，或者被设计成与第一外部端子或第二外部端子之间的电位差小于第二预设值，第二预设值小于或者等于第一预设值，通过上述方式，在由于误操作导致第一外部端子、第二外部端子与两个测试端子在对应连接过程中发生错位连接时，第一外部端子或第二外部端子与屏体保护端子连接，而屏体保护端子不与显示屏的任何电路连接，或者被设计成与第一外部端子或第二外部端子之间的电位差小于第二预设值，能够降低错位时第一外部端子或第二外部端子对显示屏的测试端子的损伤。

附图说明

图1是本申请实施例显示屏及测试设备的结构示意图；

图2是本申请测试端子与外部端子一种错位连接时的连接关系示意图；

图3是本申请测试端子与外部端子另一种错位连接时的连接关系示意图；

图4是本申请实施例测试设备的另一种结构示意图；

图5是本申请实施例测试设备的又一种结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

请参阅图1，图1是本申请实施例显示屏及测试设备的结构示意图。

在本实施例中，显示屏10包括显示部11、非显示部12、至少两个测试端子13a，13b、屏体保护端子14。

显示部11上设置有显示单元阵列，显示单元阵列包括阵列排布于显示部11上的多个显示单元。

非显示部12位于显示部11的外围。

至少两个测试端子13a，13b包括第一测试端子13a和第二测试端子13b。

第一测试端子13a和第二测试端子13b均设置于非显示部12上，测试端子13a，13b均与显示部11电连接。

在正确的测试连接方式下，两个测试端子13a、13b分别用于连接测试设备20的第一外部端子21和第二外部端子22以对显示屏10进行测试。例如，在测试时，第一测试端子13a用于与测试设备20的第一外部端子21电连接，第二测试端子13b用于与测试设备20的第二外部端子21电连接。

第一外部端子21和第二外部端子22的电位差大于第一预设值。

例如，第一外部端子21为电源正极，第二外部端子22为电源负极。在一种实施例中，第一外部端子21上的电位为elvdd(4.2v)，第二外部端子22上的电位为elvss(-2.6v)。

屏体保护端子14设置于非显示部12上，且位于两个测试端子13a，13b之间。

在一种实施例中，屏体保护端子14不与显示屏10的任何电路连接，换言之，屏体保护端子14为空引脚、悬空引脚或者无网络引脚。

在另一种实施例中，屏体保护端子15被设计成与第一外部端子21或第二外部端子22之间的电位差小于第二预设值，第二预设值小于或者等于第一预设值。例如，屏体保护端子15上的电位大小介于第一外部端子21和第二外部端子22的电位之间。

可选地，第二预设值小于第一预设值的50％、60％、70％或80％。

如图1所示，在两个测试端子13a、13b与测试设备20的第一外部端子21和第二外部端子22正确连接时，第一外部端子21连接第一测试引脚13a，第二外部端子22连接第二测试端子13b。

请结合参阅图2，图2是本申请测试端子与外部端子一种错位连接时的连接关系示意图。

在两个测试端子13a、13b与测试设备20的第一外部端子21和第二外部端子22错位连接时，如图2所示，向左错位时，第二外部端子22连接在屏体保护端子14上，第二外部端子22不会与第一测试端子13a靠近或者接触，第二外部端子22不会与第一测试端子13a形成电位差，因此第二外部端子22与第一测试端子13a之间不会产生击穿电压，第一测试端子13a不会被击伤，不容易被腐蚀。

在一种情况下，屏体保护端子14不与显示屏10的任何电路连接，因此，第二外部端子22也不会击伤屏体保护端子14。

在另一种情况下，屏体保护端子14被设计成与第二外部端子22之间的电位差小于第二预设值，而第二预设值小于第一预设值，即小于第一外部端子21和第二外部端子22之间的电位差，使得第二外部端子22与屏体保护端子14不足以形成击穿电压，不会击伤屏体保护端子14，或者即使形成击穿电压，也会比第二外部端子22直接接触第一测试端子13a的击伤程度要轻。

请结合参阅图3，图3是本申请测试端子与外部端子另一种错位连接时的连接关系示意图。

在两个测试端子13a、13b与测试设备20的第一外部端子21和第二外部端子22错位连接时，如图3所示，向右错位时，第一外部端子21连接在屏体保护端子14上，第一外部端子21不会与第二测试端子13b靠近或者接触，因此第一外部端子21与第二测试端子13b之间不会产生击穿电压，第二测试端子13b不会被击伤，不容易被腐蚀。

在一种情况下，屏体保护端子14不与显示屏的任何电路连接，因此，第一外部端子21也不会击伤屏体保护端子14。

在另一种情况下，屏体保护端子14被设计成与第一外部端子22之间的电位差小于第二预设值，而第二预设值小于第一预设值，即小于第一外部端子21和第二外部端子22之间的电位差，使得第一外部端子21与屏体保护端子14不足以形成击穿电压，不会击伤屏体保护端子14，或者即使形成击穿电压，也会比第一外部端子21直接接触第一测试端子13a的击伤程度要轻。

可选地，沿垂直于显示屏的方向，屏体保护端子14的厚度大于测试端子13a、13b的厚度；

优选地，屏体保护端子14的厚度等于测试端子13a与第一外部端子的厚度之和，或屏体保护端子14的厚度等于所述测试端子13b与第二外部端子的厚度之和。

在一种实施例中，屏体保护端子14的厚度略大于测试端子的厚度，当测试端子与外部端子错位时，如图2所示，第二外部端子22搭接在屏体保护端子14上，屏体保护端子14高出测试端子设置，在错位后能够阻挡第二外部端子22进一步向第一测试端子13a的位置移动，只能回归到第二测试端子13b的位置进行正确的对位连接。

可选地，屏体保护端子14为导电材质、绝缘材质。

具体地，当屏体保护端子14为绝缘材质时，屏体保护端子14为悬空引脚或者无网络引脚；当屏体保护端子14为导电材质时，屏体保护端子14上的电位差被设计成与第二外部端子22之间的电位差小于第二预设值，而第二预设值小于第一预设值，即小于第一外部端子21和第二外部端子22之间的电位差，使得第二外部端子22与屏体保护端子14不足以形成击穿电压，不会击伤屏体保护端子14。

可选地，当屏体保护端子14为绝缘材质时，屏体保护端子14与非显示部一体成型。

可选地，屏体保护端子14与相邻的测试端子13a，13b间隔相等。例如，屏体保护端子14与第一测试端子13a的间距等于屏体保护端子14与第二测试端子13b的间距。

在一种实施例中，第一测试端子13a、屏体保护端子14、第二测试端子13b依次沿第一方向x间隔设置，第一测试端子13a、第二测试端子13b和屏体保护端子14沿第一方向x的尺寸相等。换言之，如图1所示，第一测试端子13a、第二测试端子13b和屏体保护端子14的宽度相等。

在另一种实施例中，第一测试端子13a、屏体保护端子14、第二测试端子13b依次沿第一方向x间隔排布，第一测试端子13a沿第一方向x的尺寸大于或等于屏体保护端子14沿第一方向x的尺寸，且第二测试端子13b沿第一方向x的尺寸大于或等于屏体保护端子14沿第一方向x的尺寸。从而可以减小屏体保护端子14占用的尺寸，节约非显示部12上的布局空间。

可选地，两个测试端子13a，13b分别为显示屏的电源正极和电源负极。例如，测试端子13a为电源正极，测试端子13b为电源负极。

本发明还提供一种测试设备20，其中，该测试设备20包括测试电路23以及与测试电路23连接的第一外部端子21和第二外部端子22，第一外部端子21和第二外部端子22的电位差大于第一预设值，

第一外部端子21和第二外部端子22之间包括至少一个测试设备保护端子25，测试设备保护端子25不与测试设备20的任何电路连接，或者被设计成与第一外部端子21或第二外部端子22之间的电位差小于第二预设值，第二预设值小于或者等于第一预设值。

在一种实施方式中，在测试设备20上设置测试设备保护端子23的情况下，显示屏10上可以不必设置屏体保护端子23，而只是在第一测试端子13a和第二测试端子13b之间设置一定的间距，该间距大于一个显示屏的测试端子宽度。在测试设备20与显示屏10在发生错位连接时，例如，测试设备20相对于显示屏10向左错位时，测试设备保护端子23与第一测试端子13a接触或者靠近，由于测试设备保护端子23与第一测试端子21之间的电位差小于第二预设值，因此不会由于压差过大产生击伤端子的情况，一定程度上可以增大测试设备20与显示屏10对位连接的容错率。同理，在测试设备20相对于显示屏10向右错位时，测试设备保护端子21与第二测试端子13b接触或者靠近，同样可以起到保护作用。通过上述方式，即便发生一定程度错位连接也不会出现第一测试端子13a与第二外部端子22接触或者第二测试端子13b与第一外部端子21接触的情况，即不会出现高电位差的两个端子直接相连的情况，可以提高对位连接的容错率，避免端子被击伤。

在本实施例中，测试设备20包括测试电路23及与测试电路23连接的第一外部端子21和第二外部端子22，第一外部端子21和第二外部端子22相对固定。

例如，显示屏是上述任意一实施例的显示屏。在正常测试时，第一外部端子21与第一测试端子13a电连接，第二外部端子22与第二测试端子13b电连接。第一外部端子21和第二外部端子22至少间隔一个测试端子25的宽度，外部端子与测试端子正常连接时，该间隔处与屏体保护端子14的位置对应。

在一种实施例中，第一外部端子21和第二外部端子22均固定于柔性电路板a上，第一外部端子21和第二外部端子22通过柔性电路板a相对固定。在另一实施例中，第一外部端子21和第二外部端子22可固定于穿戴物上，在穿戴于人体(例如手指)时第一外部端子21和第二外部端子22相对位置固定。例如穿戴物可以是手指套。

可选地，测试设备保护端子25为空引脚、悬空引脚或者无网络引脚。

请参阅图4，图4是本申请实施例测试设备的另一种结构示意图。可选地，在一种实施例中，测试设备20可以进一步包括保护电路24，测试电路23通过保护电路24连接的第一外部端子21和第二外部端子22，保护电路24在检测到第一外部端子21或者第二外部端子22上的电压异常时，切断第一外部端子21和第二外部端子22与测试电路之间的电连接。

请参阅图5，图5是本申请实施例测试设备的又一种结构示意图。在本实施例中，测试设备20可以进一步包括缓冲电路25，测试电路23通过缓冲电路25与第一外部端子21和第二外部端子22电连接，缓冲电路25用于降低第一外部端子21和第二外部端子22连接测试端子13a或者13b时的瞬时电压。

本申请实施例显示屏包括：显示部；非显示部，位于显示部的外围；至少两个测试端子，设置于非显示部上，两个测试端子与显示部电连接，两个测试端子分别用于连接第一外部端子和第二外部端子以对显示屏进行测试，第一外部端子和第二外部端子的电位差大于第一预设值；至少一个屏体保护端子，设置于非显示部上，且位于两个测试端子之间，屏体保护端子不与显示屏的任何电路连接，或者被设计成与第一外部端子或第二外部端子之间的电位差小于第二预设值，第二预设值小于或者等于第一预设值，通过上述方式，在由于误操作导致第一外部端子、第二外部端子与两个测试端子在对应连接过程中发生错位连接时，第一外部端子或第二外部端子与屏体保护端子连接，而屏体保护端子不与显示屏的任何电路连接，或者被设计成与第一外部端子或第二外部端子之间的电位差小于第二预设值，能够降低错位时第一外部端子或第二外部端子对显示屏的测试端子的损伤。

以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。