痕量探测设备的制作方法

技术总结
本发明公开了一种痕量探测设备。所述痕量探测设备包括：盒体，所述盒体包括主体框架和顶板，所述顶板和主体框架构成全封闭的腔体；位于所述腔体内且在腔体内的第一侧的离子迁移管组件；以及位于所述腔体内且在腔体内的第二侧的前放及高压电路板，所述第二侧与第一侧相对。相对。相对。


技术研发人员：张清军 李元景 陈志强 李荐民 刘以农 刘耀红 赵艳琴 严李李 曹彪 马秋峰 李鸽
受保护的技术使用者：清华大学
技术研发日：2019.07.23
技术公布日：2021/2/8