1.一种隔膜的光学检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
s1：提供一种隔膜的光学检测机构，所述隔膜的光学检测机构包括图像获取装置(200)及检测光源(300)，所述检测光源(300)位于待检测的隔膜(400)的正下方，包括第一光源(303)和第二光源(304)，所述图像获取装置(200)位于所述待检测的隔膜(400)的上方；
s2：依次驱动所述第一光源(303)和所述第二光源(304)分别向所述待检测的隔膜(400)发射第一光线和第二光线，且所述第一光线与所述第二光线照射于所述待检测的隔膜(400)的相同位置；
s3：驱动所述图像获取装置(200)分别获取所述第一光线照射时及所述第二光线照射时所述待检测的隔膜(400)的第一图像和第二图像；
s4：根据所述第一图像与所述第二图像，判断所述待检测的隔膜(400)是否存在缺陷。
2.根据权利要求1所述的隔膜的光学检测方法，其特征在于，所述步骤s2包含步骤：
s21：驱动所述第一光源(303)向所述待检测的隔膜(400)发出第一光线；
s22：关闭所述第一光源(303)；
s23：驱动所述第二光源(304)向所述待检测的隔膜(400)发出第二光线；
s24：关闭所述第二光源(304)。
3.根据权利要求2所述的隔膜的光学检测方法，其特征在于，所述步骤s21中，所述第一光线垂直所述待检测的隔膜(400)；所述步骤s23中，所述第二光线与所述第一光线的夹角为5°至45°。
4.根据权利要求1所述的隔膜的光学检测方法，其特征在于，所述步骤s2中，依次驱动所述第一光源(303)和所述第二光源(304)的时间间隔为20微秒至50微秒。
5.根据权利要求1所述的隔膜的光学检测方法，其特征在于，所述第一光源(303)发出第一光线的持续时间大于20微秒；所述第二光源(304)发出第二光线的持续时间大于20微秒。
6.根据权利要求1所述的隔膜的光学检测方法，其特征在于，所述图像获取装置(200)包括共线设置且线扫辐射范围交叉的两组相机机构(210)；所述步骤s3包含步骤：
s31：驱动两组相机机构(210)同时获取所述第一图像；
s32：驱动两组相机机构(210)同时获取所述第二图像。
7.根据权利要求1所述的隔膜的光学检测方法，其特征在于，还包含步骤s5：若所述步骤s4中判定所述待检测的隔膜(400)存在缺陷，则判断所述缺陷的类型。
8.根据权利要求7所述的隔膜的光学检测方法，其特征在于，所述步骤s4还包含步骤：
s41：循环n次所述步骤s2和所述步骤s3，获得行高为2n的组合图像；
s42：拆分所述组合图像的奇偶行，分别获得所述第一光源(303)照射下的所述第一图像的行高为n的第一整图及所述第二光源(304)照射下的所述第二图像的行高为n的第二整图；其中n为正整数。
9.根据权利要求8所述的隔膜的光学检测方法，其特征在于，所述步骤s4还包含步骤s43：根据所述第一整图及/或所述第二整图，判断所述待检测的隔膜(400)是否存在缺陷。
10.根据权利要求9所述的隔膜的光学检测方法，其特征在于，所述步骤s5中：对比所述第一整图与所述第二整图中相同位置的缺陷是否存在差异，以判断缺陷的类型。