一种半导体元器件3D检测机的制作方法

文档序号:18893343发布日期:2019-10-15 22:23阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明涉及半导体设备技术领域,具体为一种半导体元器件3D检测机,包括箱体,箱体的内设有底板,底板的上表面设置有两个传动装置,箱体的前表面设有U形支架,U形支架的两个水平端之间设有支撑杆,支撑杆的顶端设有调节座,支撑杆的底端设有套环。本发明通过在箱体内的底板上设有传动装置,便于将半导体元器件的输送检测,提高检测精度,此外,在箱体的前表面安装有U形支架,U形支架上设有支撑杆,调节座上的穿孔穿过支撑杆,通过穿孔在支撑杆上上下移动,便于调节座高度的固定,支撑架通过第二转轴转动,便于调节显示屏的转向,解决半导体元器件3D检测机不便于半导体元件的输送和不便于调节显示屏的高度及转向的问题。

技术研发人员:凌永康;杜良辉;孙国标
受保护的技术使用者:江苏壹度科技股份有限公司
技术研发日:2019.05.26
技术公布日:2019.10.15
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1