一种闪烁体的余辉测试装置的制作方法

本发明涉及射线检测技术领域，特别涉及一种闪烁体的余辉测试装置。

背景技术：

在x射线检查系统中，基于碘化铯晶体的探测器的余辉问题比较严重，尤其对于图像穿透指标造成较大影响。为了提高x射线检查系统性能指标，需要对探测器的余辉进行测试，用于筛选探测器，或用于图像数据计算时的余辉扣除。

在现有技术中，1)余辉测试装置一般采用皮带带动金属滑块来模拟x射线被快速遮挡的过程。每次金属滑块先加速启动，在x射线缝隙前以设定的速度匀速经过缝隙，然后停止并自动退回出发位置。在透射x射线的缝隙前后一定距离上设置有光电传感器，以感应金属滑块的位置用于启动停止x射线源。每次测试，金属滑块都有一个启动停止的过程，其运动不容易控制平稳。x射线源也有一个启动停止的过程，工作效率低，每次余辉探测器接收的剂量有偏差，进而导致余辉测试数据不准确；2)中国专利文献cn107861146a闪烁体的余辉测试装置公开了一种采用转动体对射线进行通断，通过射线的通槽径向设置，穿过转动体的圆心。该专利文献也发现，如果通槽为直槽时，因转动体旋转的原因，射线没有被立刻关断，而存在因厚度变化而带来的射线强度变化。虽然该专利文献也发现了这一问题并采用喇叭形的开槽进行弥补，还是存在转动体结构复杂、加工难度高、难以对准控制的缺陷。

技术实现要素：

本发明的发明目的是提供一种闪烁体的余辉测试装置，采用循环匀速转动连杆机构带动金属滑块对被测闪烁体接收射线的通断进行控制，使射线的照射更为均匀稳定，提高余辉测试次数。

本发明的具体技术方案是一种闪烁体的余辉测试装置，包括平台、转盘、摇杆长度调节器、摇杆、金属滑块、轨道、射线发生器和余辉探测器，其特征在于，

所述的转盘和轨道安装在所述的平台，转盘的旋转轴垂直于平台，所述的摇杆一端铰接在转盘的圆周边缘处，摇杆的另一端铰接在所述的金属滑块的侧面，所述的金属滑块下表面具有与轨道配合滑槽，能够使金属滑块沿轨道滑动，所述的转盘、摇杆和金属滑块形成对心式曲柄滑块机构，

所述的摇杆长度调节器用于微调摇杆的长度，

所述的平台上开有平台通槽，被测闪烁体放置在平台通槽的正下方，所述的射线发生器安装在平台通槽的正上方，射线发生器发出的射线能够穿过平台通槽照射到被测闪烁体上，

所述的金属滑块上开有主测试滑块通槽，在金属滑块运动到曲柄滑块机构的滑块的中间位置时，所述的主测试滑块通槽位于平台通槽的正上方，能够使射线发生器发出的射线顺序穿过主测试滑块通槽、平台通槽照射到被测闪烁体上，

所述的余辉探测器用于接收被测闪烁体的余辉，

在进行余辉测试时，运动中的金属滑块总是覆盖在平台通槽的上方。

更进一步地，所述的金属滑块上的主测试滑块通槽两侧，还对称均布有多条平行的副测试滑块通槽，如果仅用主测试滑块通槽进行测试，则用铅块将副测试滑块通槽封闭。

更进一步地，所述的摇杆长度调节器具有上开孔和下开孔，上开孔和下开孔内分别具有旋向相反的内螺纹，所述的摇杆分为上段和下段二段，下段一端铰接在转盘的圆周边缘处，下段的另一端具有外螺纹并旋入摇杆长度调节器的下开孔，上段一端具有外螺纹并旋入摇杆长度调节器的上开孔，上段的另一端铰接在所述的金属滑块的侧面。

更进一步地，所述的主测试滑块通槽或副测试滑块通槽可以放入不同厚度铜块或铝块，用于调节照射到被测闪烁体上的射线强度。

更进一步地，还包括电动机，所述的转盘在电动机的驱动下匀速转动。

本发明的有益效果是1)本发明的闪烁体的余辉测试装置具有循环匀速转动连杆机构带动金属滑块对被测闪烁体接收射线的通断进行控制，金属滑块上开有通过射线的长槽，通过的射线剂量更为稳定，通断更为快捷均匀；2)驱动滑块的连杆机构为对心式曲柄滑块机构，作为曲柄的转盘在电动机驱动下匀速转动，能够保证金属滑块的运动稳定性；3)金属滑块上的主测试滑块通槽在滑块运动的中间位置上处于平台通槽的正方向，使照射被测闪烁体上的射线剂量最大，在此位置上，滑块的速度为最大值，其加速度为0，能使射线通断的最为平稳；4)曲柄滑块机构的摇杆上带有长度微调装置，可以精确调节滑块通槽与平台通槽之间的位置关系，增加余辉测试的准确性；5)金属滑块上还设置有多个副测试滑块通槽，通过与转盘转动速度配合，增加余辉测量的次数；6)滑块通槽内可以放入不同厚度铜块或铝块，用于调节照射到被测闪烁体上的射线强度。

附图说明

图1为本发明的闪烁体的余辉测试装置的结构示意图。

图中，1平台，2转盘，3摇杆长度调节器，4摇杆，5金属滑块，6轨道，7主测试滑块通槽，8副测试滑块通槽，9平台通槽。

具体实施方式

下面结合说明书附图对本发明的具体技术方案作进一步地描述。

如附图1所示，本发明的一种闪烁体的余辉测试装置，包括平台1、转盘2、摇杆长度调节器3、摇杆4、金属滑块5、轨道6、射线发生器、余辉探测器和电动机。

所述的转盘2和轨道6安装在所述的平台1，转盘2的旋转轴垂直于平台1，所述的转盘2在电动机的驱动下匀速转动。所述的摇杆4一端铰接在转盘2的圆周边缘处，摇杆4的另一端铰接在所述的金属滑块5的侧面，所述的金属滑块5下表面具有与轨道配合滑槽，能够使金属滑块5沿轨道6滑动，所述的转盘2、摇杆4和金属滑块5形成对心式曲柄滑块机构。采用对心式曲柄滑块机构在转盘匀速转动时，可以使金属滑块5的运动更为平稳。

所述的摇杆长度调节器3用于微调摇杆4的长度。所述的摇杆长度调节器3具有上开孔和下开孔，上开孔和下开孔内分别具有旋向相反的内螺纹，所述的摇杆4分为上段和下段二段，下段一端铰接在转盘2的圆周边缘处，下段的另一端具有外螺纹并旋入摇杆长度调节器3的下开孔，上段一端具有外螺纹并旋入摇杆长度调节器3的上开孔，上段的另一端铰接在所述的金属滑块5的侧面。

所述的平台1上开有平台通槽9，被测闪烁体放置在平台通槽9的正下方，所述的射线发生器安装在平台通槽9的正上方，射线发生器发出的射线能够穿过平台通槽9照射到被测闪烁体上。

所述的金属滑块5上开有主测试滑块通槽7，在金属滑块5运动到曲柄滑块机构的滑块的中间位置时，所述的主测试滑块通槽7位于平台通槽的正上方，能够使射线发生器发出的射线顺序穿过主测试滑块通槽7、平台通槽9照射到被测闪烁体上。此时金属滑块5的速度为最大值，其加速度为0，能使射线通断的最为平稳。为使金属滑块5在曲柄滑块机构运动中的中间位置，正好主测试滑块通槽7位于平台通槽9正上方，可微调摇杆长度调节器3得以实现。

所述的金属滑块5上的主测试滑块通槽7两侧，还对称均布有多条平行的副测试滑块通槽8，如果仅用主测试滑块通槽7进行测试，则用铅块将副测试滑块通槽8封闭。所述的主测试滑块通槽7或副测试滑块通槽8可以放入不同厚度铜块或铝块，用于调节照射到被测闪烁体上的射线强度。

所述的余辉探测器用于接收被测闪烁体的余辉。

在进行余辉测试时，运动中的金属滑块5总是覆盖在平台通槽的上方。

对本发明的测试装置的具体实施例机构的运动进行分析，转盘2的转动轴心到摇杆4固定点距离为a。当金属滑块5处于最上边位置时，转盘2的轴心、转盘2上与摇杆4的连接点、摇杆4和金属滑块5的连接点在一条直线上。金属滑块5处于最上边极限位置时，下边缘刚好遮挡住平台通槽9。平台通槽9的宽度为δ，δ的大小保证透过的x射线覆盖探测器宽度，且δ远小于a。金属滑块5的宽度为b，且b大于2a。金属滑块5上在2a的宽度内开有平行于平台通槽9的n个滑块通槽，缝隙间距离f。

金属滑块5上开的多个滑块通槽可用金属板堵塞，且金属板厚度可选。射线发生器为x射线源，位于平台通槽9的垂直上方，射线覆盖整个平台通槽9的长度。转盘2以角速度ω匀速转动。x射线源连续出射线，则在转盘2从n点转到p点再到q点的过程，n个滑块通槽正好依次与平台通槽9重合，透过x射线。转盘2继续由q点转到m点回到n点时，n个滑块通槽依次又与平台通槽9重合，透过x射线。在转盘2转动一周的过程中，透过x射线2n次。在不同的滑块通槽上加盖不同厚度的铜或铝金属板，使得透射过的x射线强度不同，可以获得不同x射线强度下余辉情况。

转盘2由n点转到p点恰好转过90°，此时金属滑块5移动的距离：则当h为2a时：s＝1.268a；当h为3a时：s＝1.172a；当h为4a时：s＝1.127a。

可见，当转盘2上的摇杆4的铰接点由图示的顶点转过90°时，金属滑块5移动的距离大于a，随着摇杆4的长度加长，此距离变小而趋近于a；且此时金属滑块5的运动速度由大于a·ω而趋近于a·ω。因此通过摇杆4的摇杆长度调节器3调节其长度，可改变金属滑块5往复运动过程的速度，也可以精确调整金属滑块5的位置。

虽然本发明已经以较佳实施例公开如上，但实施例并不是用来限定本发明的。在不脱离本发明之精神和范围内，所做的任何等效变化或润饰，同样属于本发明之保护范围。因此本发明的保护范围应当以本申请的权利要求所界定的内容为标准。