激光巴条光电检测装置的制作方法

本申请涉及检测技术领域，特别是涉及一种激光巴条光电检测装置。

背景技术：

半导体激光器及其阵列因其体积小、重量轻、效率高、成本低等优点已经在工业、医疗、通信、军事等诸多领域获得了广泛的应用。激光巴条是激光器阵列的基本组成单元，既可以单独应用，也可进一步组成线阵和叠阵。半导体激光器封装有巴条封装和单管封装。激光巴条封装由多个边缘的激光单管并排封装组成。

激光巴条在出厂之前需要对每个激光单管的进行光电检测，怎样才能提高激光巴条的检测效率是亟待解决的问题。

技术实现要素：

基于此，有必要针对怎样才能提高激光巴条的检测效率的问题，提供一种激光巴条光电检测装置。

一种激光巴条光电检测装置，用于对激光巴条进行光电检测，所述激光巴条包括多个并排排布的单管，所述单管包括正极和负极，所述激光巴条光电检测装置包括：光接收装置、负极板、限位装置、正极固定板和探针阵列。

所述光接收装置包括入射口。所述入射口用于接收所述激光巴条发出的光。所述负极板用于与所述单管的负极接触。所述限位装置设置于所述负极板，用于限定所述激光巴条，使所述激光巴条的发光面与所述入射口相对设置。所述正极固定板可拆卸设置于所述负极板。所述探针阵列设置于所述正极固定板。所述探针阵列包括多个探针，所述多个探针用于与所述多个单管的正极一一对应接触。

在一个实施例中，所述限位装置包括相对间隔设置的第一卡块和第二卡块。所述第一卡块靠近所述第二卡块的表面开设第一凹槽。所述第二卡块靠近所述第一卡块的表面开设与所述第一凹槽相对的第二凹槽。所述激光巴条卡设于所述第一凹槽与所述第二凹槽之间。

在一个实施例中，所述负极板开设第一定位孔。所述正极固定板包括第一定位柱。所述第一定位柱与所述第一定位孔一一对应设置。所述第一定位柱用于插入所述第一定位孔，使所述正极固定板固定于所述负极板。

在一个实施例中，所述负极板还包括螺栓柱。所述螺栓柱设置于所述负极板靠近所述正极固定板的表面。所述正极固定板开设与所述螺栓柱对应的螺栓孔，用于螺栓穿过所述螺栓孔拧入所述螺栓柱。

在一个实施例中，所述激光巴条覆盖的所述负极板表面开设第一通孔，所述第一通孔用于与真空装置的吸附接口连通，以利用负压使所述激光巴条贴合于所述负极板。

在一个实施例中，所述负极板靠近所述激光巴条的边沿开设倒角。

在一个实施例中，所述激光巴条光电检测装置还包括导轨和导块。所述导轨的延伸方向与所述激光巴条的发光方向一致。所述导块与所述光接收装置固定连接。所述导块带动所述光接收装置沿所述导轨移动。

在一个实施例中，所述激光巴条光电检测装置还包括：检测装置和控制装置。所述检测装置与所述光接收装置电连接，用于检测所述激光巴条发光功率和光谱。所述控制装置与所述负极板和所述多个探针电连接，用于选择性导通所述多个探针中的一个，使与所述探针接触的所述单管。

在一个实施例中，所述检测装置包括功率检测装置。所述功率检测装置设置于所述光接收装置，用于检测所述单管的功率。所述控制装置与所述功率检测装置电连接，用于采集功率信号。

在一个实施例中，所述检测装置还包括光谱检测装置。所述光谱检测装置电连接于所述光接收装置和所述控制装置之间，用于检测所述单管的光谱，并将光谱信号输送给所述控制装置。

本申请提供的所述激光巴条光电检测装置，包括光接收装置、负极板、限位装置、正极固定板和探针阵列。所述光接收装置包括入射口。所述入射口用于接收所述激光巴条发出的光。所述限位装置设置于所述负极板，用于限定所述激光巴条，使所述激光巴条的发光面与所述入射口相对设置。所述正极固定板可拆卸设置于所述负极板。所述探针阵列设置于所述正极固定板。所述探针阵列包括多个探针，所述多个探针用于与所述多个单管的正极一一对应接触。所述限位装置限制了所述激光巴条的放置位置，使所述激光巴条的发光面正对所述入射口，减少了所述激光巴条的位置调整时间，提高了检测效率。

附图说明

图1为本申请另一个实施例中提供的所述激光巴条的结构示意图；

图2为本申请一个实施例中提供的所述激光巴条光电检测装置的结构示意图；

图3为本申请另一个实施例中提供的部分所述激光巴条光电检测装置的轴侧图；

图4为本申请一个实施例中提供的所述限位装置的结构示意图；

图5为本申请一个实施例中提供的所述限位装置与所述负极板安装的俯视图；

图6为本申请另一个实施例中提供的所述限位装置与所述负极板安装的a-a剖面图；

图7为本申请另一个实施例中提供的所述激光巴条光电检测装置的结构示意图；

图8为本申请另一个实施例中提供的所述激光巴条光电检测装置的结构示意图。

附图标号：

激光巴条100

单管110

正极111

负极112

发光面113

激光巴条光电检测装置20

光接收装置310

入射口311

导轨312

导块313

负极板320

第一定位孔321

螺栓柱322

第一通孔323

倒角324

限位装置330

第一卡块332

第二卡块333

第一凹槽334

第二凹槽335

正极固定板340

探针阵列341

探针300

第一定位柱343

螺栓孔344

螺栓345

检测装置40

功率检测装置410

光谱检测装置420

控制装置50

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施的限制。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

请参见图1、图2和图3，本申请实施例提供一种激光巴条光电检测装置10用于对激光巴条100进行光电检测。所述激光巴条100包括多个并排排布的单管110，所述单管110包括正极111和负极112。所述激光巴条光电检测装置10包括光接收装置310、负极板320、限位装置330、正极固定板340和探针阵列341。

所述光接收装置310，包括入射口311。所述入射口311用于接收所述激光巴条100发出的光。所述负极板320用于与所述单管110的负极接触。所述限位装置330设置于所述负极板320，用于限定所述激光巴条100，使所述激光巴条100的发光面113与所述入射口311相对设置。所述正极固定板340可拆卸设置于所述负极板320。所述探针阵列341设置于所述正极固定板340。所述探针阵列341包括多个探针300，所述多个探针300用于与所述多个单管110的正极111一一对应接触。

本申请提供的所述激光巴条光电检测装置10包括光接收装置310、负极板320、限位装置330、正极固定板340和探针阵列341。所述光接收装置310包括入射口311。所述入射口311用于接收所述激光巴条100发出的光。所述限位装置330设置于所述负极板320，用于限定所述激光巴条100，使所述激光巴条100的发光面113与所述入射口311相对设置。所述正极固定板340可拆卸设置于所述负极板320。所述探针阵列341设置于所述正极固定板340。所述探针阵列341包括多个探针300，所述多个探针300用于与所述多个单管110的正极111一一对应接触。所述限位装置330限制了所述激光巴条100的放置位置，使所述激光巴条100的发光面113正对所述入射口311，减少了所述激光巴条100的位置调整时间，提高了检测效率。

在一个实施例中，所述光接收装置310为积分球，用于接收光，并对光进行均匀化处理，增加检测的准确性。所述积分球包括所述入射口311。所述入射口311的形状不限，只要能使光摄入所述积分球的内部元件即可。在上一个实施例中，所述入射口311的形状为圆形。所述圆形的中心与所述激光巴条100的中心正对，增加所述积分球的接收范围。

所述负极板320用于与所述激光巴条100的负极电连接。所述负极板320靠近所述激光巴条100的表面铺设导电金属表面。在一个实施例中，所述负极板320的表面均匀涂覆铜。所述激光巴条100的负极与铜接触导电，所述多个单管110共负极。

所述限位装置330设置于所述负极板320的表面。多个所述激光巴条100顺次测量。所述激光巴条100的发光面103发光，发出的光通过所述入射口311进入所述光接收装置310。所述激光巴条100的位置决定了激光光电检测的准确性。当所述激光巴条100的发光面103偏离所述入射口311时，所述光接收装置310无法检测所述激光巴条100。

所述探针阵列341设置于所述正极固定板340。所述探针阵列341可以设置于所述正极固定板340的一个表面。所述探针阵列341可以垂直于所述正极固定板340的表面，可以平行排布于所述正极固定板340的表面。在一个实施例中，所述探针阵列341垂直穿过所述正极固定板340，便于使所述探针阵列341与外部接线端子连接，便于更换或检测所述探针阵列341。

在一个实施例中，所述限位装置330具有凹槽，所述激光巴条100放置于所述凹槽中，避免多次调整所述激光巴条100的位置，节约时间，提高了检测效率。

请一并参见图4、图5和图6，在一个实施例中，所述限位装置330包括相对间隔设置的第一卡块332和第二卡块333。所述第一卡块332靠近所述第二卡块333的表面开设第一凹槽334。所述第二卡块333靠近所述第一卡块332的表面开设与所述第一凹槽334相对的第二凹槽335。所述激光巴条100卡设于所述第一凹槽334与所述第二凹槽335之间，便于所述激光巴条100的取放。

所述第一凹槽334与所述第二凹槽335之间形成的限位空间。所述限位空间的开口形状与所述激光巴条100的最大表面的形状相同。所述激光巴条100直接放置于所述限位空间中，减少了所述激光巴条100的位置调整的时间，提高了检测效率。

请一并参见图7，在一个实施例中，所述负极板320开设第一定位孔321。所述正极固定板340包括第一定位柱343。所述第一定位柱343与所述第一定位孔321一一对应设置。所述第一定位柱343用于插入所述第一定位孔321，使所述正极固定板340固定于所述负极板320。

在上一个实施例中，所述探针阵列341垂直穿过所述正极固定板340。所述多个探针300与所述单管110的正极111接触，并相互导通。所述第一定位柱343用于插入所述第一定位孔321，使所述正极固定板340固定于所述负极板320。只要将所述第一定位柱343用于插入所述第一定位孔321进而，所述多个探针300对所述多个单管110一一对应接触，减少了调整所述多个探针300的时间，提高了检测效率。

在一个实施例中，所述负极板320还包括螺栓柱322。所述螺栓柱322设置于所述负极板320靠近所述正极固定板340的表面。所述正极固定板340开设与所述螺栓柱322对应的螺栓孔344，用于螺栓345穿过所述螺栓孔344，并拧入所述螺栓柱322。

所述螺栓345穿过所述螺栓孔344，并拧入所述螺栓柱322，使所述负极板320与所述正极固定板340相互固定。通过调整所述螺栓345的松紧度，可以调整所述多个探针300对所述多个单管110一一对应接触的力度。在一个实施例中，所述多个探针300对所述多个单管110的正极111一一对应接触力度不易过大，以保护所述多个单管110的正极111。

在一个实施例中，所述激光巴条100覆盖的所述负极板320表面开设第一通孔323，所述第一通孔323用于与真空装置的吸附接口连通，以利用负压使所述激光巴条100贴合于所述负极板320。

所述激光巴条100紧贴于所述负极板320，减少了所述激光巴条100晃动的概率，提高了所述多个探针300与所述多个单管110一一对应接触的准确性，提高了检测的精度。

在一个实施例中，所述负极板320靠近所述激光巴条100的边沿开设倒角324。所述激光巴条100发出的光为散射光，所述散射光的散射角为30°。所述倒角324的开设范围45°-60°。在一个实施例中，所述倒角324为45°倒角，可以使所述单管110发出的光全部摄入所述入射口311，提高了检测的精度。

在一个实施例中，所述激光巴条光电检测装置10还包括导轨312和导块313。所述导轨312的延伸方向与所述激光巴条100的发光方向一致。所述导块313与所述光接收装置310固定连接。所述导块313带动所述光接收装置310沿所述导轨312移动。所述激光巴条100取放过程中，所述光接收装置310可以沿所述导轨312远离所述负极板320，保护所述光接收装置310不被划伤，增加操作的准确性。

在一个实施例中，所述激光巴条光电检测装置10还包括推动装置。所述推动装置与所述导块313固定连接。造作人员推动所述推动装置，所述推动装置带动所述导块313，沿所述导轨312滑动。

请一并参见图8，在一个实施例中，所述激光巴条光电检测装置还包括检测装置40和控制装置50。所述检测装置40与所述光接收装置310电连接，用于检测所述激光巴条100发光功率和光谱。所述控制装置50与所述负极板320和所述多个探针300电连接，用于选择性导通所述多个探针300中的一个，使与所述探针300接触的所述单管110。

所述控制装置50包括数模转换装置。所述数模转换装置包括多个接口。所述多个接口与所述多个探针300一一对应电连接。所述控制装置50可以为cpu、电脑或控制主板等。

在一个实施例中，所述检测装置40包括功率检测装置410。所述功率检测装置410设置于所述光接收装置310，用于检测所述单管110的功率。所述控制装置50与所述功率检测装置410电连接，用于采集功率信号。所述功率检测装置410可以为功率检测仪、检测探头或检测器。

在一个实施例中，所述检测装置40还包括光谱检测装置420。所述光谱检测装置420电连接于所述光接收装置310和所述控制装置50之间，用于检测所述单管110的光谱，并将光谱信号输送给所述控制装置50。所述光谱检测装置420可以为光谱仪。

在一个实施例中，所述控制装置50能够接收外部控制，选择性控制所述多个探针300中的一个，以使所述多个单管110顺次发光。所述单管110发出的光从所述入射口311进入所述光接收装置310。所述光接收装置310对光进行均匀化处理。被处理后的光一部分摄入所述功率探头，用于测量所述单管110的发光功率。被处理后的光另一部分进入所述光谱仪，进行光谱测试。所述功率探头将功率信号传输给所述控制装置50。所述光谱仪将所述光谱信号输送给所述控制装置50。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。