测试治具及测试机台的制作方法

本发明涉及一种治具，尤其涉及一种测试治具及测试机台。

背景技术：

原有的测试治具在将产品置于其上进行检测时，为了能够准确的对产品进行定位以进行测试，在治具的端盖上设置推块和压块。端盖在向治具下压的过程中，推块用于推动产品移动，端盖上的压块用于下压产品。而在压块下压产品时，产品可能因为没有推动的准确位置，而使得压块与产品的接触面也不准确，从而造成产品表面的损伤。

技术实现要素：

有鉴于此，有必要提供一种测试治具及测试机台，旨在对产品进行测试时，避免出现压伤产品表面这一情况。

一种测试测试治具，用于检测产品，包括底座，所述测试治具还包括设于所述底座上的针座和侧推结构，所述针座设有探针与第一收容腔，所述第一收容腔的边缘位置处设有开口，所述第一收容腔用于收容所述产品，所述侧推结构的一端设于所述开口位置处并用于推动所述产品，所述底座上设有电路板且所述探针的一端与所述电路板连接，所述探针的另一端收容于所述针座中；

当将所述产品放置于所述第一收容腔内时，通过所述侧推结构推动所述产品，使所述产品抵靠于所述第一收容腔的内壁上，对所述产品施加一外力，所述产品压迫所述针座，使所述针座相对所述底座移动，所述探针的另一端凸伸出至所述第一收容腔内与所述产品连接。

在至少一个方式中，所述侧推结构包括侧推块及连接于所述侧推块上的侧推气缸，所述侧推块用于推动所述产品，所述侧推气缸用于驱动所述侧推块。

在至少一个方式中，所述侧推块上设有侧推部，所述侧推部设于所述开口位置处；当所述侧推结构推动所述产品时，所述侧推部推动所述产品。

在至少一个方式中，所述测试治具还包括限位块，所述限位块设于所述底座上且所述限位块设有第二收容腔，所述针座设于所述第二收容腔中。

在至少一个方式中，所述限位块在所述开口的对应位置处开设有缺口，所述侧推部置于所述缺口处。

在至少一个方式中，所述针座上设有真空吸孔，所述真空吸孔处设有真空吸管；当所述产品被所述侧推结构推动至抵靠在所述第一收容腔的内壁上时，所述真空吸管通过所述真空吸孔对所述产品施加一吸附力，使得所述产品下压所述针座。

在至少一个方式中，所述底座上设有收容空间，所述针座和所述侧推结构设于所述收容空间内，所述收容空间的轮廓与所述针座、所述限位块和所述侧推结构相适配。

在至少一个方式中，所述针座和所述电路板设于所述底座的相对两端，以使所述探针与所述电路板连接。

在至少一个方式中，所述电路板上设有连接器，所述测试治具通过所述连接器与外部结构连接。

一种测试机台，包括一测试治具，所述测试治具为上述中任一项所述的测试治具。

上述测试治具及测试机台，通过在底座上设置针座和侧推机构，所述针座设有探针与第一收容腔，所述第一收容腔的边缘位置处设有开口，所述侧推结构的一端设于所述开口位置处并用于推动所述产品，所述底座上设有电路板且所述探针的一端与所述电路板连接，所述探针的另一端收容于所述针座中。将产品置于针座中时，通过侧推机构推动产品至准确位置后，对产品施加一外力，使产品下压所述针座，所述针座上的探针凸伸出至所述第一收容腔内与所述产品连接。通过上述的测试治具，能够准确的将产品推动至准确位置，将所述产品下压后，所述针座相对所述底座移动，所述针座上的探针与所述产品连接，从而对产品进行检测，采用该测试治具能够更便捷的检测产品并且不会损坏产品表面。

附图说明

图1为测试治具的的立体图。

图2为图1所示的测试治具的分解图。

图3为图1所示的测试治具的俯视图。

主要元件符号说明

测试治具100

底座10

收容空间11

限位部111

电路板12

连接器13

针座20

第一收容腔21

拐角211

侧壁212

探针22

真空吸孔23

开口24

侧推结构30

侧推块31

侧推部311

侧推面312

侧推气缸32

推杆321

第一限位块40

第二收容腔41

缺口42

第二限位块50

固定块60

产品200

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“顶”、“底”、“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。

请参阅图1，一种测试机台(图未标示)，用于对产品200进行测试。进一步地，所述产品200为摄影模块中的单体成品。具体的，所述测试机台包括测试治具100，所述测试机台通过将所述产品200放置于所述测试治具100上，以对所述产品200进行检测。

请参阅图1和图2，所述测试治具100包括底座10及设于所述底座10上的针座20和侧推结构30，所述针座20设有探针22与第一收容腔21，所述第一收容腔21的边缘位置处设有开口24，所述第一收容腔21用于收容所述产品200，所述侧推结构30的一端设于所述开口24位置处并用于推动所述产品200，所述底座10上设有电路板12且所述探针22的一端与所述电路板12连接，所述探针22的另一端收容于所述针座20中。

当将所述产品200放置于所述第一收容腔21内时，通过所述侧推结构30推动所述产品200，使所述产品200抵靠于所述第一收容腔21的内壁上，对所述产品200施加一外力，所述产品200压迫所述针座20，使所述针座20相对所述底座10移动，所述探针22的另一端凸伸出至所述第一收容腔21内与所述产品200连接。

请参阅图2，所述底座10的一端面上开设有收容空间11，所述针座20和所述侧推结构30设于所述收容空间11内且所述收容空间11的内轮廓与所述针座20和所述侧推结构30相适配。所述底座10在设有所述针座20和所述侧推结构30的相对一端设有所述电路板12，所述针座20和所述电路板12设于所述底座10的相对两端，以使所述探针22与所述电路板12连接。当对所述产品200施加一外力时，所述探针22凸伸出至所述第一收容腔21内与所述产品200连接。

具体地，所述收容空间11的边缘位置处有限位部111，所述限位部111用于抵持所述侧推结构30并引导所述侧推结构30的推动方向。所述产品200上设有连接部(图未标示)，所述电路板12上设有另一连接部(图未标示)，所述产品200上的连接部通过所述探针22与所述电路板12上的另一连接部进行连接。可以理解的是，所述探针22可通过焊接与所述电路板12连接，但所述探针22与所述电路板12的连接方式不限于此。

请参阅图2，所述电路板12上还设有连接器13，所述连接器13用于与所述测试机台中其他构件连接，以使得所述测试治具100能够连接于所述测试机台中。

请参阅图2，所述针座20的探针22设于所述第一收容腔21内并位于所述第一收容腔21的底端。所述探针22朝所述电路板12的方向延伸，且所述探针22靠近所述电路板12的一端与所述电路板12连接，所述探针22的另一端在所述针座20没有相对所述底座10产生移动时收容于所述针座20中。在一实施例中，所述针座20设置两列所述探针22且两列所述探针22之间有预定宽度。所述第一收容腔21大致为方形结构，在拐角211处倒有圆角，每一圆角相邻的两侧壁212向所述第一收容腔21的中心位置凸伸预定距离，使得将所述产品200放置于所述第一收容腔21中时，所述侧壁212抵持所述产品200，所述拐角211不会刮坏或磕碰所述产品200。所述开口24设于所述第一收容腔21的一拐角211处，可以理解的是，所述开口24的位置不限于此。

所述针座20在所述第一收容腔21内还设有真空吸孔23，进一步地，所述真空吸孔23设于所述第一收容腔21的底端。在一实施方式中，所述真空吸孔23的数量为两个，可以理解的是，所述真空吸孔23还可以替换为其他数量。所述真空吸孔23处且朝背离所述第一收容腔21的方向设有真空吸管(图未标示)，当所述产品200被所述侧推结构30推动至抵靠在所述侧壁212上时，所述真空吸管开启抽真空并通过所述真空吸孔23对所述产品200施加吸附力，使得所述产品200下压所述针座20。可以理解的是，在其他实施例中，还可通过其他方式对所述产品200施加力，如夹持在所述产品的测面并向下拉动所述产品200，使所述产品200下压所述针座20。通过所述真空吸管吸附所述产品200，不用直接压在所述产品200的表面，避免损坏所述产品200。

请参阅图2，优选的，所述针座20通过一固定块60设于所述底座10上。以更好的固定所述针座20，并且若所述产品200进行更换后，所述针座20随之替换。此时，可以只相应的替换所述固定块60，所述底座10还可继续使用。可以理解的是，所述固定块60可以取消，直接将所述针座20设于所述底座10上。

请参阅图2，所述侧推结构30包括侧推块31及连接于所述侧推块31上的侧推气缸32。所述侧推块31用于推动所述产品200，所述侧推气缸32用于驱动所述侧推块31。所述侧推块31和所述侧推气缸32置于所述收容空间11中，并且所述限位部111抵持在所述侧推块31上，避免所述侧推块31移动。所述限位部111抵持在所述侧推气缸32上，以限制推杆321的凸伸方向，避免所述推杆321出线偏移。

进一步地，所述侧推块31上设有侧推部311，所述侧推部311和所述侧推气缸32设于所述侧推块31的相对两端且所述侧推部311设于所述开口24位置处。当所述侧推结构30要推动所述产品200时，所述侧推气缸32通过所述推杆321推动所述侧推部311，以使所述侧推部311推动所述产品200。所述侧推部311与所述产品200接触的侧推面312是接触所述产品200的外侧壁，并且所述侧推面312是接触所述产品200相邻的两外侧壁，以能够更好的推动所述产品200。

请参阅图2和图3，优选的，在一些实施方式中，所述测试治具100还可包括第一限位块40。所述第一限位块40设于所述底座10上，并且所述第一限位块40开设有第二收容腔41，所述针座20设于所述第二收容腔41中。相应的，所述第一限位块40在所述开口24的对应位置处设有缺口42，以使所述侧推部311能够设于所述缺口42位置处。可以理解的是，在另一些实施方式中，所述第一限位块40和所述侧推块31可为一体成型结构。若无需设置所述第一限位块40时，可将所述第一限位块40与所述侧推块31分开设计并取消所述第一限位块40，直接将所述针座20设于所述底座10上。

请参阅图2和图3，优选的，在另一些实施方式中，所述测试治具100还可包括第二限位块50，所述第二限位块50设于所述底座10上且所述第二限位块50的一端抵持所述第一限位块40。可以理解的是，在所述底座10能够固定所述第一限位块40时，可以取消设置所述第二限位块50。进一步地，在所述底座10上设置所述第一限位块40和所述第二限位块50是为了在检测其他产品时，因其他产品的形状改变后，可以相对应的减少需要调整的构件。尽可能的使所述测试治具100中的各构件能够重复利用，检测其他产品时，只需替换小部分构件即可。例如其中，仅通过调整所述第一限位块40和所述第二限位块50的结构来固定所述针座20。

可以理解的是，所述侧推结构30与所述产品200之间相接触的面及所述针座20与所述第一限位块40之间相接触的面较为光滑，在所述真空吸管吸附所述产品200向下时，所述真空吸管产生的吸附力大于所述产品200与所述侧推结构30及所述针座20与所述第一限位块40之间产生的摩擦力。

请再参阅图1，在所述针座20中放入所述产品200后，所述侧推结构30推动所述产品200。具体地，所述侧推气缸32推动设于所述侧推块31上的侧推部311，所述侧推部311推动所述产品200并使所述产品200抵靠在所述侧壁212上。所述真空吸管通过所述真空吸孔23开始吸附所述产品200，所述产品200受到吸附力后下压所述针座20。所述探针22的一端凸伸出至所述第一收容腔21内并与所述产品200连接。若所述产品200为合格产品，则在所述探针22与所述产品200连接后，所述产品200被点亮。此时，抵持于所述针座20上的所述产品200的中心与一分辨率测试卡(摄像头测试chart，图未标示)的中心对齐，且通过所述分辨率测试卡再进行测试。

综上所述，本发明实施方式中提供的测试治具100及测试机台，通过在所述底座上设置所述针座20和所述侧推结构30，通过所述侧推结构30推动设于所述针座20中的产品，使得所述产品抵靠在所述侧壁212上并通过真空吸附对所述产品200施加一向下的力从而压迫所述针座20，使得设于所述针座20上的所述探针22与所述产品200连接，以此，来检测所述产品200是否能够被点亮。通过上述的侧推结构30将所述产品推动至抵持于所述针座20上，再通过真空吸附使得所述产品200下压所述针座20，在下压所述产品200时不会压到所述产品200的上表面，避免出现所述产品200的表面被压伤的情况。

另外，本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围之内，对以上实施例所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围之内。