一种光量子交换机插损测量系统与测量方法与流程

本申请涉及光通信设备测试技术领域，具体涉及一种光量子交换机插损测量系统与测量方法。

背景技术：

光量子交换机在量子网络中负责量子信道切换，光量子交换机由密钥管理服务器(kms)进行控制，负责量子信道的切换，实现量子密钥分发(qkd)设备间的量子信道的连通，同时连接网络管理服务器(nms)，由nms远程监控设备的运行状态。插入损耗(插损)指在传输系统的某处由于元件或器件的插入而发生的负载功率的损耗，即是指发射机与接收机之间，插入电缆或元件产生的信号损耗，它表示为该元件或器件插入前负载上所接收到的功率与插入后同一负载上所接收到的功率以分贝为单位的比值。光量子交换机的光功率损失需精确控制及测量，测量其插损也非常重要。

参照图1所示，传统的插损测试方法通常采用手动的方式进行测量，通过光纤直接将光源与光量子交换机的一个进口端a连接，利用光功率计测量上述进口端a的光功率值pi，并利用光功率计测量另一个出口端2的光功率值p0，pi减去p0就可得到进口端a与出口端2之间的插损值，光量子交换机的插损可以通过这种方式直接简单测量，但是测试效率较低，测量一台有着4个进口端8个出口端的光量子交换机的插损至少要测量32次，工作量大、消耗时间长、效率较低，另外，每次更换测量接口，在插拔光纤头时可能存在光纤头被污染的风险即光纤头里可能会进入污染物，造成测量不准确。

技术实现要素：

本申请提供一种光量子交换机插损测量系统与测量方法，以解决现有光量子交换机插损测量系统与测量方法测量工作量大、消耗时间长、效率低以及存在污染风险的问题。

一种光量子交换机插损测量系统，包括光源、分束器、第一光功率计、上位机以及第二光功率计；所述光源与所述分束器光学连接；所述分束器分别光学连接于所述第一光功率计的进口端以及待测光量子交换机的进口端；所述第二光功率计光学连接于待测光量子交换机的出口端；所述上位机通过数据接口分别与所述第一光功率计、所述第二光功率计以及待测光量子交换机连接。

优选地，所述上位机中包含特定的计算程序，所述上位机控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，所述上位机实时读取所述第一光功率计的测量值以及所述第二光功率计的测量值并且计算和显示待测光量子交换机各个通道的插损值。

优选地，所述分束器为1分n+1光分束器，所述1分n+1光分束器设置有1个进口端和n+1个出口端，所述n+1个出口端的输出光功率值均相等，所述1分n+1光分束器的1个出口端连接所述第一光功率计的进口端并且剩余的n个出口端分别连接待测光量子交换机的各个进口端，n的取值与待测光量子交换机的进口端数量保持一致，其中，n大于或等于1且为整数。

优选地，所述分束器为50:50的光分束器，所述50:50的光分束器设置有两个出口端，所述两个出口端的输出光功率值相等，一个出口端光学连接于所述第一光功率计的一个进口端，另一个出口端光学连接于待测光量子交换机的一个进口端。

优选地，还包括1分n光分束器，所述1分n光分束器设置有1个进口端和n个出口端，所述n个出口端的输出光功率值均相等，所述1分n光分束器的每个出口端均连接一个所述50:50的光分束器，n个出口端连接n个所述50:50的光分束器，n的取值与待测光量子交换机的进口端数量保持一致，其中，n大于或等于1且为整数。

优选地，还包括光开关，所述光开关光学连接于所述第二光功率计与待测光量子交换机之间，所述光开关的进口端通过光学连接于待测光量子交换机的出口端，所述光开关的出口端通过光学连接于所述第二光功率计的进口端，所述光开关的进口端数量大于或者等于待测光量子交换机的出口端数量，所述光开关通过数据接口与所述上位机连接，所述上位机控制所述光开关内部各个通道的切换。

优选地，还包括光纤合束器，所述光纤合束器光学连接于所述第二光功率计与待测光量子交换机之间，所述光纤合束器的各个进口端光学连接于待测光量子交换机的各个出口端，所述光纤合束器的出口端光学连接于所述第二光功率计的进口端，所述光纤合束器的进口端数量大于或者等于待测光量子交换机的出口端数量。

一种光量子交换机插损测量方法，基于光量子交换机插损测量系统实现，所述方法包括：

光源发出的光信号经过光分束器后分为光功率值相等的两路光信号，其中，一路光信号传递给第一光功率计，另一路光信号传递给待测光量子交换机，通过第一光功率计测出待测光量子交换机各个进口端的光信号功率值pi，上位机通过数据接口读取上述光功率值pi，其中，i大于或等于1且为整数；

待测光量子交换机的各个出口端分别连接第二光功率计的进口端，通过第二光功率计测出待测光量子交换机各个出口端的光信号功率值po，上位机通过数据接口读取上述光功率值po，其中，o大于或等于1且为整数；

上位机包含特定的计算程序，控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，并根据每个通道下读取的pi与po，计算出待测光量子交换机内部各个通道的插损值并在应用界面显示计算结果。

优选地，第二光功率计的进口端连接光开关的出口端，光开关的进口端连接待测光量子交换机的各个出口端，光开关的进口端到光开关出口端的各个通道插损ilz提前标定并作为已知量，上位机通过数据接口连接光开关并记录上述插损值ilz，其中，z大于或等于1且为整数；

上位机包含特定的计算程序，控制待测光量子交换机以及光开关内部各个通道的切换，并根据每个通道下读取的pi、po以及ilz，计算出待测光量子交换机内部各个通道的插损值并在应用界面显示计算结果。

优选地，第二光功率计的进口端连接光纤合束器的出口端，光纤合束器的进口端连接待测光量子交换机的各个出口端；

光纤合束器的内部插损可以忽略不计，上位机包含特定的计算程序，控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，并根据每个通道下读取的pi与po，计算出待测光量子交换机内部各个通道的插损值并在应用界面显示计算结果。

由以上本申请实施方式提供的技术方案可见，通过上位机控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，并读取第一光功率计测得的待测光量子交换机各个进口端的光信号功率值pi以及第二光功率计测得的待测光量子交换机各个出口端的光信号功率值po，并经过上位机中特定程序的处理计算出待测光量子交换机内部各个通道的插损值并将计算结果在应用界面显示，相比于传统的插损测量方式，极大地减少了人工工作量，缩短了测量时间，测量效率较高。

此外，相比于传统的插损测量方式，本申请的技术方案在测量平台搭建完成后，仅需要对待测光量子交换机的进口端或者出口端进行一次光纤插拔，不需要对每个端口进行多次的插拔，由于每次端口的光纤插拔都伴随着光纤头中进入污染物的风险，光纤插拔次数的减少等同于在测量的过程中光纤被污染的风险降低，光纤中进入污染物会引起测量的不准确，因此，本申请的技术方案可以进一步消除光纤头被污染的风险，保证测量结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中光量子交换机插损测量系统的示意图；

图2为本申请一个实施方式提供的光量子交换机插损测量系统单通道测量的示意图；

图3为本申请一个实施方式提供的含有1分n+1光分束器的光量子交换机插损测量系统的示意图；

图4为本申请一个实施方式提供的含有1分n光分束器的光量子交换机插损测量系统的示意图；

图5为本申请一个实施方式提供的含有光开关的光量子交换机插损测量系统的示意图；

图6为本申请一个实施方式提供的含有光纤合束器的光量子交换机插损测量系统的示意图。

具体实施方式

下面将结合附图和具体实施例，对本发明的技术方案作详细说明，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落入本申请所附权利要求所限定的范围内。

需要说明的是，当元件被称为“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

本发明提供一种光量子交换机插损测量系统与测量方法，能够通过上位机自动计算待测光量子交换机的各通道插损，测量效率高，大大缩短了测量时间，同时避免了光纤头的多次插拔，进一步消除了光纤头被污染的风险，测量更加准确。

参照图2所示，本申请实施方式中提供的一种光量子交换机插损测量系统可以包括：光源1、分束器21、第一光功率计3、上位机5以及第二光功率计4；光源1与分束器21光学连接；分束器21通过光学连接于第一光功率计3的进口端以及待测光量子交换机的进口端；第二光功率计4通过光学连接于待测光量子交换机的出口端；上位机5通过数据接口分别与第一光功率计3、第二光功率计4以及待测光量子交换机连接。具体地，光学连接的方式优先选用光纤连接的方式；光源1优先选用直流光源，一般来说，直流光源比交流光源具有更好的光强稳定性；分束器2是可将一束光分成两束光或多束光的光学装置，不同规格的分束器2分成的光束光强以及光功率比值不同，为了保证第一光功率计3测得的光功率值等于待测光量子交换机的光功率值，所述分束器21优选50：50的光分束器，所述50:50的光分束器21设置有两个出口端，两个出口端的输出光功率值相等，一个出口端通过光学连接于第一光功率计3的一个进口端，另一个出口端通过光学连接于待测光量子交换机的一个进口端，使得流经同一个所述50：50的光分束器21分别进入第一光功率计3和待测光量子交换机的两路光信号的光功率值相等，因此，待测光量子交换机的进口端的光功率值可被所述第一光功率计3实时测得；第二光功率计4的进口端数量大于或者等于待测光量子交换机的出口端数量，保证待测光量子交换机的每个出口端均有一个独立的第二光功率计4的进口端与其相连接，保证待测光量子交换机的出口端的光功率值均可被所述第二光功率计4实时测得；上位机是指可以直接发出操控命令的计算机，其包含特定的计算程序，所述上位机5分别与第一光功率计3、第二光功率计4以及待测光量子交换机电学连接，在一种可行的实施方式中，上位机5通过usb口分别与所述第一光功率计3以及第二光功率计4连接，上位机5通过网口与待测光量子交换机连接，上位机5通过上述连接可以控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，待测光量子交换机的进口端的光功率值被所述第一光功率计3实时测得，待测光量子交换机的出口端的光功率值被第二光功率计4实时测得，上位机5通过上述连接读取并记录第一光功率计3测得的待测光量子交换机各个进口端的光信号功率值pi，其中，i大于或等于1且为整数，同样也读取并记录第二光功率计4测得的待测光量子交换机各个出口端的光信号功率值po，其中，o大于或等于1且为整数，上位机5包含特定的计算程序，可以根据读取的pi与po计算出待测光量子交换机内部各个通道的插损值并在应用界面显示计算结果。

进一步地，待测光量子交换机内部各个通道的插损值是各个通道按顺序独立测量的，上位机5通过上述电学连接可以控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，当切换到某个通道导通时，该通道进口端的光功率值被第一光功率计3测得，该通道出口端的光功率值被第二光功率计4测得，上位机5根据测得的该通道进口端和出口端的光功率值，可以计算并显示出该通道的插损值。具体地，参照图2所示，上位机5控制待测光量子交换机内部a-1通道导通时，进口端a的光功率值pa被第一光功率计3测得，该通道出口端的光功率值p1被第二光功率计4测得，上位机5可以根据读取的pa与p1计算出通道a-1的插损值并在应用界面显示计算结果；同理，上位机5控制切换到a-2通道导通时，a-2通道的插损值也能快速的在上位机5的应用界面显示。

通过上述方式，在测量平台搭建完成后，将待测光量子交换机接入测量平台，待测光量子交换机内部各个通道的插损值可以快速的在所述上位机5的应用界面显示出来，相比于传统的插损测量方式，极大地减少了人工工作量，缩短了测量时间，测量效率较高，而且不需要对待测光量子交换机的每个端口进行多次的光纤插拔，进一步消除了光纤头被污染的风险。

在一种可行的实施方式中，分束器为1分n+1光分束器23，所述1分n+1光分束器23设置有1个进口端和n+1个出口端，所述n+1个出口端的输出光功率值均相等，所述1分n+1光分束器23的1个出口端连接第一光功率计3的进口端并且剩余的n个出口端分别连接待测光量子交换机的各个进口端，n的取值与待测光量子交换机的进口端数量保持一致，其中，n大于或等于1且为整数。具体地，参照图3所示，1分4+1光分束器23的5个出口端的输出光功率值均相等，光源1通过光学连接于1分5光分束器23的进口端；1分5光分束器23的1个出口端连接第一光功率计3的进口端且剩余的4个出口端分别连接待测光量子交换机的4个进口端，第二光功率计4通过光学连接于待测光量子交换机的出口端；上位机5通过数据接口分别与第一光功率计3、第二光功率计4以及待测光量子交换机连接。通过上述方式，可以减少第一光功率计3的进口端数量，进而降低了第一光功率计3的成本。

在一种可行的实施方式中，光量子交换机插损测量系统还包括1分n光分束器22，所述1分n光分束器22设置有1个进口端和n个出口端，所述n个出口端的输出光功率值均相等，所述1分n光分束器22的每个出口端均连接一个50:50的光分束器21，n个出口端连接n个50:50的光分束器21，n的取值与待测光量子交换机的进口端数量保持一致，其中，n大于或等于1且为整数。具体地，参照图4所示，1分4光分束器22的4个出口端的输出光功率值均相等，光源1通过光学连接于1分4光分束器22的进口端；1分4光分束器22的4个出口端各自通过光学连接一个50:50的光分束器21，50:50的光分束器21设置有两个出口端，两个出口端的输出光功率值相等，一个出口端通过光学连接于第一光功率计3的一个进口端，另一个出口端通过光学连接于待测光量子交换机的一个进口端，待测光量子交换机的4个进口端分别连接于4个50:50的光分束器21的出口端；第二光功率计4通过光学连接待测光量子交换机的出口端；上位机5通过数据接口分别与第一光功率计3、第二光功率计4以及待测光量子交换机连接。

在一种可行的实施方式中，光量子交换机插损测量系统还包括光开关6，光开关是一种具有一个或多个可选的传输端口的光学器件，其作用是对光传输线路或集成光路中的光信号进行物理切换或逻辑操作，在具体使用时，光开关可以控制其内部某个进口端到其某个出口端之间的通道导通。参照图5所示，光开关6通过光学连接于所述第二光功率计4与待测光量子交换机之间，光开关6的进口端通过光学连接待测光量子交换机的出口端，光开关6的出口端通过光学连接第二光功率计4的进口端，光开关6的进口端数量大于或者等于待测光量子交换机的出口端数量，保证待测光量子交换机的每个出口端均能独立的连接于光开关6的一个进口端，即待测光量子交换机的不同出口端可以分别连接于光开关6的不同进口端。光开关6通过数据接口与上位机5连接，所述上位机5中包含特定的计算程序，控制光开关6内部各个通道的切换。光开关6的进口端到出口端的各个通道插损ilz已被提前测量并作为已知量，具体地，所述光开关6的各通道插损已采用传统手动的方式测得或者其他有效的方式测得，上位机5通过数据接口连接光开关6并记录上述插损值ilz，其中，z大于或等于1且为整数。上位机5包含特定的计算程序，控制待测光量子交换机以及光开关6内部各个通道的切换，并根据每个通道下读取的pi、po以及ilz，计算出待测光量子交换机内部各个通道的插损值并在应用界面显示计算结果。

具体地，待测光量子交换机内部各个通道的插损值是各个通道按顺序独立测量的，上位机5通过上述电学连接可以控制待测光量子交换机内部以及光开关6内部各个通道的切换，当切换到待测光量子交换机的某个通道与光开关6的某个通道导通时，该整体通道进口端的光功率值被第一光功率计3测得，该整体通道出口端的光功率值被第二光功率计4测得，上位机5根据测得的该整体通道进口端和出口端的光功率值以及光开关6内部上述通道的插损值，可以计算并显示出待测光量子交换机上述通道的插损值。例如，参照图5所示，上位机5控制待测光量子交换机内部a-1通道与光开关6的2-o1通道导通时，进口端a的光功率值pa被第一光功率计3测得，出口端o1的光功率值p1被第二光功率计4测得，光开关6的2-o1通道的插损值il21已知，上位机5根据读取的pa、p1以及il21可以计算出待测光量子交换机内部通道a-1的插损值并在应用界面显示计算结果；同理，上位机5控制切换到待测光量子交换机内部a-2通道与光开关6的1-o1通道导通时，待测光量子交换机内部a-2通道的插损值也能快速的在上位机5的应用界面显示。

在一种可行的实施方式中，光量子交换机插损测量系统还包括光纤合束器7，光纤合束器用于将多根输入光纤传输的单模信号光合并到一根多模输出光纤。参照图6所示，光纤合束器7通过光学连接于第二光功率计4与待测光量子交换机之间，所述光纤合束器7的各个进口端通过光学连接待测光量子交换机的各个出口端，光纤合束器7的出口端通过光学连接第二光功率计4的进口端，所述光纤合束器7的进口端数量大于或者等于待测光量子交换机的出口端数量，保证待测光量子交换机的每个出口端均能独立的连接于光纤合束器7的一个进口端，即待测光量子交换机的不同出口端可以分别连接于光纤合束器7的不同进口端。光纤合束器7的内部插损可以忽略不计，上位机5包含特定的计算程序，控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，并根据每个通道下读取的pi与po，计算出待测光量子交换机内部各个通道的插损值并在应用界面显示计算结果。

具体地，待测光量子交换机内部各个通道的插损值是各个通道按顺序独立测量的，上位机5通过上述电学连接可以控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，当切换到待测光量子交换机的某个通道导通时，该通道进口端的光功率值被第一光功率计3测得，光纤合束器7的出口端的光功率值被第二光功率计4测得，光纤合束器7的内部插损忽略不计，上位机5根据测得的上述两种光功率值，可以计算并显示出待测光量子交换机上述通道的插损值。例如，参照图6所示，上位机5控制待测光量子交换机内部a-1通道导通时，待测光量子交换机的出口端1通过光学连接于光纤合束器7的进口端2，待测光量子交换机进口端a的光功率值pa被第一光功率计3测得，光纤合束器7出口端o1的光功率值p1被第二光功率计4测得，光纤合束器7的2-o1通道的插损值忽略不计，上位机5根据读取的pa与p1可以计算出待测光量子交换机内部通道a-1的插损值并在应用界面显示计算结果；同理，上位机5控制切换到待测光量子交换机内部a-2通道导通时，与a-2通道匹配的是光纤合束器7的1-o1通道，此时，待测光量子交换机内部a-2通道的插损值也能快速的在上位机5的应用界面显示。

基于本申请上述实施方式中所提供的光量子交换机插损测量系统，本申请还提供了对应的测量方法。

参照图2所示，光源1发出的光信号经过50:50的光分束器21后分为光功率值相等的两路光信号，其中，一路光信号传递给第一光功率计3，另一路光信号传递给待测光量子交换机，通过第一光功率计测出待测光量子交换机各个进口端的光信号功率值pi，上位机通过数据接口读取上述光功率值pi，其中，i大于或等于1且为整数；待测光量子交换机的各个出口端分别连接第二光功率计4的进口端，通过第二光功率计可以测出待测光量子交换机各个出口端的光信号功率值po，上位机通过数据接口读取上述光功率值po，其中，o大于或等于1且为整数；上位机包含特定的计算程序，控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，并根据每个通道下读取的pi与po，计算出待测光量子交换机内部各个通道的插损值ilc并在应用界面显示计算结果，具体地，ilc＝pi-po，其中，c大于或等于1且为整数。进一步地，待测光量子交换机内部各个通道的插损值是各个通道按顺序独立测量的，上位机5通过电学连接控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，当切换到某个通道导通时，该通道进口端的光功率值被第一光功率计3测得，该通道出口端的光功率值被第二光功率计4测得，上位机5根据测得的该通道进口端和出口端的光功率值，可以计算并显示出该通道的插损值。

在一种可行的方法中，参照图5所示，第二光功率计4的进口端连接光开关6的出口端，光开关6的进口端连接待测光量子交换机的各个出口端，光开关6的进口端到光开关出口端的各个通道插损ilz提前标定并作为已知量，上位机5通过数据接口连接光开关6并记录上述插损值ilz，其中，z大于或等于1且为整数。通过第一光功率计3测出待测光量子交换机各个进口端的光信号功率值pi，上位机5通过数据接口读取上述光功率值pi，其中，i大于或等于1且为整数；通过第二光功率计4可以测得光开关6各通道出口端的光信号功率值po，上位机5通过数据接口读取上述光功率值po，其中，o大于或等于1且为整数；光开关6的进口端到光开关出口端的各个通道插损ilz提前标定并作为已知量，上位机5通过数据接口连接光开关6并记录上述光开关6各通道的插损值ilz，其中，z大于或等于1且为整数；上位机5包含特定的计算程序，控制待测光量子交换机以及光开关6内部各个通道的切换，根据读取的pi、po与ilz，并依据待测光量子交换机与光开关6各通道的连接关系，计算出待测光量子交换机内部各个通道的插损值ilc并在应用界面显示计算结果。具体地，对应待测光量子交换机与光开关6之间各个通道的连接关系，各通道插损值计算公式：ilc＝pi-po-ilz，其中，c大于或等于1且为整数。下面对待测光量子交换机的某一通道的测量过程进行举例说明，参照图5所示，经1分4光分束器22的出口端3分出的光信号经过50：50的光分束器21分成光功率值相等的两束光信号，通过第一光功率计3测出该光功率值pa；待测光量子交换机的出口端1连接光开关6的进口端2，光开关6的进口端2到光开关6的出口端o1的内部通道插损值il21已提前标定并作为已知量，光开关6的出口端o1连接第二光功率计4的进口端in1，通过第二光功率计4测出光开关6出口端o1输出的光功率值p1；上位机根据该单通道的连接关系以及读取和记录的光功率值pa、il21和p1，可以计算并显示出待测光量子交换机进口端a到出口端1之间的插损值：ila1＝pa-p1-il21，同理，采用同样的方法可快速测得待测光量子交换机其他通道的插损值。

在一种可行的方法中，参照图6所示，第二光功率计4的进口端连接光纤合束器7的出口端，光纤合束器7的进口端连接待测光量子交换机的各个出口端。通过第一光功率计3测出待测光量子交换机各个进口端的光信号功率值pi，上位机5通过数据接口读取上述光功率值pi，其中，i大于或等于1且为整数；通过第二光功率计4可以测得光纤合束器7各通道出口端的光信号功率值po，上位机5通过数据接口读取上述光功率值po，其中，o大于或等于1且为整数；光纤合束器7的内部插损可以忽略不计，上位机5包含特定的计算程序，控制待测光量子交换机内部各个通道的切换，根据读取的pi与po，并依据待测光量子交换机各通道的连接关系，计算出待测光量子交换机内部各个通道的插损值ilc并在应用界面显示计算结果。具体地，对应待测光量子交换机与光纤合束器7之间各个通道的连接关系，各通道插损值计算公式：ilc＝pi-po，其中，c大于或等于1且为整数。下面对待测光量子交换机的某一通道的测量过程进行举例说明，参照图6所示，经1分4光分束器22的出口端3分出的光信号经过50：50的光分束器21分成光功率值相等的两束光信号，通过第一光功率计3测出该光功率值pa；待测光量子交换机的出口端1连接光纤合束器7的进口端2，光纤合束器7的进口端2到光纤合束器7的出口端o1的内部通道插损值忽略不计，光纤合束器7的出口端o1连接第二光功率计4的进口端in1，通过第二光功率计4测出光纤合束器7出口端o1输出的光功率值p1；上位机根据该单通道的连接关系以及读取和记录的光功率值pa和p1，可以计算并显示出待测光量子交换机进口端a到出口端1之间的插损值：ila1＝pa-p1，同理，采用同样的方法可快速测得待测光量子交换机其他通道的插损值。

需要说明的是，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的和区别类似的对象，两者之间并不存在先后顺序，也不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

以上结合具体实施方式和范例性实例对本申请进行了详细说明，不过这些说明并不能理解为对本申请的限制。本领域技术人员理解，在不偏离本申请精神和范围的情况下，可以对本申请技术方案及其实施方式进行多种等价替换、修饰或改进，这些均落入本申请的范围内。本申请的保护范围以所附权利要求为准。